专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]污水处理微机自动监测控制装置-CN201020280150.X有效
  • 李丰强;杨俊义 - 李丰强;杨俊义;杨延征
  • 2010-08-03 - 2011-03-09 - C02F9/04
  • 本污水处理微机自动监测控制装置由传感系统、配电系统和微机以及配套设施组成。在污水调节池和化学反应池分别安装内设液位控制传感器的加药器、传感电泵、配药罐和防腐泵;在污水进口处水管上安装PH传感器,在污水调节池入口处安装加药罐和电动加药阀;在好氧池设有溶解氧浓度仪并连接空压机;在沉淀池出口水管上安装报警器和电动开关阀。本装置的最大特点,就是能准确地监测水质变化并获得准确的处理数据,且能随时、多点位、适量加入各种药剂,避免不必要的开机耗电和各种药剂的浪费,节省污水处理时间,处理成本比常规处理减少约50%,出水水质优于国家一级A标。以最低的运行成本,取得最佳的处理效果。
  • 污水处理微机自动监测控制装置
  • [实用新型]测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置-CN200920046056.5无效
  • 宋瑛林;杨俊义;李常伟;金肖;税敏 - 苏州大学
  • 2009-05-27 - 2010-03-24 - G01N21/45
  • 本实用新型公开了一种测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置,主要由入射光路、测量光路和参考光路构成,入射激光束由分束镜分成两束,一束为探测光进入测量光路,另一束为参考光,进入参考光路,测量光路中,由第一凸透镜和第二凸透镜构成4f相位相干成像系统,待测样品放置在第一凸透镜的焦平面上,在第二凸透镜光路中设有全反镜,探测光自第一凸透镜入射,照射在待测样品上,透射光经第二凸透镜后,由全反镜反射,反射光再次反向进入4f相位相干成像系统中,最后由分束镜反射进入CCD相机;参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本实用新型利用两次4f相位相干成像测量材料非线性的装置,提高了系统的测量精度。
  • 测量光学非线性两次相位相干成像装置
  • [实用新型]单脉冲单光束测量材料光学非线性的装置-CN200920040284.1无效
  • 宋瑛林;杨俊义;税敏;金肖;李常伟 - 苏州大学
  • 2009-04-17 - 2010-01-27 - G01N21/59
  • 本实用新型公开了一种单脉冲单光束测量材料光学非线性的装置,包括激光光源、第一分束器、监测光路和探测光路,所述第一分束器将激光光源发出的激光束分为两束,分别进入监测光路和探测光路,所述监测光路中设有第一探测器,所述探测光路中设有凸透镜,待测样品位于所述凸透镜的焦平面上,出射光经第二分束器分为两束,一束经一凸透镜会聚至第二探测器,另一束经一中心与光轴重合的小孔光阑进入第三探测器,其特征在于:在所述探测光路的凸透镜之前的光路中设有一相位物体。本实用新型装置光路简单、数据处理简单,单脉冲测量、样品无需移动,可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号,测量结果精确,极大地减少测量成本等优点。
  • 脉冲光束测量材料光学非线性装置
  • [发明专利]测量光学非线性的两次4f相位相干成像方法和装置-CN200910033969.8无效
  • 宋瑛林;杨俊义;李常伟;金肖;税敏 - 苏州大学
  • 2009-05-27 - 2009-11-04 - G01N21/45
  • 本发明公开了一种测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置,主要由入射光路、测量光路和参考光路构成,入射激光束由分束镜分成两束,一束为探测光进入测量光路,另一束为参考光,进入参考光路,测量光路中,由第一凸透镜和第二凸透镜构成4f相位相干成像系统,待测样品放置在第一凸透镜的焦平面上,在第二凸透镜光路中设有全反镜,探测光自第一凸透镜入射,照射在待测样品上,透射光经第二凸透镜后,由全反镜反射,反射光再次反向进入4f相位相干成像系统中,最后由分束镜反射进入CCD相机;参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本发明利用两次4f相位相干成像测量材料非线性的装置,提高了系统的测量精度。
  • 测量光学非线性两次相位相干成像方法装置
  • [实用新型]单脉冲测量材料非线性折射的装置-CN200920037641.9无效
  • 宋瑛林;杨俊义;金肖;税敏;李常伟 - 苏州大学
  • 2009-01-08 - 2009-10-21 - G01N21/41
  • 本实用新型公开了一种单脉冲测量材料非线性折射的装置,包括激光光源、分束器、监测光路和探测光路,所述监测光路中设有探测器,所述探测光路中设有凸透镜、待测样品和第二探测器,其特征在于:在所述探测光路的凸透镜之前,设有一相位物体,所述相位物体为环形结构,该环形部与内孔处的相位差在π/4~3π/4之间,内孔孔径为入射光斑束腰半径的0.1~0.3倍;在所述第二探测器之前,设有一中心和光轴重合的小孔径光阑。本实用新型的装置结构简单、成本低,测量非常方便,可应用于非线性光学测量、非线性光子学材料、非线性光学信息处理和光子学器件等研究领域,尤其是非线性光功能材料的测试和改性等关键环节。
