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[发明专利]一种镜片缺陷检测方法-CN202310410951.5在审
发明人：何黎煜;杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明公开了一种镜片缺陷检测方法，包括图像获取模块、环形光源以及设于图像获取模块和环形光源之间的支架，所述支架用于放置镜片，所述环形光源包括相互层叠的第一环形光源和第二环形光源，所述第一环形光源的直径大于第二环形光源的直径。当开启第一环形光源时，会形成第一检测区域以及第一过曝区域，关闭第一环形光源后再开启第二环形光源时，会形成第二检测区域以及第二过曝区域，通过第一检测区域和第二检测区域可以获取镜片相对应区域的缺陷，同时通过第一检测区域和标准图像对比，可以获取第二图片在光线穿透后无法获取的缺陷；通过第二检测区域和标准图像对比，可以获取第一图片在光线穿透后无法获取的缺陷。
一种镜片缺陷检测方法

[实用新型]一种滤光片边缘检测装置-CN202320510299.X有效
发明人：何黎煜;杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种滤光片边缘检测装置，包括垂向架、调节架和黑色吸嘴，所述垂向架设有视觉装置，所述视觉装置包括基座、设于基座上方的相机以及设于相机下方的远心镜头，所述调节架设有同轴光源，所述调节架可带动同轴光源垂向移动，所述同轴光源设于远心镜头的下方位置，所述黑色吸嘴设于同轴光源的下方位置，所述黑色吸嘴可将滤光片吸附固定，与此同时为滤光片检测提供黑色背景。同轴光源发出均匀平行光线照射到滤光片上，滤光片反射光线，光线经过镜头的折射，在相机的感光元件上成像。经过上述一系列光学调整，使得滤光片边缘对比度高、背景均匀，进而凸显出滤光片边缘区域内的脏污、划伤、崩边等缺陷，便于算法图像处理。
一种滤光边缘检测装置

[发明专利]一种丝印滤光片小片检测计数方法及设备-CN201910424843.7有效
发明人：杨小冬;邓诗语 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2019-05-21 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种丝印滤光片小片检测计数方法及设备，该方法包括将待检测的滤光片放置在所述载物装置的托盘上；所述背光源装置发射一束组合光束射向所述滤光片；调节所述光学取像装置的焦距以及背光源装置的亮度，直至所述图像分析计算系统中呈现的实时滤光片画面中丝印轮廓分明、边缘清晰；所述图像分析计算系统根据所述丝印轮廓的大小状况及清晰程度，选择对应的分割检测算法，从而统计所述滤光片中良品小片的个数。本发明提供的一种丝印滤光片小片检测计数方法及设备，相较于行业内其他厂家做的计数设备，不需要事先输入切割片的行列数便能自动识别并统计托盘上的丝印滤光片小片的个数，具有计数稳定准确，误差低，效率高的特点。
一种丝印滤光小片检测计数方法设备

[发明专利]一种透明注塑器件缺陷检测方法-CN202310311800.4在审
发明人：何黎煜;杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2023-03-27 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明公开了一种透明注塑器件缺陷检测方法，包括高透玻璃、设于高透玻璃下方的面光源、设于高透玻璃上方的图形采集装置，检测步骤：S1：透明注塑器件放置于高透玻璃上，并打开面光源；S2：光线穿过透明注塑器件；S3:光线穿过透明注塑器件后使其不同高度的轮廓显型；S4：图像采集装置实现不同高度的轮廓数据采集，获得多层次图像集合；S5:图像对比模块，所述图像对比模块有标准产品轮廓样本，多层次图像集合与标准产品轮廓样本比对，并获取透明注塑器件的缺陷因子分布位置。通过高透玻璃和面光源的配合可以实现光线穿过透明注塑器件本体，避免了检测盲区，且不同高度以及不同层次的轮廓均可显示形状。
一种透明注塑器件缺陷检测方法

[发明专利]面向多领域的高适应性识别计数方法-CN202010424473.X有效
发明人：郭凌宇;杨小冬;邓诗语;郑树奎 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-05-19 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向多领域的高适应性识别计数方法，适于对目标进行计数，其包括如下步骤：输入待测图像；对所述待测图像的待测区域进行基于灰度信息及形状信息分析，得到目标区域ROI；提取所述目标区域ROI的阵列特征；依据所述阵列特征判断所述目标是否呈规则阵列分布，依据判断结果对所述目标进行计数，以得到所述目标的计数值；本发明的面向多领域的高适应性识别计数方法可自动寻找目标并进行计数操作，以满足不同领域的计数需求，且无需重复开发、部署，其适应性强、计数效率高，能够大大缩短计数方法的开发周期，有效提高生产率。
面向领域适应性识别计数方法

