专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体封装件及其制造方法-CN201910879823.9有效
  • 崔亨硕;徐铉哲;金胜桓 - 爱思开海力士有限公司
  • 2019-09-18 - 2023-08-01 - H01L21/60
  • 半导体封装件及其制造方法。一种制造半导体封装件的方法可以包括在基板主体的表面上形成镀覆层。可以在镀覆层上形成电路抗蚀剂图案和监测抗蚀剂图案,并且可以使用电路抗蚀剂图案和监测抗蚀剂图案作为蚀刻掩模来蚀刻镀覆层,从而形成电路图案和监测图案的子图案。在用于形成电路图案和监测图案的子图案之后通过检查剩余在基板主体上的监测图案的子图案的数量,可以监测电路图案的残留率。半导体芯片可以使用内部连接器接合到电路图案。
  • 半导体封装及其制造方法
  • [发明专利]晶圆级封装件及其制造方法-CN201610901128.4有效
  • 崔亨硕;成基俊;金钟薰;刘荣槿;裴弼淳 - 爱思开海力士有限公司
  • 2016-10-17 - 2019-11-08 - H01L23/31
  • 晶圆级封装件及其制造方法。根据各种实施方式,可以提供封装件、半导体和晶圆级封装件,并且可以提供制造封装件、半导体和晶圆级封装件的方法。一种制造晶圆级封装件的方法可以包括以下步骤:在保护晶圆的表面处形成对准标记;利用所述对准标记来将半导体管芯安装在所述保护晶圆上;形成覆盖所述半导体管芯的第一感光介电层;将所述第一感光介电层的顶表面平坦化;将经平坦化的第一感光介电层的部分曝光并且对其进行显影,以形成使所述半导体管芯的一部分暴露的开口部;以及在所述第一感光介电层上形成再分配线。可以形成第二感光介电层以覆盖所述再分配线。还可以提供相关的晶圆级封装件。
  • 晶圆级封装及其制造方法
  • [发明专利]半导体封装体-CN201510386549.3在审
  • 崔亨硕 - 爱思开海力士有限公司
  • 2015-06-30 - 2016-04-13 - H01L23/485
  • 一种半导体装置,其包含:基板,其具有彼此相对的第一表面和第二表面;多个贯穿电极,其穿透该基板且自该第一表面延伸至该第二表面;前侧凸块,其设置于该第一表面上且连接至该多个贯穿电极中的奇数贯穿电极;以及背侧凸块,其设置于该第二表面上且连接至该多个贯穿电极中的偶数贯穿电极。本发明还提供相关的半导体封装、制造方法、电子系统及存储卡。
  • 半导体封装
  • [发明专利]使用穿通电极制备堆叠封装的方法-CN200910003382.2无效
  • 韩权焕;朴昌濬;金圣哲;金圣敏;崔亨硕;李荷娜 - 海力士半导体有限公司
  • 2009-01-22 - 2009-08-05 - H01L25/04
  • 本发明提供一种制备晶片级堆叠封装的方法,包括步骤:背面研磨包括多个第一半导体芯片的晶片的下表面;将支承构件附着到被背面研磨的晶片的下表面;将一个或更多单独的第二半导体芯片堆叠到被背面研磨的晶片的各第一半导体芯片上;形成第一穿通电极以电连接所堆叠的第一半导体芯片和第二半导体芯片;将第三半导体芯片附着到所堆叠的第二半导体芯片中的最上面的芯片,该第三半导体芯片具有电连接到第一穿通电极的第二穿通电极和连接到该第二穿通电极的重配置线;将外部连接端子连接到该第三半导体芯片的重配置线;以及切割其上堆叠第二和第三半导体芯片的晶片级的第一半导体芯片以用于芯片级半导体封装。
  • 使用通电制备堆叠封装方法

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