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[发明专利]芯片测试装置和测试系统-CN202310625876.4有效
发明人：方雅祺;马茂松 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种芯片测试装置和测试系统。该装置用于为分析设备提供待测芯片的待测信号，包括：测试平台，具有相对的第一表面和第二表面，用于提供测试信号；芯片接口，设于测试平台的第一表面，并与测试平台电连接；芯片接口用于与待测芯片电连接，将测试信号从测试平台传递至待测芯片，使待测芯片产生待测信号；测试接口，设于测试平台的第二表面，并与芯片接口电连接；测试接口用于与分析设备的接头电连接，以将待测信号传递至分析设备中；在垂直于测试平台的方向上，测试接口与芯片接口对应设置；测试底座，设于第二表面的对应测试接口处，用于固定分析设备的接头。本公开能够降低信号的损耗，提高信号的质量，使得测试结果更加精确。
芯片测试装置系统

[发明专利]一种芯片仿真模型的修正方法、装置、设备及介质-CN202210312296.5在审
发明人：刘建斌;马茂松 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-28 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片仿真模型的修正方法、装置、设备及介质，该方法包括：首先根据初始数据形成初始模型曲线，其次确定预设选择窗，通过预设选择窗多次扫描初始模型曲线，获得多个修正模型曲线，其中，修正模型曲线为预设选择窗内的所述初始模型曲线，再次根据每个修正模型曲线对应的修正模型数据生成仿真波形，最后将每个仿真波形与标准波形进行对比，确定误差参数最小的修正模型数据为最终修正数据。由于将每个修正模型曲线对应的修正模型数据生成的仿真波形与标准波形进行对比，将误差参数最小的修正模型数据作为最终修正数据，从而可以减少初始模型曲线中的无效稳态时间，提高了芯片仿真模型支持的最高频率，进而提高芯片仿真模型的仿真精度。
一种芯片仿真模型修正方法装置设备介质

[发明专利]一种芯片仿真模型的验证方法、装置、设备及介质-CN202210312911.2在审
发明人：刘建斌;马茂松 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-28 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片仿真模型的验证方法、装置、设备及介质，应用于电子设计领域，用于解决无法自动验证芯片仿真模型的问题，该方法包括：首先，选择目标模型，获取目标模型中的待测数据；然后，将待测数据中的待测电阻和待测电压代入验证模型，获得测量电压；再然后，判断测量电压是否符合验证模型中待测电压与待测电阻值的关系，若符合，则确认目标模型验证通过，若不符合则目标模型错误。通过将目标模型中的待测数据中的待测电阻和待测电压代入验证模型，得到测量电压，再判断测量电压是否符合验证模型中待测电压与待测电阻值的关系，从而实现对芯片仿真模型的自动验证，进而提高验证芯片仿真模型的效率。
一种芯片仿真模型验证方法装置设备介质

[发明专利]存储器同步开关噪声的测试方法以及测试装置-CN202210225011.4在审
发明人：方雅祺;马茂松;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-07 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种存储器同步开关噪声的测试方法以及测试装置，所述测试方法包括：确定存储器的一个数据输入输出端作为第一数据端，其余数据输入输出端作为第二数据端，并确定所述第一数据端的传输频率为第一频率，所述第二数据端的传输频率为第二频率；其中，所述第一频率高于所述第二频率；向所述第一数据端写入第一预设数据，向所述第二数据端写入第二预设数据；从所述第一数据端读取写入的所述第一预设数据；根据从所述第一数据端读取的数据对应的频谱信息，确定所述存储器是否存在同步开关噪声。本公开实施例通过区别第一数据端和第二数据端的传输频率，根据数据读写过程中的频谱信息，确定存储器是否存在同步开关噪声。
存储器同步开关噪声测试方法以及装置