[发明专利]一种无丝印滤光片小片检测计数方法及设备-CN201910425725.8有效
发明人：杨小冬;汤杰 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2019-05-21 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种无丝印滤光片小片检测计数方法及设备，该方法包括将待检测的滤光片放置在承载组件上；光源组件发射一束组合光束射向滤光片；调节图像采集组件的焦距以及光源组件的亮度，直至图像检测计数系统中呈现的实时滤光片画面中丝印轮廓分明、边缘清晰；图像检测计数系统采用灰度投影检测算法分割滤光片图像，得到若干个无丝印滤光片的矩形区域；以及在每一个矩形区域内部寻找黑色mark点，遍历每一个真实区域，并记录没有被黑色mark点标记的区域，从而统计得到滤光片中良品小片的个数。本发明能够实现对无丝印滤光片小片的快速精确计数，消除人工清点计数消耗工时大，统计精确度低的问题，使计数工作简单方便，生产效率提高。
一种丝印滤光小片检测计数方法设备

[发明专利]一种CIS芯片缺陷检测方法及装置-CN202111469425.3在审
发明人：杨小冬;何黎煜 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及表面缺陷检测技术领域，具体公开一种CIS芯片缺陷检测方法及装置，所述方法包括：向待检测CIS芯片发射绿色的线状光束后，获取待检测CIS芯片的第一图像；向待检测CIS芯片发射蓝色的环状光束后，获取待检测CIS芯片的第二图像；根据所述第一图像对所述待检测CIS芯片进行点状缺陷检测，根据所述第二图像对所述待检测CIS芯片进行彩虹纹缺陷检测。本发明提供一种CIS芯片缺陷检测方法及装置，能有效提高摄像组件获取的黑白图像中点状缺陷和彩虹纹缺陷二者对应的缺陷区域的灰度值与非缺陷区域的灰度值的差异，进而提升表面缺陷的检测准确度。
一种 cis 芯片缺陷检测方法装置

[实用新型]一种薄玻璃滤光片检测装置-CN202121419711.4有效
发明人：杨小冬;何黎煜;唐江桃 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2021-06-24 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种薄玻璃滤光片检测装置，包括检测相机、图像处理装置、用于承托薄玻璃滤光片的承托支架和用于正对所述薄玻璃滤光片的板面发出平行光的平行光源；所述检测相机的入光口设置有远心镜头，所述检测相机用于通过所述远心镜头获取所述薄玻璃滤光片在所述平行光照射下的图像；所述图像处理装置电连接所述检测相机，所述图像处理装置用于根据所述图像检测所述薄玻璃滤光片的凹点缺陷。本实用新型能有效提升对较小的凹点缺陷的识别能力。
一种玻璃滤光检测装置

[实用新型]一种滤光片的缺陷检测系统-CN202022268631.5有效
发明人：杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-10-13 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种滤光片的缺陷检测系统，包括工作台，工作台上设有输送模组、检测模组和分拣模组，输送模组包括上料输送线和下料输送线，下料输送线包括平行设置的合格输送线和缺陷输送线；分拣模组包括架设于合格输送线和缺陷输送线的上方的第一分拣移栽机构，第一分拣移栽机构上驱动连接有下料机械臂，下料机械臂用于将位于合格输送线上的缺陷品分拣至缺陷输送线中，以及用于将缺陷输送线中的合格品分拣至合格输送线中。本实用新型提供了一种滤光片的缺陷检测系统，通过第一分拣移栽机构实现合格输送线和缺陷输送线中合格品与缺陷品的互换分拣，取代了人工分拣的方式，有效提高了滤光片的生产效率。
一种滤光缺陷检测系统

[发明专利]用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质-CN202011091887.1在审
发明人：杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-10-13 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法，其包括如下步骤：采集待测滤光片的图像，得到待测图像；对所述待测图像进行差分处理，得到差分图像；提取所述差分图像的镜面区域；对所述待测图像和镜面区域进行做差处理，得到丝印候选区域；从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域；本发明能够兼容定位不同类型的丝印区域，有效满足不同的定位要求；本发明还公开了用于滤光片的丝印区域粗定位方法及存储介质。
用于滤光丝印区域定位方法装置存储介质

