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[发明专利]一种表面粘附发酵与膜分离相耦合连续生产乙醇的方法-CN202310757229.9在审
发明人：柳东;王振宇;应汉杰;许伟楷;付帮国;杨伟强;查铭炜;高怡轩;张慧方;张迪 -专利权人：南京工业大学
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： C12P7/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种表面粘附发酵与膜分离相耦合连续生产乙醇的方法，将酿酒酵母接种于含有固体载体的发酵体系中进行表面粘附发酵产乙醇，当发酵液中乙醇含量为5g/L以上时发酵液转入膜分离组件中进行膜分离得到乙醇，分离后的发酵液再次进入发酵液体系中进行表面粘附发酵。本发明所提供的方法，能降低发酵液浊度、减少分离膜被污染、提高膜分离效率、降低发酵代谢副产物甘油、琥珀酸。
一种表面粘附发酵分离耦合连续生产乙醇方法

[发明专利]一种塔架横向加阻控制方法、系统、装置及介质-CN202310757035.9在审
发明人：孙勇;王瑞良;张慧方;聂方正;闵睿;徐伊丽 -专利权人：浙江运达风电股份有限公司
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： F03D7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种塔架横向加阻控制方法、系统、装置及介质，应用于风力发电技术领域。本申请所提供的方法：确定横向加速度对应的横向一阶频率；对横向加速度进行滤波处理，得滤波后的横向加速度；滤波处理的频率由横向一阶频率确定；根据滤波后的横向加速度确定横向加阻补偿扭矩；并对其进行限幅，得目标横向加阻补偿扭矩；根据目标横向加阻补偿扭矩和扭矩控制器输出的基础扭矩确定对应的横向加阻后的扭矩；根据横向加阻后的扭矩调节塔架横向加阻。本申请根据横向一阶频率自动调整滤波处理的频率，达到最佳滤波效果，对横向加阻补偿扭矩进行限幅，将补偿扭矩造成的功率波动控制在范围内，避免机组过功率停机，从而实现塔架横向加阻的有效控制。
一种横向控制方法系统装置介质

[发明专利]一种基于拉伸断裂评价的激光焊接接头强度仿真分析方法-CN202210571571.5有效
发明人： 张慧方;姜天豪;毕飞飞;胡鹏;蓝树槐 -专利权人：上海治臻新能源股份有限公司
申请日： 2022-05-24 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于拉伸断裂评价的激光焊接接头强度仿真分析方法，基于有限元分析方法，首先采用热弹塑性瞬态耦合方法仿真了激光焊接过程和自然冷却过程，然后采用预定义物理场的方法将自然冷却后的物理状态加载至拉伸模型，对焊缝区、热影响区及母材分别赋予不同的材料属性，最后采用显示动力学方法分析了拉伸过程。本发明公开的仿真方法可仿真激光焊接接头的拉伸试验，充分分析了焊接冷却后的物理场及不同区域材料属性的不一致对拉伸结果的影响，计算结果更准确，可仿真计算各种形貌的激光焊接头的拉伸强度。
一种基于拉伸断裂评价激光焊接接头强度仿真分析方法

[发明专利]球罩光学元件的加工方法-CN202010723051.2有效
发明人：顿爱欢;孙政;张慧方;朱杰;吴福林;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： B28B3/00 文献下载
摘要：一种球罩光学元件的制造方法，该方法包括：原材料定比混合、热等静压成型、素坯精细处理、高温烧结、铣磨成型、细磨、化学机械抛光、清洗并存储等工序。本发明将元件坯料烧结与精密制造融合在一起，实现了球罩元件的高精度加工，解决了目前球罩元件加工硬度大、加工效率低、容易变形、面形极难控制的难点，具有加工精度高、加工效率高的特点。
光学元件加工方法

[实用新型]一种抛光模修盘周期的检测装置-CN201921616689.5有效
发明人：陈军;邵建达;张慧方;吴伦哲;杨明红;吴福林;秦豪杰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： B24B37/005 文献下载
摘要：一种抛光模修盘周期的检测装置，该装置包括光学检测组件、处理器、水平度测量组件。该装置的光学检测组件使用结构光对抛光模表面形貌进行探测，处理器通过接收的包含抛光模表面形貌信息的探测光，计算处理得到抛光模表面沟槽的深度和宽度信息，从而确定抛光模的修复周期，监测抛光模的维护时间节点。本实用新型具有结构简单，测量准确，反应迅速，实现对抛光模修盘周期的原位检测，保证抛光模表面的磨削活跃度，提高加工效率和加工质量。
一种抛光模修盘周期检测装置

[实用新型]大型环拋机校正盘下表面平面度测量装置-CN201921560918.6有效
发明人：陈军;邵建达;张慧方;吴伦哲;吴福林;张一林 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2019-09-19 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：一种大型环抛机校正盘下表面平面度测量装置，该装置包括承载校正盘的转位台和位于转位台内部的测量模组。转位台自下而上是底座、万向球平台、测量狭缝、固定立柱、活动立柱和辅助轮。测量模组自下而上依次是万向轮、平台、水槽、龙门式框架、直线模组、激光位移传感器和触针位移传感器。本实用新型采用液平面作为参考基准，具有结构简单、测量准确、操作方便的特点，实现对大型环抛机校正盘下表面的平面度测量，以避免“大偏差”校正盘对抛光模的影响，有利于及时修正校正盘面形和保持抛光模面形稳定，提高加工效率。
大型环拋机校正表面平面测量装置