[发明专利]存储器和命令序列处理系统-CN202310462071.2有效
发明人： 马茂松;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种存储器和命令序列处理系统，涉及半导体技术领域。该存储器包括：解码单元，用于接收外部芯片发送的命令序列，并对命令序列进行解码，以生成命令序列的解码数据；编码单元，用于对命令序列的解码数据进行编码输出；其中，命令序列为外部芯片访问存储器时向存储器发送的数据。本公开可以提高采集命令序列的准确度并降低费用。
存储器命令序列处理系统

[发明专利]电流测试电路、装置、方法及存储介质-CN202010974536.9有效
发明人： 马茂松;周张琴;陈鑫旺 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-16 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本申请提供一种电流测试电路、装置、方法及存储介质，其中，采样电阻阵列的控制端与主控元件连接，采样电阻阵列的第一端与电源转换电路连接，第二端用于与待测试元件连接，采样电阻阵列包括至少两个采样支路，每个采样支路包括串联连接的模拟开关和采样电阻，主控元件在对待测试元件测试时，可以根据待测试元件的工作状态生成控制信号，并通过控制信号选通采样电阻阵列的至少一个采样支路，通过电压测试组件获取采样电阻阵列两端的电压值，以及根据采样电阻阵列两端的电压值和采样电阻阵列的阻值确定待测试元件的电流。该技术方案中，提高了电流测试电路的适用范围，扩大了能够分辨的电流粒度，提高了电流测试的准确度。
电流测试电路装置方法存储介质

[发明专利]存储器的熔丝熔断方法及装置、存储介质及电子设备-CN202111536723.X在审
发明人：刘建斌;马茂松;钱进 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-12-15 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G11C29/02 文献下载
摘要：本公开是关于一种存储器的熔丝熔断方法及装置、存储介质及电子设备，方法包括：控制存储器进入测试模式，并降低存储器的内部时钟频率；启动熔丝熔断加载模式，控制存储器进入熔丝熔断模式；开启存储器的内部预充电，向熔丝熔断位置寄存器中写入待熔断熔丝位置；启动存储器的熔丝熔断过程，并在预设时间后关闭内部预充电；控制存储器相继退出熔丝熔断模式和测试模式，可以减小存储器等芯片在修补过程中成本较高的问题。
存储器熔断方法装置存储介质电子设备

[发明专利]板卡转接设备及测试方法、系统、装置、设备及存储介质-CN202111282417.8在审
发明人： 马茂松;钱进;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： H01R12/72 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种板卡转接设备及测试方法、系统、装置、设备及存储介质，其中，该板卡转接设备包括：第一转接结构、第二转接结构和信号传输结构；第一转接结构具有与目标存储模组的板卡匹配的金手指；第二转接结构具有与金手指匹配的连接器；信号传输结构包括：第一传输模块，用于将金手指的数据信号线、时钟信号线、地址信号线和控制信号线与连接器中相应的连接线对应连接；第二传输模块，用于在接入电源输入信号的情况下，将电源输入信号转换为与目标存储模组的供电电源匹配的电源输出信号，并将电源输出信号传输至连接器的电源信号线。本公开实施例中，可以提高存储模组测试的灵活性和准确性，便于在多种系统平台上对存储模组进行测试。
板卡转接设备测试方法系统装置存储介质

[发明专利]一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质-CN202111282629.6在审
发明人：刘建斌;马茂松 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请提供了一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质；方法包括：对应于每种预设测试模式，向待测存储阵列中写入存储数据；每种预设测试模式属于预设测试模式库中的一种；对待测存储阵列重复进行行攻击测试，若存储数据出现比特翻转错误，则停止行攻击测试，得到待测存储阵列在每种预设测试模式下对应的行攻击测试次数；比特翻转错误表征存储数据发生改变；基于行攻击测试次数，在预设测试模式库中确定出待测存储阵列对应的目标预设测试模式；基于目标预设测试模式，确定待测存储阵列的阵列结构。本申请能够降低反向设计的成本，简化反向设计的流程。
一种存储阵列结构测试方法装置介质

