专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一套基于定标量热法的量热法装置-CN202120798027.5有效
  • 汪晶慧;黄福镔;陈为 - 福州大学
  • 2021-04-19 - 2021-11-26 - G01K17/00
  • 本实用新型提出一套基于定标量热法的量热法装置,所述测量装置包括装有热交换工质的绝热罐,其罐口处覆有以绝热材料成型的罐盖,当进行定标作业时,罐内的测量位处设有向电热元件供电的定标供电线缆;当进行热损耗测量时,测量位处设有向磁性元件供电的待测件供电线缆;所述定标供电线缆、待测件供电线缆均从罐盖穿出;所述定标供电线缆经第二开关与直流电源相连;所述待测件供电电缆经第一开关与高频交流激励电源相连;所述罐盖处还穿置有温度传感器;所述温度传感器的测量端浸于热交换工质中;本实用新型能精确测量磁芯元器件的热损耗。
  • 一套基于标量量热法装置
  • [发明专利]一套基于定标量热法的量热法装置及测量方法-CN202110418833.X在审
  • 汪晶慧;黄福镔;陈为 - 福州大学
  • 2021-04-19 - 2021-07-16 - G01K17/00
  • 本发明提出一套基于定标量热法的量热法测量方法,包括以下步骤;步骤S1、以隔热容器为测量容器,加入预设量的热交换工质;步骤S2、把预设功率的电热元件置于隔热容器的测量位处并浸没于热交换工质中,以直流电压源对电热元件供电使之加热热交换工质达到定标时长,记录电热元件的电流值并计算其发热功率,并获取热交换工质在受热期间的温升量,以发热功率和温升量为定标的标定数据;步骤S3、多次改变对电热元件的供电电压以改变其发热功率来获得多组标定数据,得出定标后的功率温升数学模型;步骤S4、把磁性元件置于测量位并使其按定标时长工作,以热交换工质的温升量代入功率温升数学模型来计算其热损耗;本发明能精确测量磁芯元器件的热损耗。
  • 一套基于标量量热法装置测量方法
  • [发明专利]一种基于阻抗分析仪测量磁芯损耗的方法-CN201811188203.2有效
  • 陈为;柳百毅;汪晶慧 - 福州大学
  • 2018-10-12 - 2021-04-27 - G01R27/26
  • 本发明涉及一种基于阻抗分析仪测量磁芯损耗的方法,基于阻抗分析仪自动平衡电桥的高精度阻抗测量原理,结合交流功率计法中双绕组测量磁芯损耗的概念,提出了一种利用磁芯频率阻抗特性来表征磁芯损耗,并能够在大信号励磁和宽频带范围内测量磁芯损耗的方法。该方法由阻抗分析仪、功率放大器,宽频带高精度的分压器和分流器,以及待测磁件构成,且待测磁件采用双绕组,依据阻抗分析仪高精度阻抗测量的特点,可直接测量高功率密度下的磁芯频率阻抗特性,并以此表征磁芯单位电流损耗,具有较高的精度。
  • 一种基于阻抗分析测量损耗方法
  • [发明专利]一种用于磁芯参数测量的环形线圈-CN202010439320.2在审
  • 汪晶慧;陈为 - 福州大学
  • 2020-05-22 - 2020-07-28 - G01R27/26
  • 本发明涉及一种用于磁芯参数测量的环形线圈,包括环形磁芯与绕组,其绕组包括围绕磁环径向截面绕制的第一部分以及沿着磁环圆周方向返绕一圈的第二部分。本发明提出的环形线圈绕制方式能够消除外部磁场以及环形电感线圈磁场自身泄露对空心电感或磁芯电感参数测量的影响,从而保证环形磁芯样品测量的准确性与可靠性。同时本发明还提供了另一种技术方案能够消除由于匝数增加而导致的寄生电容的增加。
  • 一种用于参数测量环形线圈
  • [发明专利]测量磁性元件损耗的比对量热装置及其测量方法-CN201510413972.8在审
  • 陈为;陈开宝;汪晶慧 - 福州大学
  • 2015-07-15 - 2015-09-16 - G01R21/02
