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[发明专利]激光焊接装置以及激光焊接方法-CN201911075051.X有效
发明人：横山润;浦岛毅吏;东大智 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： B23K26/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光焊接装置，包括：向被焊接材料的焊接部照射激光的激光振荡器；生成表示由上述焊接部反射的测定光和参照光的干涉光的强度的干涉信号的光干涉仪；以及基于上述干涉信号，生成表示上述焊接部中的焊接的行进方向中的距离、上述焊接的深度、以及上述干涉信号的强度之间的关系的二维断层图像数据，从上述二维断层图像数据，提取确定的范围内的确定深度断层图像数据，基于上述确定深度断层图像数据中的上述干涉信号的强度，导出每个上述距离的深度的导出部。
激光焊接装置以及方法

[发明专利]激光焊接装置以及激光焊接方法-CN201980004622.2有效
发明人：酒井徹;樱井通雄;浦岛毅吏;东大智 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2019-01-28 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：通过激光(L)来对焊接部(35)进行焊接的激光焊接装置(10)，具备：激光照射头(20)，使激光(L)与波长不同于激光(L)的测定光(S)重合为同轴并向焊接部(35)进行照射；第1平行平板以及第2平行平板，使测定光(S)的照射位置进行变化，以使得在规定的焊接路径上移动的旋转中心的周围以比激光(L)的光斑直径的1/2小的旋转半径进行转动移动；测定部(14)，基于测定光(S)的转动移动中从激光照射头(20)进行照射并在焊接部(35)反射的测定光(S)，对焊接部(35)的熔入深度进行反复测定；和判定部(17)，使用一定期间内被测定部(14)测定的多个熔入深度的测定值，使一定期间的开始时刻偏移并进行焊接部(35)的熔入深度的判定。
激光焊接装置以及方法

[发明专利]激光焊接方法-CN201980025333.0有效
发明人：樱井通雄;酒井彻;久保田健太;浦岛毅吏;东大智 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2019-03-19 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： B23K26/24 文献下载
摘要：使激光(L)以及测定光(S)的照射位置向前方、右方、后方、左方移动并进行激光焊接，针对各个方向，测定焊接部(35)的熔深。并且，将测定出比基准值小的测定值的方向判定为光轴偏离方向，在向光轴偏离方向进行激光焊接的情况下，对激光焊接中被测定的测定值相加修正值。
激光焊接方法

[发明专利]激光加工装置以及激光加工方法-CN202110934141.0在审
发明人：横山润;浦岛毅吏;武智洋平 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2021-08-13 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明提供一种激光加工装置以及激光加工方法，该激光加工装置具有：激光振荡器，振荡向被加工物的加工面的加工点照射的加工用激光；耦合镜，使所述加工用激光以及向所述加工点照射的测定光朝向所述加工点偏转或者透过；测定光偏转单元，使所述测定光向所述耦合镜的入射角变化；透镜，使所述加工用激光以及所述测定光聚光于所述加工点；控制部，对所述激光振荡器以及所述测定光偏转单元进行控制；计测处理部，利用基于由于在所述加工点被反射的测定光和参照光的光路差而产生的干涉的光干涉信号，计测通过照射所述加工用激光而在所述加工点产生的键孔的深度；和光束位置测定单元，对所述加工用激光和所述测定光的位置进行测定。
激光加工装置以及方法

[发明专利]激光加工装置、激光加工方法以及修正数据生成方法-CN202010287867.5在审
发明人：武智洋平;横山润;浦岛毅吏 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2020-04-13 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： B23K26/36 文献下载
摘要：本发明提供一种激光加工装置、激光加工方法以及修正数据生成方法，能够进行准确的键孔的深度测定。利用的激光加工装置具有：激光振荡器，对被加工物的表面的应被加工的加工点振荡加工用激光；光干涉仪，对加工点射出测定光，生成基于由在加工点被反射的测定光和参照光的光路差而产生的干涉的光干涉强度信号；第1反射镜，使加工用激光及测定光的前进方向变化；第2反射镜，使测定光向第1反射镜的入射角变化；透镜，使加工用激光及测定光聚光到加工点；存储器，存储修正完毕加工用数据；控制部，基于修正完毕加工用数据来控制激光振荡器、第1反射镜及第2反射镜；计测处理部，基于光干涉强度信号来导出由加工用激光在加工点产生的键孔的深度。
激光加工装置方法以及修正数据生成

[发明专利]激光焊接装置及激光焊接方法-CN201811249862.2在审
发明人： 浦岛毅吏 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-10-25 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： B23K26/082 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光焊接装置及激光焊接方法。本发明的激光焊接装置具备：激光输出单元，其向被焊接件照射激光；测量光光源，其输出具有与激光不同的波长的测量光，在输出时使测量光的波长周期性地变化；光学部件，其使激光与来自测量光光源的测量光重合于同轴，利用激光对形成于被焊接件的焊接部进行照射；以及光学干涉仪，其基于因由焊接部反射的测量光与参考光的光程差而产生的干涉，来测量焊接部的小孔深度，测量光光源的光频的扫描速度的平均值为2000PHz/秒以上。
测量光激光焊接装置焊接部激光光源被焊接件激光焊接照射激光输出单元波长周期性光学干涉仪光学部件输出参考光光程差波长重合反射光频同轴小孔扫描测量干涉

