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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]电流测试电路、装置、方法及存储介质-CN202010974536.9有效
发明人：马茂松;周张琴;陈鑫旺 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-16 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本申请提供一种电流测试电路、装置、方法及存储介质，其中，采样电阻阵列的控制端与主控元件连接，采样电阻阵列的第一端与电源转换电路连接，第二端用于与待测试元件连接，采样电阻阵列包括至少两个采样支路，每个采样支路包括串联连接的模拟开关和采样电阻，主控元件在对待测试元件测试时，可以根据待测试元件的工作状态生成控制信号，并通过控制信号选通采样电阻阵列的至少一个采样支路，通过电压测试组件获取采样电阻阵列两端的电压值，以及根据采样电阻阵列两端的电压值和采样电阻阵列的阻值确定待测试元件的电流。该技术方案中，提高了电流测试电路的适用范围，扩大了能够分辨的电流粒度，提高了电流测试的准确度。
电流测试电路装置方法存储介质

[发明专利]一种存储器测试方法、设备及装置-CN202110941212.X在审
发明人： 陈鑫旺;马茂松;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请涉及动态存储器技术领域，公开了一种存储器测试方法、设备及装置。该存储器测试方法、设备及装置通过将不能直接解码的命令转换成相应的控制信号，进而根据控制信号执行存储器的测试操作。本申请可应用于后端存储器产品的调试和测试，成本低，灵活性高，同时支持不能直接解码的测试指令。
一种存储器测试方法设备装置

[发明专利]存储装置的测试方法、测试装置及系统-CN202110812751.3在审
发明人： 陈鑫旺;马茂松;刘建斌 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本公开提供了一种存储装置的测试方法、测试装置及系统，其中，测试方法包括：接收测试指令，测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；根据测试指令，从预存的多个测试方法中选择与待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；执行目标测试方法对待测存储装置进行测试。采用本公开的存储装置的测试方法及测试装置，能够在一个测试平台上接入了多种不同型号的待测存储装置进行测试，提高了测试装置的通用性。
存储装置测试方法系统

[发明专利]DRAM数据保持时间、刷新间隔确定方法、刷新方法及装置-CN202110202719.3在审
发明人：马茂松;陈鑫旺;黄琰 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-02-23 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G11C11/406 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种DRAM数据保持时间、刷新间隔的确定方法、DRAM的刷新方法及装置，所述DRAM数据保持时间方法包括；获取目标DRAM在参考状态时的第一温度以及在所述第一温度时的第一最小数据保持时间；获取所述目标DRAM的第二最小数据保持时间及所述第二最小数据保持时间对应的第二温度；根据所述第一温度、所述第一最小数据保持时间、所述第二最小数据保持时间和所述第二温度创建指数曲线；根据所述指数曲线确定所述目标DRAM在当前温度时的当前数据保持时间。本发明的技术方案可以调节对DRAM进行刷新的刷新间隔，以降低功耗。
dram 数据保持时间刷新间隔确定方法装置

[发明专利]功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置-CN202011058673.4在审
发明人： 陈鑫旺;马茂松;周张琴 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本公开是关于一种功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置，涉及集成电路技术领域。该功耗测量组件包括：至少两个采样模块，分别串联在所述待测电路中；选通模块，用于选通所述至少两个采样模块中的一个；放大模块，用于采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大；处理模块，与所述选通模块、所述放大模块连接，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数，并根据放大的所述电压信号计算功耗值，发送所述功耗值。本公开可以增大功耗测量组件的电流测量范围，满足更多种类的待测电路中电流的变化情况。
功耗测量组件方法芯片装置

[发明专利]测试治具-CN202010817082.4在审
发明人：马茂松;陈鑫旺;周张琴 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-08-14 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：一种测试治具，包括：信号测试板，包括第一表面和与第一表面相对的第二表面，第一表面上具有若干第一管脚和位于第一管脚周围的若干测试点，第二表面具有若干第二管脚；位于信号测试板中将所述若干第一管脚和相应的若干第二管脚连接的若干线路走线，部分所述线路走线包括与一个所述第一管脚连接的上层走线，与一个所述第二管脚连接的下层走线，以及将所述上层走线和下层走线两端连接的过孔走线，且上层走线的与所述过孔走线连接的一端横向延伸到相应的测试点的下方；位于信号测试板中将所述测试点与测试点下方的相应的上层走线连接的分支走线。本发明的测试治具能实现对待测试的封装芯片高频信号测试，并能保证测试的效率和精度。
测试

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