[发明专利]一种抛光模修盘周期的检测装置及检测方法-CN201910917228.X在审
发明人：陈军;邵建达;张慧方;吴伦哲;杨明红;吴福林;秦豪杰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-01-03 - 主分类号： B24B37/005 文献下载
摘要：一种抛光模修盘周期的检测装置及检测方法，该装置包括光学检测组件、处理器、水平度测量组件。该装置的光学检测组件使用结构光对抛光模表面形貌进行探测，处理器通过接收的包含抛光模表面形貌信息的探测光，计算处理得到抛光模表面沟槽的深度和宽度信息，从而确定抛光模的修复周期，监测抛光模的维护时间节点。本发明具有结构简单，测量准确，反应迅速，实现对抛光模修盘周期的原位检测，保证抛光模表面的磨削活跃度，提高加工效率和加工质量。
抛光模光学检测组件处理器表面形貌信息水平度测量表面沟槽表面形貌计算处理加工效率检测装置宽度信息时间节点原位检测活跃度结构光探测光磨削探测测量修复监测检测加工保证维护

[发明专利]大型环拋机校正盘下表面平面度测量装置及方法-CN201910886833.5在审
发明人：陈军;邵建达;张慧方;吴伦哲;吴福林;张一林 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2019-09-19 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：一种大型环抛机校正盘下表面平面度测量装置，该装置包括承载校正盘的转位台和位于转位台内部的测量模组。转位台自下而上是底座、万向球平台、测量狭缝、固定立柱、活动立柱和辅助轮。测量模组自下而上依次是万向轮、平台、水槽、龙门式框架、直线模组、激光位移传感器和触针位移传感器。本发明采用液平面作为参考基准，具有结构简单、测量准确、操作方便的特点，实现对大型环抛机校正盘下表面的平面度测量，以避免“大偏差”校正盘对抛光模的影响，有利于及时修正校正盘面形和保持抛光模面形稳定，提高加工效率。
校正盘转位台大型环抛机测量模组抛光模下表面测量触针位移传感器激光位移传感器平面度测量装置水槽龙门式框架平面度测量万向球平台参考基准固定立柱活动立柱加工效率直线模组辅助轮万向轮液平面底座面形盘面狭缝校正承载修正

[实用新型]超薄光学元件检测的工装夹具-CN201821840445.0有效
发明人： 张慧方;顿爱欢;邵建达;朱宝钤;陈荣;方媛媛;吴福林;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2018-11-09 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：一种超薄光学元件检测的工装夹具，包括底座、减压粘结层、圆柱销、压块、螺钉、螺栓、薄螺母和方形压头，减压粘结层为双面胶，附着于压块下表面和底座上表面。本实用新型可固定不同口径的超薄光学元件，且元件依靠三点支撑固定，受力面积降至极低，减压粘结层在起到粘结固定作用的同时还可有效控制超薄光学元件的受力，极大地降低了元件的受力变形。以本实用新型固定超薄光学元件并置于光学检测平台上，满足了检测装置对待测元件相对位置的要求。
超薄光学元件减压粘结层本实用新型工装夹具受力光学检测平台底座上表面压块下表面螺栓检测装置三点支撑受力变形有效控制粘结固定螺钉薄螺母可固定双面胶圆柱销检测底座附着压块压头口径

[发明专利]环抛过程沥青抛光模应力分布实时测量装置及测量方法-CN201710348482.3有效
发明人：杨明红;张慧方;徐学科;邵建达;吴伦哲 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2017-05-17 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： B24B49/04 文献下载
摘要：一种环抛过程沥青抛光模应力分布实时测量装置及测量方法，该装置包括压力传感器、处理器、滑环和计算机。将压力传感器埋入沥青抛光模内获得模拟信号，通过数据线将模拟信号传输至处理器，处理器包括AD数据采集模块和MCU模块，由处理器输出的数字信号通过无线通讯设备传送至计算机进行存储、分析。该发明可测得抛光机静止及正常作业过程中沥青抛光模的应力分布，依据此应力分布可以推断沥青材料的蠕变变形现象，结合沥青材料的屈服极限可判断是否发生塑性变形及塑性流动现象，根据测量、计算得到的力传递率可推断沥青抛光模上表面的压力分布，以此压力分布结合相对运动可预测抛光模面形变化，使环抛工艺向确定性加工方向发展。
过程沥青抛光应力分布实时测量装置测量方法

[发明专利]超薄光学元件的工装夹具-CN201811329120.0在审
发明人： 张慧方;顿爱欢;邵建达;朱宝钤;陈荣;方媛媛;吴福林;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2018-11-09 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：一种超薄光学元件检测的工装夹具，包括底座、减压粘结层、圆柱销、压块、螺钉、螺栓、薄螺母和方形压头，减压粘结层为双面胶，附着于压块下表面和底座上表面。本发明可固定不同口径的超薄光学元件，且元件依靠三点支撑固定，受力面积降至极低，减压粘结层在起到粘结固定作用的同时还可有效控制超薄光学元件的受力，极大地降低了元件的受力变形。以本发明固定超薄光学元件并置于光学检测平台上，满足了检测装置对待测元件相对位置的要求。
超薄光学元件减压粘结层工装夹具受力光学检测平台底座上表面压块下表面螺栓检测装置三点支撑受力变形有效控制粘结固定螺钉薄螺母可固定双面胶圆柱销底座附着压块压头口径检测

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