专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]机载电子产品故障预测方法-CN202010233529.3有效
  • 梁天辰;文佳;王晓 - 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
  • 2020-03-30 - 2023-08-04 - G06F18/25
  • 本发明公开的一种机载电子产品故障预测方法,旨在提供一种能够根据产品当前状态参数预测退化演变趋势的方法。本发明通过下述技术方案予以实现:基于多深度置信网络DBN融合,采集机载电子产品关键组件的表征参数,获取机载电子产品历史数据和实时监测数据,通过预设传感器采集机载电子产品实时监测数据;根据设备历史数据训练多个特异性明显的深度置信网络DBN模型,然后利用部分实时监测数据对训练后的DBN模型组进行迁移学习;再根据融合算法和实时监测数据计算各个DBN模型的融合权重,得到多模型融合的预测框架;利用预测框架和传感器实时发回的监测数据预测机载电子产品的降级演化,根据预测分析得到的故障预测结果进行维修决策。
  • 机载电子产品故障预测方法
  • [发明专利]航电产品剩余寿命预测方法-CN202210033938.8有效
  • 梁天辰;文佳;周静宇;陈擎宙 - 中国电子科技集团公司第十研究所
  • 2022-01-12 - 2023-07-25 - G06Q10/04
  • 本发明公开的一种航电产品剩余寿命预测方法,能够提高剩余寿命预测精度和可靠度。本发明通过下述技术方实现:预设传感器获取真实航空电子产品和相似航空电子产品的功性能指标数据,进行静态特征提取和归一化处理,将功性能指标数据构建为样本集;初始化多个LSTM时序模型组成LSTM模型组;在迁移学习中,用真实产品样本集对各LSTM时序模型进行迁移训练和目标域的全局精调;根据改进的投票加权算法计算融合权重;定义了完整预测框架的标准接口,将完整预测框架功能拆分封装在样本构建模块、改进LSTM模型构建模块和预测框架集成模块内,预测目标产品降级演化和剩余寿命,实现预测框架精准预测目标产品降级演化和剩余寿命。
  • 产品剩余寿命预测方法
  • [发明专利]监测数字通信模块失效模式的方法-CN202110596443.1有效
  • 周靖宇;文佳;罗海明;梁天辰;陈擎宙 - 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
  • 2021-05-31 - 2023-02-03 - G06F11/22
  • 本发明提出一种监测数字通信模块失效模式的方法,监测效率高、分析正确率高、输出直观性好。本发明通过下述技术方案实现:在数字通信模块拓扑图中搜索失效模式与监测模式分析所需的信息,生成一个关于被分析数字通信模块的失效模式与监测实现的拓扑图;基于拓扑图搜索的监测数字通信模块失效模式的分析,建立被分析模块图形与失效监测的映射关系,生成被分析模块的固有类失效模式,根据输入输出关系与铰链关系进行联合判断推理,生成被分析模块的关联类失效模式;在已构建的拓扑图基础上,结合失效模式的固有和关联类别,关联合理的监测模式,输出图形化的失效模式与监测实现分析结论文件,实现监测数字通信模块失效模式的自动识别。
  • 监测数字通信模块失效模式方法
  • [发明专利]自适应识别复杂电子系统机内测试BIT虚警的方法-CN202210033906.8在审
  • 文佳;罗海明;梁天辰;周靖宇 - 中国电子科技集团公司第十研究所
  • 2022-01-12 - 2022-07-05 - G06F11/36
  • 本发明公开的一种自适应识别复杂电子系统机内测试BIT虚警的方法,能准确识别BIT状态,滤除虚警。本发明通过下述技术方案予以实现:结合航电系统的复杂性、层次性、相关性和不确定性的故障特征,按照通过/未通过测试结果进行分组;系统级BIT虚警过滤算法软件基于极大似然法则判定虚警,若疑似虚警集合中某个故障指示与2个及以上“通过测试”相悖,则该故障指示判定为虚警;若通过测试集合中某个通过测试与多个故障指示相悖,则该通过测试判定为漏检;根据测试置信度先验信息对剩余疑似虚警进行处理,针对2个测试结果相悖的情况,基于测试置信度进行判定处理:置信度低的测试结果为假,置信度高的测试结果为真,并送入虚警或漏检集合。
  • 自适应识别复杂电子系统测试bit方法
  • [发明专利]测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法-CN202111157091.6在审
  • 文佳;罗海明;梁天辰;周靖宇 - 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
  • 2021-09-30 - 2022-05-31 - G06F11/36
  • 本发明公开的一种测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法,能准确识别BIT状态,滤除虚警。本发明通过下述技术方案予以实现:结合航电系统的复杂性、层次性、相关性和不确定性的故障特征,按照通过/未通过测试结果进行分组;系统级BIT虚警过滤算法软件基于极大似然法则判定虚警,若疑似虚警集合中某个故障指示与2个及以上“通过测试”相悖,则该故障指示判定为虚警;若通过测试集合中某个通过测试与多个故障指示相悖,则该通过测试判定为漏检;根据测试置信度先验信息对剩余疑似虚警进行处理,针对2个测试结果相悖的情况,基于测试置信度进行判定处理:置信度低的测试结果为假,置信度高的测试结果为真,并送入虚警或漏检集合。
  • 测试证据关联自适应识别bit方法

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