专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于单像素的非成像晶圆表面缺陷检测方法及存储介质-CN202311056927.2在审
  • 钟翔;孙宇;曹翰昱;谷家霖;马孟超 - 合肥工业大学
  • 2023-08-22 - 2023-10-20 - G06T7/00
  • 本发明的一种基于单像素的非成像晶圆表面缺陷检测方法及存储介质,包括将预设编码照明图案投射到待测晶圆表面,以使所述编码照明图案经待测晶圆表面得到反射图案;采集所述反射图案的光强值,将光强值与缺陷图案进行数据分割与标签化处理;通过特征选择算法选取高相关性K个特征,并反推得到新的编码照明图案组合;将新的编码照明图案组合投射至其他待测晶圆表面之后采集反射光强值并进行特征抽取,把抽取的特征通过随机森林算法实现对晶圆缺陷的检测。本发明无需事先成像,可以直接获取待测晶圆表面的信息,因此不受物体成像质量的限制,减少光学系统、噪声、图像畸变等因素的影响,特别是避免了虚像问题,提高了晶圆表面缺陷检测的鲁棒性。
  • 基于像素成像表面缺陷检测方法存储介质
  • [发明专利]一种基于单像素成像的光弹性法-CN202111167793.2有效
  • 邓华夏;黄晓宇;高夕成;管擎天;马孟超;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2021-09-29 - 2023-09-22 - H04N23/55
  • 本发明的一种基于单像素成像的光弹性法,基于DMD的单像素成像光路,包括使用MATLAB预先生成傅里叶基底图;布置平面偏振光场,放置试件并对其施加压力;暗场下对试件上出现的光弹性条纹进行单像素成像,由光电探测器进行采样,使用台式万用表记录;在MATLAB中进行图像重建,得到六幅光弹性条纹图案;计算全场的等倾线和等差线参数,得到相位图。本发明通过引入单像素成像技术以替代CCD或CMOS这类相机,仅使用一个不具备空间信息分辨能力的单像素探测器即可进行成像,结构简单,其成像系统也无需复杂的透镜组,能够极大地简化光学设计。相较于阵列式的探测器,单像素探测器具有更高的量子效率、更低的暗噪声和更短的响应时间等优势,并且制造成本更低。
  • 一种基于像素成像弹性
  • [发明专利]一种基于双脉冲调制的分布式光纤传感方法及系统-CN202110062672.5有效
  • 钟翔;章宝飞;任杰;邓华夏;陈晓珊;桂栋梁;马孟超 - 合肥工业大学
  • 2021-01-18 - 2023-07-04 - G01D5/26
  • 本发明公开了一种基于双脉冲调制的分布式光纤传感方法及系统。其中,该方法包括:获取连续光;将所述连续光经过声光调制器(2)调制成周期性变化的双脉冲序列进行放大处理,得到第一高功率探测光;将所述第一高功率探测光通过环形器进入传感光纤,获得后向瑞利散射光,其中所述第一高功率探测光的前后脉冲序列形成相互干涉的后向瑞利散射光,所述相互干涉的后向瑞利光携带所述传感光纤的扰动信息;将所述后向瑞利散射光放大并进行耦合,获得第二高功率探测光;利用所述第二高功率探测光经过光电转换获得所述传感光纤上的扰动信息。本发明解决了现有技术不能做到简化传感装置、降低解调方法复杂度的同时还能保证足够的传感距离和解调精度的技术问题。
  • 一种基于脉冲调制分布式光纤传感方法系统
  • [发明专利]一种全景单像素成像装置及方法-CN202110950204.1有效
  • 马孟超;毛宁;陈春阳;邓华夏;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2021-08-18 - 2023-05-23 - H04N23/957
  • 本发明公开了一种全景单像素成像装置及方法,包括用于对目标物体进行投影的数字投影仪、用于对目标物体进行背面反射的平面镜镜组、用于检测目标物体前面光强值的第一光电探测器、用于检测目标物体背面光强值的第二光电探测器、用于采集第一光电探测器和第二光电探测器所采集光强值的数字信号采集装置、以及用于图像生成及单像素图像恢复的计算机;数字投影仪设置于目标物体的前面,平面镜镜组设置于目标物体的背面,第一光电探测器和第二光电探测器的输出端连接到数字信号采集装置;在该全景单像素成像装置中目标物体的前后分别设置光电探测器,与数字信号采集装置、数字投影仪、平面镜镜组组合,达到同步投影,实现自动同步成像。
  • 一种全景像素成像装置方法
  • [发明专利]一种自传感磁流变旋转阻尼器-CN202211694976.4在审
  • 邓华夏;胡荣昌;韩光辉;赵世宇;马孟超;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2022-12-28 - 2023-05-09 - F16F9/53
