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[发明专利]平面显示器的缺陷检测系统及方法-CN201110075171.7无效
发明人：郑昆贤;杨凯峰;吴文宾 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2011-03-28 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测系统及方法，用以对一平面显示器进行缺陷检测。首先，对待测平面显示器供电以进行操作，之后量测待测平面显示器的表面温度，并得到待测平面显示器的表面温度分布图。通过观察表面温度分布图是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在，其中，亮点或亮线所在的区域，即为缺陷存在的区域。最后以一光学检查装置直接对缺陷存在的区域进行扫描，并得到一光学影像，进一步得知缺陷类型及位置。本发明的检测系统及方法，不仅可以缩短平面显示器的检测时间，又可确切得知平面显示器的问题点，有利于进一步修复缺陷。
平面显示器缺陷检测系统方法

[实用新型]光学检测系统-CN201220106898.7有效
发明人：谢富翔;林圣涵 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2012-03-19 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01N21/896 文献下载
摘要：一种光学检测系统，包含一输送装置、一正向检测模块、一斜向检测模块及一控制界面。输送装置沿一输送方向输送一玻璃基板；正向检测模块包含一正向光源与一正面取像元件，正向光源对基板背面投射一正向光束，正面取像元件用以接收正向光束，并据以产生一正面影像信号；斜向检测模块包含一斜向光源与一斜面取像元件，斜向光源对基板正面投射一斜向光束，而斜面取像元件用以接收斜向光束，并据以产生一斜面影像信号；控制界面电性连结于正向检测模块与斜向检测模块，以依据正面影像信号与斜面影像信号产生一正面缺陷影像与一斜面缺陷影像。
光学检测系统

[实用新型]基板承载装置-CN201220068602.7有效
发明人：李文宗 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2012-02-27 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： B65D85/48 文献下载
摘要：一种基板承载装置，包含一承载装置本体、一中空穿槽以及多个透明支撑件。中空穿槽开设于承载装置本体，多个透明支撑件各包含一连结部与一支撑部，连结部设置于承载装置本体，而支撑部自连结部一体成型地延伸至中空穿槽。其中，玻璃基板是通过多个透明支撑件的支撑而置于中空穿槽上。
承载装置

[发明专利]纳米级结构体阵列的制造设备与生产方法-CN201010229213.3无效
发明人：黄旭华 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司;黄旭华
申请日： 2010-07-13 - 公布日： 2012-01-25 - 主分类号： B82B3/00 文献下载
摘要：本发明有关于一种纳米级结构体阵列的制造设备与生产方法，制造设备包含一激光源、一微面镜、一准直透镜组与一微棱镜结构阵列，生产方法是使激光源产生的一激光束通过微面镜反射，经准直透镜组而垂直于准直透镜组依序投射至微棱镜结构阵列中沿一加工路径排列的多个微棱镜结构，以使激光束在所投射者中形成二个以上次激光束折射至微棱镜结构下方的光阻层上发生干涉产生干涉图案，通过蚀刻干涉图案的蚀刻区产生多个纳米级结构体形成一纳米级结构体阵列，其中各纳米级结构体的蚀刻区中任二者之间距小于激光束的波长。
纳米结构阵列制造设备生产方法

[实用新型]平面显示器检测系统-CN201120085663.X有效
发明人：郑昆贤;杨凯峰;吴文宾 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2011-03-28 - 公布日： 2011-11-30 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种平面显示器检测系统，用以对一平面显示器进行缺陷检测，包括一控制装置及一检测设备，控制装置控制检测设备对平面显示器进行检测，其中，检测设备包括：一电源供应器，以对平面显示器供电进行操作；一红外线温度感测装置，以在平面显示器通电后，量测平面显示器的表面温度，并输出一表面温度影像，通过观察表面温度影像是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在；一光学检测装置，在确定缺陷所在的区域后，直接进行扫描，并输出一光学影像，以进一步得知缺陷类型及位置。
平面显示器检测系统

[实用新型]蒸镀机及其面板检测装置-CN201120051790.8无效
发明人：周圣彬 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2011-02-28 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： C23C14/24 文献下载
摘要：本实用新型有关于一种蒸镀机及其面板检测装置，蒸镀机包含一蒸镀室、一检测室、一定位装置、一面板检测装置、一分隔组件以及一移载组件。检测室邻接于蒸镀室，定位装置设置于检测室，用以将一面板予以定位。面板检测装置设置于检测室，并且包含一检测平台、至少一设置于该检测平台的电极模块、一光学特性检测组件以及一控制模块。光学特性检测组件设置于该检测平台。控制模块电性连结于电极模块，并控制电极模块与一面板之间产生一相对移动。分隔组件可移动地设置于蒸镀室与检测室之间。移载组件可移动地设置于蒸镀机内。
蒸镀机及其面板检测装置

