专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201310070789.3无效
  • 奥村秀树 - 株式会社东芝
  • 2013-03-06 - 2014-01-01 - H01L29/78
  • 本发明涉及半导体装置及其制造方法。该半导体装置具备第一~第四半导体层、栅极、场板电极、绝缘膜、第一、第二主电极及绝缘部。第一、第二半导体层为第一导电型。第二半导体层设置在第一半导体层之上、杂质浓度比第一半导体层低。第三半导体层设置在第二半导体层之上、具有第一部分和第二部分、杂质浓度比第二半导体层低。第四半导体层为第一导电型。栅极从第四半导体层朝第二半导体层延伸、下端处于第二半导体层。场板电极设置在栅极下侧、下端处于第二半导体层。绝缘膜设置在栅极与第四半导体层之间。第一主电极与第一半导体层电连接。第二主电极与第三半导体层及第四半导体层电连接。绝缘部使第一部分与第二部分电绝缘。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201210310956.2无效
  • 武舍裕太;酒井隆行;奥村秀树;河野孝弘 - 株式会社东芝
  • 2012-08-28 - 2013-09-11 - H01L21/336
  • 实施方式提供一种具备通过自对准而形成的沟槽栅构造的半导体装置及其制造方法。实施方式的半导体装置的制造方法具备:在并排设置于半导体层的多个沟槽的内面形成第一绝缘膜的工序;隔着所述第一绝缘膜形成控制电极的工序;以及形成设置在所述控制电极之上的第二绝缘膜的工序,该第二绝缘膜的上表面处于比沿着所述沟槽的壁面延伸的所述第一绝缘膜的上端靠下的位置。还具备将所述半导体层蚀刻到所述控制电极的所述上端的附近的深度的工序;以及形成第一半导体区域的工序。而且具备:形成导电膜,并在所述第一半导体区域的上部形成第二半导体区域的工序;以及回蚀所述导电层并形成接触孔的工序。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置以及其制造方法-CN201210071069.4有效
  • 奥村秀树;三沢宽人;河野孝弘 - 株式会社东芝
  • 2012-03-16 - 2013-03-27 - H01L21/336
  • 一种半导体装置的制造方法,具备:在第1导电型的半导体基板的上表面形成多个沟槽的工序;在上述沟槽的内面上形成栅绝缘膜的工序;在上述沟槽内的下部埋入栅电极的工序;在上述沟槽内的上部埋入绝缘部件的工序;将上述半导体基板的上层部除去从而使上述绝缘部件从上述半导体基板的上表面突出的工序;以覆盖突出的上述绝缘部件的方式形成掩模膜的工序;将在上述掩模膜的在上述绝缘部件的侧面上形成的部分作为掩模而向上述半导体基板注入杂质从而形成第2导电型的载流子排出层的工序。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]移除连接杆的碎片的方法和装置-CN200580040591.4无效
  • 川村真树;奥村秀树 - 本田技研工业株式会社
  • 2005-11-25 - 2007-10-31 - B21K1/14
  • 本发明提供了一种移除连接杆的碎片的方法和装置。将连接杆(1)的较大端部(6)放置在基座(50)的台阶部(54)上,并且将其较小端部(5)放置在由减振材料形成的基座(48)上。接通气动振动器(26)以连续供应压缩空气来使所述较大端部(6)与基座(50)一起振动,直到振动的较大端部(6)与接触板件(30)接触。当碎片从所述连接杆的杆体(7)和帽部(8)掉落时,使用集尘器(28)通过抽吸软管(60)将碎片收集到透明的收集袋(64)。上述操作在由盖件(74)关闭的隔音盒(32)中进行。然后,通过使用例如刷将碎片与所述杆体(7)和所述帽部(8)的断开部分分离。
  • 连接碎片方法装置
  • [发明专利]连杆用断裂槽的加工方法及装置-CN200580030796.4无效
  • 奥村秀树;小口嗣夫 - 本田技研工业株式会社
  • 2005-11-22 - 2007-08-15 - B23C3/30
  • 本发明提供一种连杆用断裂槽的加工方法和装置。驱动带轮(72)在设置于机体(14)上的旋转驱动源(68)的驱动作用下进行旋转,将驱动带轮(72)的旋转驱动力通过驱动力传递皮带(76)传递给从动带轮(74),从而使得与上述从动带轮(74)连接为一体的槽加工部(24)进行旋转。上述槽加工部(24)将与从动带轮(74)连接为一体的主轴(34)可旋转支撑在支撑部(32)上,在上述主轴(34)的保持部(48)上设置有外周面具有多个刃部(54)的金工锯(36)。于是,通过将上述金工锯(36)插入到连杆(18)的大端孔(20)的内部中,在上述大端孔(20)上形成截面大致为V字形的第一槽(88),并且在相对于连杆(18)的轴线与上述第一槽(88)相对的位置上,形成与上述第一槽(88)对称的形状的截面大致为V字形的第二槽(90)。
  • 连杆断裂加工方法装置
  • [发明专利]连杆的检查装置和检查方法-CN200580030204.9有效
  • 小口嗣夫;奥村秀树 - 本田技研工业株式会社
  • 2005-11-09 - 2007-08-08 - G01B11/02
  • 本发明提供连杆的检查装置和检查方法。该连杆的检查装置具有:工件台(54),其用于载置处于被定位在预定位置的状态下的连杆(30);滑动单元(58),其使上述工件台(54)沿着水平方向往复动作;以及第一~第四距离传感器(60a~60d),通过对由曲面构成的被测量面(94a、94b)照射激光来测量与照射面的间隔距离,从而测量阶梯差部(98)的阶梯差量(D)。由此,进行上述测量的阶梯差量(D)与预先设定的允许量的范围之间是否合格的判定。
  • 连杆检查装置方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN02118560.3无效
  • 奥村秀树;大泽明彦;伊野孝佳 - 株式会社东芝
  • 2002-03-19 - 2002-10-23 - H01L29/78
  • 一种半导体器件,包括形成在半导体衬底的背面侧的漏极区域;在漏极区域上形成且具有部分地在多个场所处在衬底主面上露出的部分的基极区域;一面与上述基极区域相接而另一面在衬底主面上露出的源极区域;栅极绝缘膜,实际仅在沟槽的侧壁上形成,该沟槽形成为从衬底主面开始在纵向上将底面配置在漏极区域中;栅极电极,埋置在沟槽内,形成在其上面位于比源极区域和基极区域的接合面更靠上部并且比衬底主面低的位置处;埋置绝缘膜,埋置在沟槽中未埋置栅极电极的部分中。
  • 半导体器件及其制造方法

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