[发明专利]多角度低对比度划痕提取方法、装置及存储介质-CN202010724054.8在审
发明人：杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多角度低对比度划痕提取方法，其包括如下步骤：获取待测图像；对所述待测图像进行预处理，得到目标区域ROI；对所述目标区域ROI按照预设的比例因子进行缩放处理，得到第一处理区域Roi_Scale_Image；对所述第一处理区域Roi_Scale_Image进行划痕加强处理，得到第二处理区域Roi_After_Fft；对所述第二处理区域Roi_After_Fft进行划痕提取处理；将划痕提取处理后的所述第二处理区域Roi_After_Fft仿射回所述待测图像，以得到目标图像；本发明能检测部分高噪声下的低对比度划痕，且有效降低划痕缺陷漏检率；本发明还公开了多角度低对比度划痕提取装置和存储介质。
角度对比度划痕提取方法装置存储介质

[发明专利]一种滤光片的缺陷检测系统及方法-CN202010710171.9在审
发明人：杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种滤光片的缺陷检测系统及方法，其中系统包括设于工作台用于承载滤光片的检测工位，位于检测工位的一侧设有用于实现滤光片检测的检测模组；检测模组包括对准于检测工位设置的检测相机，以及位于检测工位下方的下光源，下光源的照射角度倾斜于检测工位的垂直方向。本发明采用与现有技术中的上光源不同的打光方式，通过设置带角度的下光源进行缺陷检测，使得检测光束从待检测滤光片的下方向上照射进入相机，从而能够更清晰地检测出膜裂、浅脏污等缺陷；此外，带角度的光源比平行光具有更好的半透明轻微缺陷的显现能力，甚至能够与人眼在显微镜下观察缺陷的效果相媲美，因此进一步优化了轻微缺陷的成像效果。
一种滤光缺陷检测系统方法

[发明专利]封装品质检测方法及封装品质检测设备-CN202010425183.7在审
发明人：郭凌宇;杨小冬;邓诗语;郑树奎 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-05-19 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种封装品质检测方法，适于对连袋小包进行缺陷检测，其包括如下步骤：获取当前连袋小包的待检测区域的实时图像；调整待检测区域的实时图像焦距，直至待检测区域的实时图像轮廓分明、边缘清晰；分析获取待检测区域的实时图像的横封区域、侧封区域、小包区域，检测所述横封区域、侧封区域、小包区域的缺陷点和缺陷区域，并生成检测结果；本发明既能够对连袋小包的多种缺陷进行高精度的实时有效检测，避免因人工检测迟滞而造成资源浪费，有效节约生产成本，有效简化检测流程及提升准确率，又能够检测出厚度间距法无法检测的缺陷，并大大降低因漏检而造成的污染；本发明还公开了一种封装品质检测设备。
封装品质检测方法设备

[发明专利]一种透镜缺陷检测系统-CN202010197860.4在审
发明人：杨小冬 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2020-03-19 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明提出了一种透镜缺陷检测系统，包括：第一检测工位组件、第二检测工位组件沿传输机构呈环状排列。第一检测工位组件用于对待检测透镜的上表面的进行检测；检测完成后，由传输机构将待检测透镜传送至第二检测工位组件的第二检测工位。第二检测工位组件用于对待检测透镜的上表面的进行检测；上位机获取待检测透镜的成像照片，对成像照片进行分析，以分析检测出待检测透镜的缺陷类型。本发明采用环光发散式打光方式，实现对圆形透镜最天然的均匀照射，同时，不受不同透镜曲率不同的影响，设置灯珠的光出射方向成一定角度，很好的将缺陷打出对比度；采用双远心镜头，防止成像畸变实现对所有种类透镜的所有种类缺陷的成像和检测。
一种透镜缺陷检测系统

[发明专利]一种滤光片中片外观和尺寸一体化检测设备及检测方法-CN201910425731.3在审
发明人：杨小冬;郭凌宇;马靓 -专利权人： 东莞市瑞图新智科技有限公司
申请日： 2019-05-21 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种滤光片中片外观和尺寸一体化检测设备及检测方法，该设备包括工作台和设置在工作台上的承载组件、光源组件、图像采集组件、图像处理及分析系统、激光打标器；光源组件有两个，分别为上光源组件和下光源组件，上光源组件和下光源组件对称设置在承载组件的上方和下方；图像采集组件设置在上光源组件的上方且与上光源组件和下光源组件设置于同一竖直平面，图像处理及分析系统与图像采集组件通信连接，激光打标器设置在承载组件的一侧上方。本发明可以实现对滤光片中片丝印尺寸的精确测量，对滤光片中片及丝印的所有种类缺陷的高效精确成像和检测，以及对尺寸或外观缺陷进行快速标识，方便后续生产环节识别并排除。
片中片上光源滤光图像采集组件承载组件下光源激光打标器一体化检测分析系统光源组件图像处理丝印检测同一竖直平面对称设置精确成像快速标识生产环节通信连接外观缺陷组件设置工作台测量

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