[发明专利]光束修正投射设备-CN201010105182.0有效
发明人：詹方兴;林宜贤 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2010-01-22 - 公布日： 2011-07-27 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：一种光束修正投射设备，用以修正一光源沿一投射方向所投射的检测光束，并沿投射方向依序包含一导光片、一镜组与一菲涅尔透镜组，导光片将检测光束放大并均匀化，镜组具有一第一有效焦距F1，并包含一凹凸透镜、一凸凹透镜以及一双凸透镜，其焦距分别为f1、f2、f3。菲涅尔透镜组具有一第二有效焦距F2，用以将检测光束平行化。其中，1.5≤f1/F1≤3.5，-1.0≤f1/f2≤-0.2，2.0≤f1/f3≤3.0，0.1≤F1/F2≤0.4，凸凹透镜与凹凸透镜相距2mm～8mm，双凸透镜与凸凹透镜相距3.1mm～9.2mm，且菲涅尔透镜组与镜组相距180mm～500mm。
光束修正投射设备

[实用新型]检测图像撷取装置-CN201020601522.4有效
发明人：蔡姓贤;郑昆贤;梁芬玉;林昌达;詹方兴 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2010-11-05 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：一种检测图像撷取装置，撷取一由多个材料片所堆栈成的叠层待测物的一叠层侧面的一叠层检测图像，该检测图像撷取装置包含一图像撷取单元、一分光元件以及一光源装置，图像撷取单元正对叠层侧面设置并具有垂直叠层侧面的一光轴；分光元件设置于图像撷取单元与叠层侧面之间的光轴上，并与光轴呈45度角；光源装置将一与光轴垂直的检测光束投射至分光元件，以使检测光束沿光轴反射至叠层侧面，并沿光轴反射出一图像光束；图像光束穿透分光元件传送至图像撷取单元，以供图像撷取单元撷取该叠层检测图像。本实用新型揭示的检测图像撷取装置，其图像撷取单元由图像光束所撷取的叠层检测图像会具有焦距一致、亮暗均匀等优点，并且不具有投影变形的疑虑。
检测图像撷取装置

[实用新型]扫描式自动对焦检测影像撷取设备-CN201020553738.8无效
发明人：詹方兴;郑昆贤 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2010-09-30 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： G03B13/36 文献下载
摘要：一种扫描式自动对焦检测影像撷取设备，包含一扫描式影像撷取单元、一自动对焦运算模块以及一调焦电机，扫描式影像包含一镜头以及一线型电荷耦合装置，相对一平台连续移动，以利用线型电荷耦合装置对一待测对象撷取多个连续线型影像，自动对焦运算模块将该多个连续线型影像组成一检测影像，并分析产生一调焦控制信号，使调焦电机据以在扫描式影像撷取单元相对平台连续移动的同时，驱动镜头沿一与该平台垂直的调焦路径移动至一对焦位置。
扫描自动对焦检测影像撷取设备

[实用新型]光学特性检测机台-CN201020507374.X无效
发明人：林钲杰;许家胜;周圣彬 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2010-08-26 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种光学特性检测机台，检测一用以切割成多个非偏振液晶面板半成品的整件非偏振液晶面板半成品，包含一机台本体、一探针模块、一第一光源装置、一光电转换器、一第一偏光片与一第二偏光片，机台本体承载整件非偏振液晶面板半成品，探针模块电性连接整件非偏振液晶面板半成品以通电驱动其液晶，第一光源装置与光电转换器对应设置于整件非偏振液晶面板半成品的两侧，第一偏光片设置于第一光源装置与整件非偏振液晶面板半成品之间，第二偏光片设置于光电转换器与整件非偏振液晶面板半成品之间，光电转换器感应穿透液晶的光线的光学特性。借此，在整件非偏振液晶面板半成品未切割为多个液晶面板与未贴附偏光片之前，查验其光学特性以提早淘汰不良品。
光学特性检测机台

