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- [发明专利]验蛋装置-CN202280019088.4在审
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中西孝文;奥田雄大;河田康臣;松冈昇治
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四国计测工业株式会社
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2022-03-03
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2023-10-27
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G01N21/27
- 本发明的课题在于，提供一种验蛋装置，其可更适宜地对检查对象蛋进行检查。本发明的解决手段为，一种验蛋装置，其具有：照明装置(61)，其将照明光照射于检查对象蛋；摄像装置(62)，其对通过照明装置(61)照射的检查对象蛋进行摄像；判断装置(22)，其基于摄像装置(62)拍摄的检查对象蛋的摄像图像，判断检查对象蛋的状态；及反射器(63)，其设置于从照明装置(61)至检查对象蛋的光路上、或从检查对象蛋至摄像装置(62)的光路上，照明装置(61)与摄像装置(62)并列配置。
- 装置
- [发明专利]验蛋装置、验蛋程序及验蛋方法-CN202080047721.1在审
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大西英希;松原弘树;清水一范
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四国计测工业株式会社
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2020-06-25
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2022-02-25
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G01N33/08
- 本发明的课题在于提供一种能以高精度特定不良蛋的不良因素的验蛋装置、验蛋程序、及验蛋方法。本发明的解决手段具备：第1辨别单元32，其使用将蛋影像作为教导数据而预先制成的第1学习完毕模型，来辨别蛋是否有第1不良因素；第2辨别单元32，其使用将蛋影像作为教导数据而预先制成的、且与第1学习完毕模型不同的第2学习完毕模型，来辨别蛋是否具有与第1不良因素不同的第2不良因素；拍摄单元10,20，其将光照射至检查对象蛋，而拍摄检查对象蛋的影像；及控制单元32；上述控制单元是根据上述检查对象蛋的影像，使上述第1辨别单元和/或上述第2辨别单元辨别检查对象蛋的不良因素，由此辨别检查对象蛋是否有不良因素，当检查对象蛋具有不良因素的情况，则辨别该不良因素。
- 装置程序方法
- [发明专利]多层培养容器观察系统、托架装置及多层培养容器观察装置-CN201980036439.0在审
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田边广幸;河田康臣;小野和弘;松冈昇治
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四国计测工业株式会社
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2019-01-11
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2021-01-19
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C12M1/00
- 本发明的课题在于提供一种作业人员能够简单地观察多层培养容器的被观察物的多层培养容器观察系统、托架装置和多层培养容器观察装置。本发明的多层培养容器观察系统，具有：托架装置(20)，其可搭载内置多个托盘的多层培养容器(30)而进行移动；和观察装置(10)，其可观察多层培养容器(30)的各托盘的被观察物，其中，托架装置(20)具有框体，该框体具有使多层培养容器(30)的相对向的两个侧面的上端至下端露出的侧面露出部，观察装置(10)具有：收容部(14)，其将托架装置(20)在搭载有多层培养容器(30)的状态下直接加以收容；和摄像装置(11)，其具有光学系统而输出由该光学系统所成像而得到的像；在收容部(14)收容有搭载多层培养容器(30)的托架装置(20)的情况下，侧面露出部被配置于摄像装置(11)的光轴上。
- 多层培养容器观察系统托架装置
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