专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种引线框架生产的激光曝光设备-CN202310899806.8在审
  • 高小平;孙煜;雷诚 - 安徽立德半导体材料有限公司
  • 2023-07-21 - 2023-10-24 - H01L21/48
  • 本发明公开了一种引线框架生产的激光曝光设备,涉及曝光设备技术领域,包括曝光机构,曝光机构的进入端外部设有放卷辊、且输出端外部设有收卷辊;放卷辊与曝光机构之间设有导向辊一与导向辊二,收卷辊与曝光机构之间设有导向辊三与导向辊四,导向辊一与导向辊二之间、以及导向辊三与导向辊四之间均设有自动调节机构;自动调节机构包括压辊机构和重力机构,压辊机构包括支板一和支板二,支板一与支板二之间滑动设置有压辊;重力机构与压辊两端的中心轴相连;本发明通过压辊机构和重力机构对引线框架的张力进行自动调节,使引线框架的张力始终保持稳定,保证引线框架在经过曝光机构中时更加平稳,受到曝光的程度更加均匀,提高曝光效果。
  • 一种引线框架生产激光曝光设备
  • [发明专利]一种超快压缩相位成像系统及方法-CN202310766102.3在审
  • 雷诚;李如冰;翁跃云;林思源 - 武汉大学
  • 2023-06-26 - 2023-10-10 - G01N21/45
  • 本发明属于高速成像技术领域,公开了一种超快压缩相位成像系统及方法。本发明对时域展宽的脉冲进行分光处理得到第一脉冲和第二脉冲;在信号路,对第一脉冲进行编码调制得到结构光信号,结构光信号通过信号采集单元后形成包含样品信息的信号路光脉冲;在参考路,第二脉冲通过调整单元后形成参考路光脉冲;信号路光脉冲与参考路光脉冲均入射至耦合器并得到干涉信号,干涉信号经压缩采集单元进行压缩采集后入射至信号处理单元,信号处理单元利用重构算法恢复样本信息。本发明能够避开当前压缩相位成像复杂的光场调控过程,突破空间光调制器的编码速率,大幅提高成像的帧速率,实现超快连续相位成像。
  • 一种压缩相位成像系统方法
  • [发明专利]一种超快超分辨成像方法及装置-CN202310525611.7在审
  • 雷诚;杨凯宁;肖瑞东;王度 - 武汉大学
  • 2023-05-10 - 2023-09-15 - G01N21/84
  • 本发明属于超快成像技术领域,公开了一种超快超分辨成像方法及装置。本发明利用STAMP单元对待观测样品进行超快成像,得到垂直于z轴方向、按光波长沿x轴分开的m个脉冲;利用分束单元将m个脉冲均沿y轴分束成n组,得到具有相同光强且无光程差的m*n个脉冲;利用空间光调制器分n个区域对入射脉冲进行调制,得到m*n个携带待观测样品信息的结构光脉冲;m*n个结构光脉冲入射至成像透镜,并在超快相机上会聚成像;图像重建单元以超快相机捕获到的m*n幅图像作为超分辨图像重建源,进行图像重建得到超分辨图像。本发明解决了超快成像技术中图像分辨率较低的问题,能够在保证超快成像系统成像速率不变的情况下获得超分辨图像。
  • 一种超快超分辨成像方法装置
  • [发明专利]一种引线框架缺陷单元的定位方法及系统-CN202310596352.7在审
  • 高小平;雷诚;杨敬海 - 安徽立德半导体材料有限公司
  • 2023-05-22 - 2023-09-15 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种引线框架缺陷单元的定位方法及系统,包括定位检测箱,所述定位检测箱下部设置有输送组件,所述输送组件上固定设置有用于放置引线框架的置物台,所述定位检测箱内部设置有拍摄机箱,所述拍摄机箱上安装有两组用于对引线框架表面进行拍摄的摄像头;所述定位检测箱上部设置有定位检测仪,所述定位检测仪与拍摄机箱相连,对摄像头拍摄的图片进行缺陷单元的分析检测;本发明通过水平转动可以使得摄像头能够从不同的角度对引线框架表面进行检测,从而确保对引线框架的缺陷单元进行精准的检测和定位,通过定位检测仪对比进行缺陷单元的检测,确保检测的精度和效率。