  • 本发明涉及一种测量磁性元件损耗的比对量热装置,包括一绝热的测量容器与比对容器,测量容器与比对容器内皆设置有相同的磁性元件、比对电阻、温度传感器及绝缘导热工质,磁性元件、比对电阻及温度传感器皆设置于各自的绝缘导热工质内,测量容器内的磁性元件经第二继电器与一激励源连接,比对容器内的比对电阻经第一继电器与一直流源连接,所述第一继电器、第二继电器及测量容器与比对容器内的温度传感器皆与一单片机的I/O接口连接,所述直流源与所述单片机的AD接口连接,所述单片机的USART接口与一上位机连接。本发明还涉及一种测量磁性元件损耗的比对量热装置的测量方法。本发明实现了磁性元件在任意激励下损耗功率的精确测量。
  • 测量磁性元件损耗装置及其测量方法
  • [发明专利]一种磁芯损耗测量的定标方法-CN201410417495.8在审
  • 陈为;叶建盈;汪晶慧 - 福州大学
  • 2014-08-23 - 2014-11-05 - G01R27/26
  • 本发明涉及一种磁性元件损耗测量的定标方法,采用一DC/AC逆变电路作为测试电路以及励磁激励源,以一已知损耗的定标电感作为所述测试电路的被测件,测量励磁下所述测试电路的直流输入功率,将所述直流输入功率扣除所述定标电感的已知损耗,获得所述测试电路本身的固有损耗,针对所述测试电路的固有损耗特性建立所述固有损耗的公式,根据所述测试电路的固有损耗拟合出所述公式中的各项系数,形成所述测试电路的固有损耗定标模型,再进一步根据测量实际被测件时的所述测试电路的输入直流功率,扣除所述测试电路本身的固有损耗,获得所述实际被测件的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度,而且测量方便简单,成本低。
  • 一种损耗测量定标方法
  • [发明专利]一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法-CN201310641871.7有效
  • 陈为;叶建盈;汪晶慧 - 福州大学
  • 2013-12-04 - 2014-03-12 - G01R27/02
  • 发明涉及一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法。将气隙去除,构成无气隙磁元件,沿原气隙位置绕制气隙等效绕组,气隙等效绕组的宽度等于对应气隙的宽度,根据气隙等效绕组的磁动势可以等效替代气隙磁压降作用的原理,以保持等效前、后的磁元件绕组窗口内的磁场分布不变,将气隙等效绕组的端口短路,采用两端交流阻抗测量仪器测得无气隙磁元件励磁绕组两端的交流电阻,然后按一定规律扣除气隙等效绕组折算反射到励磁绕组侧的电阻,得到所述有气隙磁元件励磁绕组的交流电阻。该方法不仅可以方便、有效地评估对比不同气隙设计方案对励磁绕组交流电阻的影响,也可以准确地测量有气隙磁元件的绕组交流电阻,测量方便、快捷、成本低。
  • 一种测量评估有气元件绕组交流电阻方法
  • [发明专利]一种磁性元件损耗测量方法-CN201310144862.7有效
  • 陈为;杨向东;叶建盈;汪晶慧 - 福州大学
  • 2013-04-23 - 2013-07-31 - G01R33/12
  • 本发明涉及一种磁性元件损耗测量方法,采用一功率变换器作为测试电路,在工况下测量所述测试电路的输入功率,然后选择所述测试电路中磁性元件的两端点并将被测磁性元件并联在所述两端点,之后测量并联被测磁性元件后所述测试电路的输入功率,并联被测磁性元件前后所述测试电路的输入功率之差即为所述被测磁性元件在工况下的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度,而且测量方便简单,成本低。
  • 一种磁性元件损耗测量方法

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