专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]辅助测试电路及差分输出运放测试电路-CN202221568387.7有效
  • 姜祎春;管树正 - 北京华峰测控技术股份有限公司;北京华峰装备技术有限公司
  • 2022-06-22 - 2022-11-15 - G01R31/28
  • 本申请提供了一种辅助测试电路,包括减法运算电路、第一电阻网络和第二电阻网络,其中,减法运算电路与被测差分输出运算放大器的输出端连接,被测差分输出运算放大器的输出端包括正输出端和负输出端,减法运算电路的放大倍数为1;第一电阻网络包括第一端和第二端,第一电阻网络的第一端与被测差分输出运算放大器的负输出端连接;第二电阻网络包括第一端和第二端,第二电阻网络的第一端与被测差分输出运算放大器的正输出端连接,第二电阻网络的第二端与第一电阻网络的第二端连接。本申请提供的辅助测试电路可以实现通过辅助运放环路完成差分输出运放的全部直流参数自动化测试,提高测试效率。
  • 辅助测试电路输出
  • [实用新型]运放测试系统-CN202020237334.1有效
  • 姜祎春;袁琰 - 北京华峰测控技术股份有限公司
  • 2020-03-02 - 2021-02-09 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及一种运放测试系统。运放测试系统包括待测运算放大器、辅助测试环路、第一电容采样电路、第二电容采样电路和计算电路。辅助测试环路用于在测试阶段采样并记录采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压;第一电容采样电路用于接收低电平电压信号和共模电压信号,并提供给待测运算放大器的反相输入端;第二电容采样电路第二电容采样电路的第一输入端接地,第二电容采样电路用于接收低电平电压信号和共模电压信号,并提供给待测运算放大器的同相输入端;计算电路用于接收待测运算放大器的输出电压,并根据多个采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压计算待测运算放大器的偏置电流。
  • 测试系统
  • [实用新型]运放测试电路和系统-CN201921329854.9有效
  • 姜祎春;袁琰 - 北京华峰测控技术股份有限公司
  • 2019-08-16 - 2020-07-14 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及一种运放测试电路和系统。运放测试电路包括第一电压电流源、第二电压电流源、第一输入单元、第二输入单元和待测运算放大器。第一电压电流源和第二电压电流源分别将脉冲沿电压信号和共模/差模电压提供给信号源节点P,通过第一输入单元向待测运算放大器的负向输入端输出共模/差模电压或低电平电压信号,通过第第二输入单元向待测运算放大器的正向输入端输出、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号,其中,所述程控跳变电压是通过由于所述共模/差模电压和所述脉冲沿电压信号组合后形成的,因此在测试的过程中复用了第二电压电流源,减少了运放测试电路电压电流源的数量,进而降低测试成本。
  • 测试电路系统
  • [发明专利]运放测试系统和方法-CN202010135309.7在审
  • 姜祎春;袁琰 - 北京华峰测控技术股份有限公司
  • 2020-03-02 - 2020-06-02 - G01R31/28
  • 本发明涉及一种运放测试系统及方法。运放测试系统包括待测运算放大器、辅助测试环路、第一电容采样单元、第二电容采样单元和计算单元。辅助测试环路用于在测试阶段采样并记录采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压;第一电容采样单元用于接收低电平电压信号和共模电压信号,并提供给待测运算放大器的反相输入端;第二电容采样单元第二电容采样单元的第一输入端接地,第二电容采样单元用于接收低电平电压信号和共模电压信号,并提供给待测运算放大器的同相输入端;计算单元用于接收待测运算放大器的输出电压,并根据多个采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压计算待测运算放大器的偏置电流。
  • 测试系统方法
  • [实用新型]一种电气参数测试电路及测试系统-CN201721143356.6有效
  • 袁琰;姜祎春;王晓强 - 北京华峰测控技术有限公司
  • 2017-09-07 - 2018-03-23 - G01R31/00
  • 本实用新型提供了一种电气参数测试电路及电气参数测试系统,被测器件包括一被测输入端与被测输出端,测试电路包括恒压源,通过其一输出端与被测器件的被测输入端连接,提供被测器件所需测试用恒压及工作电压;浮动恒流源,其一端连接到所述恒压源和所述被测器件的被测输入端之间,另一端与所述被测器件的被测输出端连接,从而构成回路,提供被测器件所需工作电流;电压检测电路,用于检测所述被测器件电压降。由上,被测器件的测试用电流均通过浮动恒流源提供,恒压源仅需满足被测器件的消耗电流,而消耗电流仅为微安或者毫安级别,由此有效降低了恒压源的成本。
  • 一种电气参数测试电路系统

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