  • 一种引线框架缺陷单元定位方法系统
  • [发明专利]一种高成像速率的结构光超分辨成像方法及装置-CN202310527966.X在审
  • 雷诚;杨凯宁;肖瑞东;王度 - 武汉大学
  • 2023-05-10 - 2023-09-05 - G01N21/84
  • 本发明属于超分辨成像技术领域,公开了一种高成像速率的结构光超分辨成像方法及装置。本发明对待观测样品进行显微成像,携带有待观测样品信息的光束反射至分束单元;利用分束单元将入射光束分束为m束子光束,利用空间光调制器分m个区域对m束子光束进行调制,得到m束携带有待观测样品信息的结构光;m束结构光经成像透镜后在超快相机上会聚成像得到m幅图像;图像重建单元以m幅图像作为超分辨图像重建源,进行图像重建得到超分辨图像。本发明解决了现有的结构光照明显微技术成像速率较低的问题,能够在保持图像超分辨能力的同时提升成像速率。
  • 一种成像速率结构分辨方法装置
  • [发明专利]一种引线框架及其制备方法-CN202310670260.9在审
  • 高小平;雷诚 - 安徽立德半导体材料有限公司
  • 2023-06-07 - 2023-09-05 - H01L21/48
  • 本发明公开了一种引线框架及其制备方法,包括:步骤一、选取铜带基板,并对铜带基板进行电镀前表面预处理;步骤二、将步骤一中铜带基板进行一次曝光,随后对一次曝光后的铜带基板进行电镀处理;步骤三、将电镀后的铜带基板进行退膜清洗,铜带基板清洗完成后进行蚀刻前预处理;步骤四、将步骤三中蚀刻预处理完成的铜带基板进行二次曝光,随后对二次曝光后的铜带基板进行表面蚀刻加工;步骤五、将步骤三中蚀刻加工完成后的铜带基板退膜清洗,烘干后贴带获得成品引线框架;本发明采用先电镀后蚀刻的方式制备引线框架,能够使得引线框架在蚀刻的图形转移工艺中可以做更精准、更小的线距和线宽。
  • 一种引线框架及其制备方法
  • [发明专利]一种三维聚焦的高通量微流控芯片及其应用和制作方法-CN202310667688.8在审
  • 雷诚;刘洵;周杰华 - 武汉大学
  • 2023-06-06 - 2023-09-01 - B01L3/00
  • 本发明公开了一种三维聚焦的高通量微流控芯片及其应用和制作方法,所述芯片主体中设置有微流控结构,所述微流控结构包括样品通道、鞘液通道、检测通道和废液通道,所述样品通道设置于两个鞘液通道之间;所述样品通道包括相通的样品入口通道和样品汇合通道;所述鞘液通道包括相通的鞘液入口通道和鞘液汇合通道;所述样品入口通道和所述鞘液入口通道均设置于所述芯片主体的一侧,所述废液通道设置于所述芯片主体的另一侧。本发明摒弃了传统的垂直于芯片平面的入口设计,改为采用侧面设置进样和出样接口,避免了芯片接口与显微镜镜头的干扰,从而缩小芯片的尺寸,极大地减小了通道的流阻,实现细胞的高速流动。
  • 一种三维聚焦通量微流控芯片及其应用制作方法
  • [发明专利]一种集成MBE装置的激光加工系统-CN202310611288.5在审
  • 刘胜;东芳;甘志银;沈桥;雷诚;翁跃云;芦相宇;刘剑辉;周易岗 - 武汉大学
  • 2023-05-29 - 2023-08-18 - C30B25/02
  • 本发明提出了一种集成MBE装置的激光加工系统,包括MBE生长室、样品台、光路机构、隔热机构和冷却机构,MBE生长室的一侧设有开口;样品台固定在MBE生长室的内部,且与开口的位置相对应,样品台用于放置衬底样品材料;光路机构相对设置于MBE生长室的一侧,且光路机构上设有出光端,出光端的一侧贯穿MBE生长室的开口并伸入其内部,并与样品台呈相对间隔设置,光路机构与MBE生长室的开口处密封连接,本系统将光路机构集成于MBE装置内,将光路机构集成到MBE装置内,采用激光直写的方式近距离对样品加工,提高了激光聚焦能力,有效保证了激光加工的精度和质量。
  • 一种集成mbe装置激光加工系统
  • [发明专利]一种基于实时反馈的激光抛光系统及方法-CN202310302583.2在审