[发明专利]存储器转接板、存储器测试组件及测试方法-CN202111273020.2在审
发明人： 马茂松;钱进;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开是关于一种存储器转接板、存储器测试组件及存储器测试方法，涉及集成电路技术领域。该存储器转接板包括：线路板和设置在线路板上的存储器芯片测试座、电源转换模块和开关单元；其中，存储器芯片测试座用于安装存储器芯片；电源转换模块用于为存储器芯片提供电源；开关单元用于连通存储器芯片和可编程板卡，可编程板卡用于控制存储器芯片执行测试指令。本公开可以依照测试指令对存储器芯片进行测试。
存储器转接测试组件方法

[发明专利]一种存储器测试方法、设备及装置-CN202110941212.X在审
发明人：陈鑫旺;马茂松;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请涉及动态存储器技术领域，公开了一种存储器测试方法、设备及装置。该存储器测试方法、设备及装置通过将不能直接解码的命令转换成相应的控制信号，进而根据控制信号执行存储器的测试操作。本申请可应用于后端存储器产品的调试和测试，成本低，灵活性高，同时支持不能直接解码的测试指令。
一种存储器测试方法设备装置

[发明专利]一种用于测试内存信号的测试板-CN202111134623.4在审
发明人：石宏龙;马茂松 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种用于测试内存信号的测试板，包括：所述测试板的第一表面包括凸起区域和非凸起区域；其中：所述凸起区域上设置有用于连接主板的第一连接区，所述凸起区域所在平面相对于所述非凸起区域所在平面的高度大于预设值；所述测试板的第二表面包括所述测试区和用于连接内存芯片的第二连接区；所述测试板内设有将所述测试区分别连接到所述第一连接区和所述第二连接区的第一连接线束和第二连接线束，使得基于所述测试区能够测试所述内存芯片的内存信号。本申请能够去除主板上内存芯片的安装位置的尺寸大小的限制，不与内存芯片周边器件发生物理干涉，且无需加入RC匹配，测试板结构更简单。
一种用于测试内存信号

[发明专利]一种测试板卡、测试系统和测试方法-CN202111084968.3在审
发明人：钱进;马茂松;石宏龙 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-09-16 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种测试板卡、测试系统和测试方法，该测试板卡包括寄存时钟驱动器RCD模块和待测试存储器，且RCD模块的输出端与待测试存储器的输入端连接；其中，RCD模块，用于确定目标测试指令；以及在进入脱机模式后，向待测试存储器发送目标测试指令；待测试存储器，用于接收目标测试指令，并根据目标测试指令输出测试结果。这样，本申请实施例提供了一种支持脱机模式的测试板卡，允许脱离系统主板对待测试存储器进行测试，能够方便地修改测试相关参数，提高测试的灵活性和效率。
一种测试板卡系统方法

[发明专利]存储装置的测试方法、测试装置及系统-CN202110812751.3在审
发明人：陈鑫旺;马茂松;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本公开提供了一种存储装置的测试方法、测试装置及系统，其中，测试方法包括：接收测试指令，测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；根据测试指令，从预存的多个测试方法中选择与待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；执行目标测试方法对待测存储装置进行测试。采用本公开的存储装置的测试方法及测试装置，能够在一个测试平台上接入了多种不同型号的待测存储装置进行测试，提高了测试装置的通用性。
存储装置测试方法系统

[发明专利]基于机器学习算法进行串行链路仿真的方法、系统和装置-CN201811611310.1有效
发明人： 马茂松;唐鑫;孙景涛 -专利权人：贵州华芯通半导体技术有限公司
申请日： 2018-12-27 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于机器学习算法进行串行链路仿真的方法、系统和装置，该方法包括基于从第一链路的频域参数得到的第一链路频域特征参数和多个发送/接收器参数组合为输入进行时域仿真得到多个第一输出仿真结果；采用机器学习算法，以第一频域特征参数为输入、多个仿真结果为输出构建出各个关联模型；将从第二链路的频域参数得到的第二链路频域特征参数输入多个关联模型得到多个第二输出结果；从多个第二输出结果中挑选最优结果以及其对应的发送/接收器参数组合，从而完成快速仿真过程。
基于机器学习算法进行串行仿真方法系统装置

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