专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种指纹锁高集成系统-CN202110984489.0在审
  • 叶世芳;蒋渊博;黄斌;邹春友 - 深圳市芯智云信息技术有限公司
  • 2021-08-25 - 2022-02-01 - G07C9/00
  • 本发明提供一种指纹锁高集成系统,包括接口端、MCU主控端和指纹头端,其特征在于,将MCU芯片集成到指纹头端并位于同一电路板上,所述MCU芯片与指纹头通过UART接口或SPI接口连接,所述MCU芯片通过总线接入端口实现扩展功能;所述总线接入端口包括烧录口,所述烧录口通过UART接口或SWD接口接入到MCU芯片,用于实现软件升级。本发明的有益效果是:结构上高度集成,同时能避免出现指纹与MCU通信异常情况,有效的增加通信的距离,实现功能拓展。
  • 一种指纹锁集成系统
  • [发明专利]一种光学膜检测装置-CN200410054439.9无效
  • 叶世芳;郑尧中 - 力特光电科技股份有限公司
  • 2004-07-22 - 2006-01-25 - G02B5/30
  • 本发明为一种光学膜的检测装置,用以检测光学膜的厚度均匀性与瑕疵,包括:一或一个以上的光源、一或一个以上的偏光装置、一滤光装置及一散射装置。该光源射出一光束,经由该滤光装置筛选出最适合用于该检测的光束,并经由该偏光装置的偏光作用达到偏极化该光束的效果,该偏极化后的光束,通过该散射装置而被放大。该检测装置的构造简单、无需额外架设其它昂贵仪器,亦无须对待测光学膜样品作额外的处理程序,检测程序简洁耗时不长、检测成本不高,对于降低生产成本一有相当大的助益。
  • 一种光学检测装置
  • [发明专利]一种偏极片的检测方法-CN200410032198.8无效
  • 叶世芳;郑尧中 - 力特光电科技股份有限公司
  • 2004-04-02 - 2005-10-05 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种偏极片的检测方法,由一挑选后的光源经过一滤光片、一起偏器、一凹透镜或是一滤光片、一镜子、一凹透镜至一光学膜样品;移动光学膜样品调整焦距后将光学膜样品沿Z轴旋转,并判别光域明暗是否有变化;若有,则该光学膜样品有瑕疵;若无,该光学膜样品为合格样品。本发明的检测方法可轻易以肉眼明显辨别膜厚度的不均匀性(Gooseflesh),于进料时即可检查并反映给厂商,且检测成本不高,无需添增贵重设备,亦无需经过与偏光素子贴合加工等额外处理程序,样品本身即可拿来检测,程序简洁耗时不长。
  • 一种偏极片检测方法

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