[实用新型]平面显示器的光学检测装置-CN201020174938.2有效
发明人：詹方兴;林宜贤 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2010-04-26 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种平面显示器的光学检测装置，其壳体包含一第一筒状壳体、一第二筒状壳体与一扇形壳体，第一筒状壳体中设置一导光片，以将由一光源导入第一筒状壳体中的一检测光束放大并均匀化，第二筒状壳体中设置一镜组，镜组具有一第一有效焦距F1，并包含一凹凸透镜、一凸凹透镜以及一双凸透镜，其焦距分别为f1、f2、f3。扇形壳体中设置一菲涅尔透镜组，具有一第二有效焦距F2，用以将检测光束平行化。其中，1.5≤f1/F1≤3.5，-1.0≤f1/f2≤-0.2，2.0≤f1/f3≤3.0，0.1≤F1/F2≤0.4，凸凹透镜与凹凸透镜相距2mm～8mm，双凸透镜与凸凹透镜相距3.1mm～9.2mm，且菲涅尔透镜组与镜组相距180mm～500mm。
平面显示器光学检测装置

[实用新型]光学影像检测设备-CN200920273194.7有效
发明人：林钲杰;许家胜;杨逸民 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2009-12-09 - 公布日： 2010-08-25 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：一种光学影像检测设备，其影像撷取模块包含一第一光源装置与一影像传感器，其辉度传感模块包含一第二光源装置与一辉度传感器，影像传感器与辉度传感器分别撷取液晶面板半成品的影像与辉度值以供检测模块缺陷。本实用新型的特征在于该液晶面板半成品为一用以切割成多个非偏振液晶面板半成品的整件非偏振液晶面板半成品，且该光学影像检测设备还在第一光源装置与整件非偏振液晶面板半成品之间设置一第一偏光片，在影像传感器与整件非偏振液晶面板半成品之间设置一第二偏光片；在第二光源装置与整件非偏振液晶面板半成品之间设置一第三偏光片，在辉度传感器与整件非偏振液晶面板半成品之间设置一第四偏光片。
光学影像检测设备

[发明专利]灯箱设备及灯管效能监控装置与方法-CN200810097775.X无效
发明人：庄顺富 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2008-05-27 - 公布日： 2009-12-02 - 主分类号： H05B41/36 文献下载
摘要：一种灯管效能监控装置，是适用于一具有多个灯管的多灯管设备，例如：一目检用灯箱设备。此灯管效能监控装置包括多个光感测器、一处理模块以及一输出模块。该光感测器分别设置于每一灯管的周围，感应个别对应的灯管所输出的光线，进而产生一感测信号输出。处理模块接收于该光感测器所输出的感测信号，再根据这些感测信号来判断每一灯管所输出光线的光学特性是否符合一标准，进而产生一判断结果输出至输出模块。藉此将可辅助外部操作者及时察觉到具瑕疵的失效灯管。
灯箱设备灯管效能监控装置方法

[发明专利]侦测待测物表面的轮廓的测量方法-CN200710079125.8无效
发明人：王幰彰 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2007-02-13 - 公布日： 2008-08-20 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种侦测待测物表面的轮廓的测量方法，尤其是有关于一种利用干涉波包峰值侦测法侦测待测物表面的轮廓的测量方法。利用光测装置侦测待测物表面的轮廓以产生波纹，波纹分为非干涉波纹以及干涉波包，先在非干涉波纹中接连选取复数个样本光程差。接着计算所述样本光程差所对应光强度的平均值以及标准差，即得范围介于平均值加以及减标准差之间的门槛值范围。最后判断波纹中所对应的复数个光强度，在该门槛值范围外且连续的光强度所对应的波纹，即为一个干涉波包。通过本发明，可以有效分辨出不同的干涉波包，而选取正确的干涉波包的峰值，即使在待测物表面有透明薄膜的状态，也不至于误判待测物表面的轮廓。
侦测待测物表面轮廓测量方法

[实用新型]一种发光源照度控制系统-CN200720152697.X无效
发明人：叶世宏;许仁杰;刘家卫 -专利权人： 宏濑科技股份有限公司
申请日： 2007-07-20 - 公布日： 2008-05-28 - 主分类号： H05B41/38 文献下载
摘要：本实用新型提供一种发光源照度控制系统，其控制至少一发光源所发出的一照明光线维持在一照度范围，该发光源照度控制系统包括至少一发光源及一控制装置；该发光源具有至少一发光组件；该控制装置包括至少一照度感测组件及一控制处理模块；该照度感测组件可感测该发光源所发出的该照明光线的照度，并且连接该控制处理模块，而该控制处理模块根据其所测得该照明光线的照度，控制该发光组件的发光强度，使该发光源发出的该照明光线维持于预设的该照度范围。本实用新型除可自动适度调整发光源的照明光线的照明度，以节省人力及减少人为错误外，并使发光源的照明光线具长时间的稳定性，有效改善现有技术的问题。
一种光源照度控制系统

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