  • 脉冲测量材料非线性折射装置
  • [实用新型]基于透镜几何光学成像的非线性吸收测量装置-CN200920038596.9无效
  • 宋瑛林;税敏;金肖;李常伟;杨俊义 - 苏州大学
  • 2009-01-07 - 2009-10-21 - G01N21/59
  • 本实用新型公开了一种基于透镜成像的非线性吸收测量装置,其特征在于:主要由激光器、聚焦透镜、分束器、监测光路和成像光路组成,所述分束器把激光器发出的激光脉冲分束至监测光路和成像光路,监测光路为一能量计探头,所述成像光路包括成像透镜和CCD相机,待测样品位于聚焦透镜的焦平面处,待测样品距离成像透镜的距离大于成像透镜的一倍焦距小于二倍焦距,且待测样品和CCD相机到成像透镜的距离满足几何光学成像关系。本实用新型装置光路简单,对光路的精度要求不苛刻;在整个测量过程中样品不需要移动,测试过程简单,测量结果准确,测量速度快;数据处理简单;实验结果直观明了。
  • 基于透镜几何光学成像非线性吸收测量装置
  • [发明专利]单脉冲测量材料非线性的方法-CN200910030602.0有效
  • 宋瑛林;金肖;杨俊义;稅敏;李常伟 - 苏州大学
  • 2009-04-17 - 2009-09-16 - G01N21/41
  • 本发明公开了一种单脉冲测量材料非线性的方法,其特征在于:利用近似Tophat型激光脉冲,经相位物体后由分束镜分为两束,一束为监测光,另一束为探测光,测量步骤为:(1)将样品置于远离聚焦透镜焦平面的位置,分别记录监测光能量和脉冲光能量并计算比值;(2)将样品移至聚焦透镜的焦平面位置,分别记录监测光能量和脉冲光能量并计算比值;(3)用步骤(2)中得出的比值除以步骤(1)中得出的比值,得到归一化的非线性透过率,再经过处理得到材料的非线性折射系数。本发明的方法具有实现简单,不需要移动,实验数据处理简单等优点;采用了Tophat脉冲光作为探测光,相比于高斯脉冲光,能将探测精度提高4倍。
  • 脉冲测量材料非线性方法
  • [发明专利]基于透镜几何光学成像的非线性吸收测量方法-CN200910029164.6有效
  • 宋瑛林;税敏;金肖;李常伟;杨俊义 - 苏州大学
  • 2009-01-07 - 2009-07-08 - G01N21/59
  • 本发明公开了一种基于透镜几何光学成像的非线性吸收的测量方法,把激光器输出来的光分为监测光和探测光,监测光被一能量计探头接收,用来实时监测入射到待测样品上的能量,探测光经聚焦透镜聚焦以后照射到位于其焦点或附近位置的待测样品上,非线性导致经过样品的探测光空间分布发生变化,这种变化经过放在后面的成像透镜被CCD相机记录。按本发明方法工作的测量系统理论模型非常简单,数据处理容易,测量速度快,单脉冲测量降低了光学累积效应,非线性吸收的测量不受非线性折射的影响,对激光束的随机波动敏感度低,测量结果精确,实验结果直观明了等优点。
  • 基于透镜几何光学成像非线性吸收测量方法
  • [实用新型]测量光学非线性的4f相位相干成像装置-CN200820038280.5无效
  • 宋瑛林;杨俊义;李云波;顾济华;王玉晓 - 苏州大学
  • 2008-06-17 - 2009-05-27 - G01N21/45
  • 本实用新型公开了一种测量光学非线性的4f相位相干成像装置,主要由入射光路、测量光路和参考光路构成,所述入射光路包括扩束系统、相位光阑和分束镜,入射激光束由分束镜分成两束,一束为探测光进入测量光路,通过4f系统后由CCD相机采集;另一束为参考光,进入参考光路,其特征在于:所述测量光路的4f系统为反射4f相位相干成像系统,待测样品以反射位放置在第一凸透镜的焦平面上,反射光经第二凸透镜照射在CCD相机上;参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本实用新型光路简单、测量方便、没有样品的移动,采用单脉冲测量、不易损伤介质的表面、对光源能量稳定性以及空间的稳定性要求不高。
  • 测量光学非线性相位相干成像装置
  • [实用新型]基于Z扫描的泵浦探测装置-CN200820041810.1无效
  • 杨俊义;李云波;宋瑛林;顾济华;王玉晓 - 苏州大学
  • 2008-07-17 - 2009-04-15 - G01N21/17
  • 本实用新型公开了一种基于Z扫描的泵浦探测装置,包括激光光源、分束器,所述分束器把入射激光束分为两束,分别进入泵浦光路和探测光路,所述泵浦光路包括时间延迟部件和凸透镜;所述探测光路包括凸透镜、出射分束器和两个探测器,待测样品位于凸透镜的后焦面上,其特征在于:在所述探测光路的凸透镜之前,设置有相位物体。本实用新型的装置结构简单,测量非常方便可以广泛地应用于非线性光学测量、非线性光子学材料、非线性光学信息处理和光子学器件等研究领域,尤其是非线性光功能材料的测试和改性等关键环节。
  • 基于扫描探测装置

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