  • 王度;赵爽;雷诚;柳洁;于明杰;严若鹏 - 武汉大学
  • 2023-03-23 - 2023-08-08 - B23K26/352
  • 本发明公开了基于实时反馈的激光抛光系统及方法,该系统包括光束发射模块、光束运动模块、加工模块、表面测量模块和控制模块。该方法利用光束发射模块发射出本系统所用加工光束和测量光束;加工光束和测量光束经过光束运动模块,始终保持一个固定距离做相同运动;利用表面测量模块获取待抛光样品的扫描路径上的高度信息实时反馈至控制模块,控制模块实时调控加工模块中相应的激光抛光工艺参数与激光行走路径,并通过计算机控制光束发射模块、光束运动模块和加工模块实现实时反馈加工。本发明在保证抛光质量的前提下,利用计算机辅助控制技术,客服了加工过程中实时监测难度大等的问题,为复杂3D构型的工件表面处理提供了新方法。
  • 一种基于实时反馈激光抛光系统方法
  • [发明专利]一种引线框架用识别码及其镀银工艺-CN202310455808.8在审
  • 高小平;高梓航;雷诚 - 安徽立德半导体材料有限公司
  • 2023-04-25 - 2023-08-04 - C25D5/02
  • 本发明公开了一种引线框架用识别码及其镀银工艺,属于框架表面处理技术领域,识别码包括镀银层;在引线框架边缘选择性镀银,利用银与铜颜色的差异形成识别码,能更好地被机器识别。在半导体框架的制备过程中,选择性镀银形成识别码,根据不同的工艺流程,不同物料批次建立一个数据库;该识别码包含的信息:工单号和框架在整个铜带上的行/列坐标数据,工单号关联铜合金原材料的料号、批次、生产时间和框架的型号,准确定位框架对应的从原材料到芯片的全生产流程、生产工艺信息、质量信息等进行追溯,有利于引线框架生产企业与芯片封装企业信息共享,提高生产效率,提高芯片良率,追溯芯片信息,及时调整或改善工艺。
  • 一种引线框架识别码及其镀银工艺
  • [发明专利]一种识别码镀银工艺及其在引线框架上的应用-CN202310523307.9在审
  • 高小平;雷诚 - 安徽立德半导体材料有限公司
  • 2023-05-10 - 2023-08-01 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种识别码镀银工艺及其在引线框架上的应用,属于框架表面处理技术领域,识别码镀银工艺包括如下步骤:S1、在框架本体上贴附干膜;S2、去除框架本体上表面的部分干膜,露出框架本体上表面的局部区域;再对露出本体的局部区域进行微蚀处理,在框架本体上形成微蚀槽;S3、用电镀液处理微蚀槽,进行电镀,在微蚀槽内形成镀银层;S4、去除框架本体表面上剩余部分干膜后,再在框架表面贴附干膜,通过曝光和显影去除表面的部分干膜,进行蚀刻处理,最后经过退膜形成成品引线框架。通过调整电镀液中的原料成分,改善镀层的性质,结合电镀工艺,提高引线框架的平整度和耐磨性,减少识别码的磨损情况,提高后续识别过程的进行。
  • 一种识别码镀银工艺及其引线框架应用
  • [发明专利]一种多帧超快相位成像系统及方法-CN202210958743.4有效
  • 雷诚;李中星;王度;袁仙丹 - 武汉大学
  • 2022-08-10 - 2023-07-21 - G03B39/00
  • 本发明属于成像技术领域,公开了一种多帧超快相位成像系统及方法。本发明通过飞秒激光器产生飞秒脉冲,通过时间整型模块对飞秒脉冲进行时域拉伸得到第一数量的子脉冲,通过空间整型模块对经过超快事件后的多个子脉冲进行空间分离,通过分光器件将每个子脉冲分为多级子光束,通过第一透镜将光束汇聚至多孔滤光模块,通过多孔滤光模块得到各个子脉冲对应的参考光和物光,通过第二透镜将光束汇聚至成像模块,通过成像模块得到各个子脉冲的参考光和物光形成的干涉图。本发明能够同时对多束光束进行离轴干涉成像,应用于超快成像上能够进行多帧的超快相位成像。
  • 一种多帧超快相位成像系统方法

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