  • 本发明的一种自传感磁流变旋转阻尼器,包括磁流变阻尼部分和角速度自传感部分,旋转阻尼器的旋转轴分为上转轴和下转轴两部分,上下转轴通过螺纹孔连接;角速度自传感部分包括摩擦纳米发电单元和信号处理单元;在下转轴上安装了摩擦纳米电结构,聚四氟乙烯套筒固定在下壳体上,铝箔贴在聚丙烯圆筒上,圆筒固定在下转轴上;上转轴与电机相连;转轴位于壳体内,磁流变液填充在转盘与壳体之间的间隙内,并在壳体上部和下部分别放置一个轴承,使转子能够独立于壳体旋转;还包括励磁线圈缠绕在铝合金骨架上并固定在壳体内。本发明所设计的自传感磁流变旋转阻尼器适用于旋转运动所需的阻尼力;同时简化了系统的结构,提高了系统的稳定性。
  • 一种传感流变旋转阻尼
  • [发明专利]一种变景深的水下物体的位置补偿系统及方法-CN202211705257.8在审
  • 马孟超;陈春阳;查沛源;钟翔;邓华夏 - 合肥工业大学
  • 2022-12-29 - 2023-04-25 - G01C11/30
  • 本发明的一种变景深的水下物体的位置补偿系统及方法,包括分光镜、滤波片和平面镜,还包括投影仪投影照明图案,照明图案通过一个45度放置的分光镜,分成左右两个光路;右光路是透过分光镜后,经过蓝色滤波片一到达物体表面,反射的光强透过蓝色滤波片二,被光电探测器一收集;左光路经过分光镜反反射后透过黄色滤波片一,再经过平面镜的反射到达一个与投影仪平行放置的长方体的电致变折射率物质正面,在电致变折射率物质中发生折射后到达物体的表面,反射的光强透过黄色滤波片二,被光电探测器二所收集。本发明通过变景深多次测量,对水下物体的三维位置进行补偿,从而获得水下物体的精确位置,消除了折射率引起的误差。
  • 一种景深水下物体位置补偿系统方法
  • [发明专利]一种时分复用的温度、振动测量光纤传感系统-CN202211663624.2在审
  • 钟翔;陈晓珊;曹瀚昱;孙宇;任杰;邓华夏;马孟超 - 合肥工业大学
  • 2022-12-23 - 2023-04-11 - G01D21/02
  • 本发明公开的一种时分复用的温度、振动测量光纤传感系统,包括光源发出连续光进入光开关,光开关经上位机控制,可选择输入波分复用器或1*2耦合器二,当选择输入1*2耦合器二时,进行温度检测;当选择输入波分复用器时,连续光经过波分复用器的滤波和掺铒光纤的放大,出来的为适合进行振动检测的连续光;滤波后的光会在隔离器的作用下进行循环放大;该放大后的连续光经耦合器进入调制器和放大器进行调制和放大,通过环形器进入检测光纤,返回的后向散射光根据不同的检测模式,分别进入波分复用器和干涉仪,经光电转换后,由采集卡进行数据采集,最后在上位机里进行数据处理。本发明采用时分复用的方法,对双参数的测量速度快,可以实现实时检测。
  • 一种时分温度振动测量光纤传感系统
  • [发明专利]抗干扰单像素成像边缘检测方法及系统-CN202211737269.9在审
  • 马孟超;梁文博;高一;邓华夏;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2022-12-30 - 2023-04-11 - G06T7/13
  • 本发明的一种抗干扰单像素成像边缘检测方法及系统,其方法是将哈达码基图案与二阶微分算子的卷积结果,即哈达码基图案的边缘作为调制图案,并用于直接提取未知物体的边缘,而无需任何先验成像。其中ESI方案是一种差分式的边缘敏感的单像素成像边缘检测方案,可以有效的抑制噪声并消除静态光干扰,这是传统成像方式无法做到的。SESI方案是一种单步式的边缘检测方案,虽然是非差分式的,但仍然能消除静态光干扰,并且与已有的基于单像素成像的边缘检测方法相比,使得边缘检测所需要的调制图案至少减少了一半。本发明可以直接对物体进行边缘检测,无需事先成像,不受物体成像质量的限制,且环境光的干扰不会对直接边缘检测的结果造成显著影响。
  • 抗干扰像素成像边缘检测方法系统
  • [发明专利]单像素成像的半导体晶圆表面缺陷提取方法及存储介质-CN202211640628.9在审
  • 邓华夏;肖星志;王佳祺;马孟超;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2022-12-20 - 2023-04-04 - G01N21/88
  • 本发明的一种单像素成像的半导体晶圆表面缺陷提取方法及存储介质,其方法包括以下步骤,获取一个无缺陷晶圆的表面图像;将获取到的无缺陷的晶圆图像预处理到哈达玛投影图案中,形成一系列全新的编码照明图案;将这一系列新的编码照明图案投影到待测晶圆表面,并使用一个光电探测器获取编码照明图案调制到晶圆表面的反射光强值,所获取的反射光强值将只包含了晶圆表面缺陷的形貌特征,没有缺陷的部分将被滤除;根据获取到的反射光强值,计算晶圆表面缺陷的哈达玛谱,使用哈达玛反变换,将哈达玛谱转换成晶圆表面缺陷的图像,从而实现对晶圆表面缺陷的提取。本发明只对缺陷部分进行成像和处理,对无缺陷的冗余部分进行了滤除,降低了计算开销,提高了缺陷提取的有效性。
