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[实用新型]用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座-CN201220588508.4有效
发明人：范曾轶;廖炳隆;储征毓;罗晶 -专利权人：上海华虹NEC电子有限公司
申请日： 2012-11-09 - 公布日： 2013-06-12 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座，包括金属引脚、金属底板、金属片，所述金属片通过金属片的金属连线与金属引脚连接，所述金属底板的每个侧面与位于该侧面外的金属片远离金属引脚的一端在横向上留有间隙，所述金属底板的每个侧面均通过若干金属底板的金属连线与金属引脚连接。本实用新型缩小金属底板的面积，在纵向错层中增加金属连线实现VDMOS的漏端通过金属底板与金属底板连接，进而实现VDMOS在双列直插陶瓷底座的封装以及进行HTRB等可靠性测试，并且金属底板与金属引脚之间的金属连线在不需要的情况下可以通过物理方式断开，从而避免金属底板与金属片在金属引脚上的短路，保证VDMOS在陶瓷底座上的漏端引出端的独立性。
用于 vdmos 器件可靠性测试双列直插陶瓷底座

[实用新型]用于可靠性环境TC测试的治具-CN201120223728.2有效
发明人： 储征毓;曹刚;沈国飞 -专利权人：上海华虹NEC电子有限公司
申请日： 2011-06-28 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于可靠性环境TC测试的治具，包括一个顶部开放的方形金属容器和多个金属体，所述各金属体分别包括一顶板、位于顶板两端且垂直于顶板的端板，顶板向下延伸出一金属挡片，所述金属挡片垂直于金属体的顶板和两端板，所述各金属体活动地设于金属容器内，且各金属挡片相互平行，金属容器内部被金属挡片分隔成多个容纳试样的区域。本实用新型可以根据样品本身的尺寸大小调整金属体的位置，从而调节适合于样品的放置区域，使样品固定在合适的金属挡片之间，这样在测试气流的冲击下样品也不会发生移动碰撞，避免了样品管脚变形和小样品被吹飞等情况的发生。
用于可靠性环境 tc 测试

[发明专利]通用于多种产品的老化测试板及老化测试方法-CN200810035094.0有效
发明人：郑鹏飞;刘云海;储征毓;丁佳妮 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2008-03-25 - 公布日： 2009-09-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种通用于多种产品的老化测试板及老化测试方法，其上设有集线板插接区，而利用改变插入其中的集线板来代替先前技术中的更换整个老化测试板方案，降低测试成本的同时提高了测试效率。该老化测试板包括：集线板，集成有一测试周边电路；芯片插接区，具有多个芯片插座，以插接待测试芯片；集线板插接区，具有一个或多个集线板插座，以插接一个或多个集线板，该集线板插接区电性连接于上述芯片插接区，以使得所插接的集线板与待测试芯片电性连接，其中插接于集线板插接区的集线板集成有与芯片插接区所插接的芯片相匹配的测试周边电路。
通用多种产品老化测试方法