[发明专利]激光焊接装置及激光焊接方法-CN201811247688.8在审
发明人：深江崇行;浦岛毅吏;三岛俊之;酒井彻;樱井通雄 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-10-25 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： B23K26/21 文献下载
摘要：本发明涉及激光焊接装置及激光焊接方法。本发明的激光焊接装置包括：激光输出单元，向被焊接件的焊接部照射激光；光学干涉仪，基于因测量光与参考光之间的光程差而产生的干涉来测定焊接部的焊透深度，所述测量光的波长不同于激光的波长，所述测量光与激光同轴地重合而照射到焊接部并由焊接部反射；以及保护光学部件，在被焊接件与激光输出单元的光程间，相对于与测量光的光轴垂直的面倾斜而配置。
测量光焊接部激光焊接装置激光输出单元激光被焊接件激光焊接波长照射光学干涉仪光学部件光轴垂直参考光光程差重合光程焊透同轴反射干涉配置

[发明专利]激光焊接装置及激光焊接方法-CN201210126667.7有效
发明人： 浦岛毅吏;青木祥平;壁谷泰宏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2012-04-26 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： B23K26/20 文献下载
摘要：本发明提供能高精度地评价焊接部质量的激光焊接装置和激光焊接方法。本发明的激光焊接装置包括：激光光源，该激光光源射出激光；第一光学构件，该第一光学构件使具有与所述激光不同波长的物体光和所述激光成为同轴并对焊接部进行照射；第二光学构件，该第二光学构件使所述焊接部中的所述物体光的光点直径比所述激光的光点直径要大；光干涉仪，该光干涉仪向所述第一光学构件射出所述物体光，经由所述第一光学构件检测出被所述焊接部反射的所述物体光，基于该检测出的所述物体光生成电信号；测定部，该测定部基于所述电信号，测定所述焊接部的熔化深度；以及评价部，该评价部基于所述测定部所测定的所述焊接部的熔化深度，对所述焊接部的焊接是否良好进行评价。
激光焊接装置方法

[发明专利]使用了干涉的膜厚计测装置及使用了干涉的膜厚计测方法-CN201080018184.4有效
发明人：追风宽岁;浦岛毅吏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2010-12-22 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明的膜厚计测装置将表面形成有透明膜(16)的基板(103)载置于载置部(100)，利用半透半反镜(102)对来自光源(101)的光进行分支而使光向基板表面及参照面照射，并使来自基板表面及参照面的反射光重合而形成干涉光，利用摄像装置(105)拍摄干涉光，基于其拍摄结果利用运算装置(106)算出透明膜的膜厚。运算装置具有：预先对向透明膜的入射光与反射光之间的第一相位光谱的变化量进行数据库化而作成的光谱变化量数据库(106s)；对摄像装置拍摄到的透明膜的干涉信号进行傅立叶变换而算出透明膜的第二相位光谱的第二相位光谱算出部(106b)；从数据库中选择与第二相位光谱一致度最高的第一相位光谱，使用所选择出的第一相位光谱来计测透明膜的膜厚的膜厚算出部(106d)。
使用干涉膜厚计测装置方法

[发明专利]感官检查装置及感官检查方法-CN201010592037.X有效
发明人：大森丰;武智洋平;浦岛毅吏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2010-12-10 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明的感观检查装置及感观检查方法，由于是使用从特征量空间的原点起分布在马氏距离的初始样品，对成为合格与否的判定基准的合格与否判定的边界线进行学习，从而能仅使用边界附近的初始样品进行学习，因此能以较少的学习用的样品来决定最合适的合格与否的判定基准。另外，由于在使用疑似样品进行学习时，向进行了误判定的疑似样品附加加权，从而不新追加疑似样品，就能在机械性的判定工序中再次对误判定的疑似样品进行判定，因此，能以较少的学习用样品来决定最适合的合格与否判定基准。
感官检查装置方法

[发明专利]表面形状测量装置及方法-CN200980101293.X有效
发明人：追风宽岁;浦岛毅吏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2009-09-29 - 公布日： 2010-11-17 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明提供一种表面形状测量装置，其使利用双波长移相干涉术的物体的表面形状测量装置的测量精度提高。其具备：低相干光源的光源(101)、透射波长不同的多个波长滤波器(103)、角度控制部(104c)、解析部(114)，并且，通过在实施双波长移相干涉术时由解析部(114)检测出双波长的波长差且对在一个波长运算下的波长值和相位值进行修正，来防止条纹次数的运算错误。接着，通过控制波长滤波器(103)的角度，使实际的波长差与设计值一致。由此，始终可使双波长的波长差控制为恒定，从而即使存在由温度变化或时间推移所引起的波长变动也能够高精度地测量表面形状。
表面形状测量装置方法

[发明专利]角度测定装置及方法-CN200680019255.6无效
发明人： 浦岛毅吏;高田和政;古田宽和;宇津吕英俊 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-09-20 - 公布日： 2008-05-28 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明提供一种角度测定装置及测定方法，其以透过型衍射光栅将从准直透镜射出的光衍射为不同次数的光，并将衍射后的光向被测定物的平坦面照射，在由被测定物的平坦面反射后，使再次透过透过型衍射光栅的光在偏离出射光的光轴的位置处成像，基于该成像位置与成像的光的次数，测定被测定物相对于准直透镜的光轴的角度，由此能够具有高分辨率地测定大范围的角度。
角度测定装置方法

[发明专利]光学部件的检查方法以及检查装置-CN200610005790.8无效
发明人：高田和政;宇津吕英俊;古田宽和;浦岛毅吏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-01-06 - 公布日： 2006-07-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：提供一种能够高精度地评价光学部件的性能的检查方法。检查方法中，根据透射光学部件(18)的光(16)，形成具有不同相位的第1和第2光(24)、(26)，使第1和第2光产生干涉形成干涉区域(30)。在干涉区域(30)，设定直线(66)、直线(70)、直线(72)，求出各直线(72)上的光强度的分布。而且，求出与最大的光强度对应的频率。进而，根据针对直线(72)各自所求出的多个频率，求出近似直线或者近似曲线。并且，基于近似的直线或者曲线的系数评价光学部件的像差。
光学部件检查方法以及装置

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