  • 像素成像半导体表面缺陷提取方法存储介质
  • [发明专利]基于逻辑回归的浑浊水下物体成像计算方法及存储介质-CN202211695541.1在审
  • 马孟超;顾磊;贾亦祺;邓华夏;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2022-12-28 - 2023-03-31 - G06T5/00
  • 本发明的一种基于逻辑回归的浑浊水下物体成像计算方法及存储介质,包括以下步骤,使用哈达玛单像素成像方法进行图像数据采集;对使用哈达玛单像素成像方法采集到的数据进行两步处理,第一步是多项式拟合,第二步是频谱数据特征强化;最后,将经过上述两步处理方法处理之后的得到数据经过哈达玛逆变换得到最终成像图。本发明的方法,减少了传统浑浊水下成像的消耗成本,仅在频谱上对一个数据点进行改动从而对最终成像图对比度提升较大,大大减小了图像增强的计算量,成像图的对比度较原图提升了三到五倍,另外在高浑浊度水中依然可以取得较好的效果,对于纸质、塑料、金属等材质的物体都有较好的成像效果,具有广泛的适应性和很高的鲁棒性。
  • 基于逻辑回归浑浊水下物体成像计算方法存储介质
  • [发明专利]对高速旋转物体的同步旋转编码单像素成像方法及介质-CN202211454075.8在审
  • 马孟超;王晨;贾亦祺;邓华夏;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2022-11-21 - 2023-02-28 - G06T5/00
  • 本发明的一种对高速旋转物体的同步旋转编码单像素成像方法及介质,其方法包括生成设好顺序的同步转编码图案;将这些同步旋转编码图案烧录进高速DMD内;旋转物体逆时针每旋转一度时,高速DMD将一个同步旋转编码图案投射到待测旋转物体表面中心位置;紧接着采集旋转物体表面反射的光强信号,直到同步旋转编码图案投完结束;最后对采集到的全部光强信号值输入到计算机中,通过图像恢复程序进行处理,重建出旋转物体的图像。发明通过同步旋转编码即可解决旋转物体的重建图像质量差的问题,利用四步相移傅里叶单像素成像技术,根据物体旋转角度和同步旋转编码图案的之间关系,设计出适合旋转物体成像的同步旋转编码图案。
  • 高速旋转物体同步编码像素成像方法介质
  • [发明专利]一种基于立体视觉数学模型的空间点三维坐标求解方法-CN201810931481.6有效
  • 张进;柴志文;邓华夏;余寰;马孟超;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2018-08-16 - 2022-10-25 - G06T17/00
  • 本发明提供一种基于立体视觉数学模型的考虑内参中多因素的世界坐标系下空间点三维坐标的高精度求解方法。本发明基于双目立体视觉系统,在标定得出双目立体视觉系统中左右相机参数初始参数后,通过图像重投影误差最小化原则对相机参数进行迭代优化,得到左相机内参不等焦距、右相机内参不等焦距以及左、右相机坐标系相机光轴在左、右图像坐标系中的偏移量。对同一目标点进行拍摄,通过优化后的左右相机参数提高恢复目标点三维信息的精度。并建立左图像坐标系与世界坐标系间关系、建立右相机坐标系与世界坐标系间关系、建立右图像坐标系与右相机坐标系间关系,通过左图像坐标系、右图像坐标系、世界坐标系、右相机坐标系间关系,实现空间点三维坐标的高精度求解。
  • 一种基于立体视觉数学模型空间三维坐标求解方法
  • [发明专利]一种基于模态学习的全局动应变测量方法-CN201910195104.5有效
  • 邓华夏;王君;张海聪;张进;马孟超;钟翔 - 合肥工业大学
  • 2019-03-14 - 2022-10-14 - G06F17/15
  • 本发明公开了一种基于模态学习的全局动应变测量方法,包括以下步骤,首先对动态数据进行采集;首先采集到振动位移和动态应变量;其次为模态学习模型的建立;首先根据模态扩展、振动位移和动态应变量之间的关系建立目标函数;其次采用机器学习算法对目标函数中的振型函数系数、模态坐标进行优化:模态学习模型的训练学习,主要包括初始值的设定和两个训练过程;本发明采用模态学习方法,通过对少量的实测数据进行训练,即可得对结构的全局动应变进行预测;同时本发明能够在不关闭测试设备的情况下连续校准现场测量数据,还可能为动态对象提供完整的三维位移和应变信息;而且本发明新的测量数据可作为训练集对测量结果进行校准。
  • 一种基于学习全局应变测量方法

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