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- [实用新型]一种冲孔切角模具结构-CN202021878813.8有效
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陈小刚;李华兵
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广州敏惠汽车零部件有限公司
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2020-09-01
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2021-08-24
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B21D37/08
- 本实用新型公开了一种冲孔切角模具结构,涉及模具设备技术领域,包括底座;切角机构,包括用于对产品进行切角的切角组件,所述切角机构安装在所述底座上,所述切角组件具有在工作位置、回退位置之间来回移动的左右移动行程;以及冲孔机构,包括用于对产品进行冲孔的冲孔组件,所述冲孔机构安装在所述底座上,所述冲孔组件具有在工作位置、回退位置之间上下移动的上下移动行程,所述切角组件通过向右侧移动进入回退位置以避让工作位置的所述冲孔组件,所述冲孔组件通过向下移动进入回退位置以避让进入工作位置的所述切角组件。本实用新型中,产品可在一个工位上同时进行两个工序的操作,减少工位设置,减少人员投入。
- 一种冲孔切角模具结构
- [实用新型]一种新型抗拉塑料薄膜结构-CN202022856787.5有效
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钱佳琪;陈小刚
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苏州苏克新型材料有限公司
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2020-12-02
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2021-08-24
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B32B27/08
- 本实用新型提供一种新型抗拉塑料薄膜结构,涉及薄膜技术领域,包括薄膜本体,薄膜本体外表面的顶部与底部均固定连接有防护层,两个防护层向背的一侧均固定连接有屏蔽层,两个屏蔽层向背的一侧均固定连接有加强层,两个加强层相背的一侧固定连接有防冻层,两个防冻层相背的一侧均固定有耐磨层。本实用新型中,将塑料薄膜本体采用的材料为低密度聚乙烯,其特点为抗拉性强,使得薄膜的抗拉性能增加,增加了薄膜整体的稳定性,并且薄膜本体外侧的防护层采用的材料为聚氯乙烯,其特点为防火耐热,增加了耐热性能,防护层外侧的屏蔽层采用的材料为聚碳酸酯,且设置有多层,其作用为防静电,并且成形收缩率低、尺寸安定性良好。
- 一种新型塑料薄膜结构
- [实用新型]一种液晶显示用光学薄膜-CN202022856792.6有效
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钱佳琪;陈小刚
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苏州苏克新型材料有限公司
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2020-12-02
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2021-08-24
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B65D65/10
- 本实用新型公开了一种液晶显示用光学薄膜,包括类晶膜层和高清软膜,所述高清软膜的一端固定连接有保护结构,且保护结构的两侧固定连接有收纳结构,所述高清软膜的另一端固定连接有类晶膜层。本实用新型通过收纳结构便于收纳薄膜,薄膜使用在液晶显示屏上一般尺寸都较大,因为体积较大,传统的薄膜在收纳运输和储存时易损坏边角处,收纳结构的工作原理是第一粘连薄片和第二保护薄膜之间固定连接,第二粘连薄片和第一保护薄膜之间固定连接,第一粘连薄片的一端是光滑的表面,另一端是聚乙烯勾环,第二粘连薄片的一端是粘连毛线,另一端是光滑的表面,通过保护结构便于把薄膜贴在液晶显示器上。
- 一种液晶显示用光薄膜
- [实用新型]弹簧力自动测试机构-CN202120010488.1有效
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陈小刚
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苏州鲲腾智能科技有限公司
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2021-01-05
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2021-08-10
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G01M5/00
- 本实用新型公开了弹簧力自动测试机构,包括固定检测台,所述固定检测台上表面任意一侧位置固定连接有阻挡隔离板,所述阻挡隔离板侧壁位置开设有贯穿设置的调节滑槽,所述固定检测台上表面位置开设有测量滑槽,所述固定检测台上表面位于阻挡隔离板和测量滑槽之间固定连接有限位块,所述测量滑槽位置滑动连接有测量支撑固定板,所述固定检测台侧壁位于测量滑槽位置贯穿开设有贯穿滑槽,所述测量支撑固定板靠近贯穿滑槽一侧且靠近底部位置固定连接有第二旋紧螺栓,所述第二旋紧螺栓与贯穿滑槽滑动连接,所述测量支撑固定板远离阻挡隔离板一侧固定连接有阻尼滑轨。本实用新型方便检测弹簧的弹力,且使得生产和研究的弹簧质量得到有效的验证。
- 弹簧自动测试机构
- [发明专利]3D全景医用内窥镜系统-CN201910223584.1有效
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罗鹏程;张杰;白涛;张浩;陈小刚;基伦.帕特尔;孙诚
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武汉市第三医院
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2019-03-22
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2021-07-30
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A61B1/05
- 本发明公开了3D全景医用内窥镜系统,它的仪器安装腔、功能拓展腔和工作通道腔之间相互平行且相互独立,仪器安装腔的左侧壁固定连接功能拓展腔的右侧壁,功能拓展腔的左侧壁固定连接工作通道腔的右侧壁,所述内窥镜导管上包覆可膨胀定位球囊,所述仪器安装腔的前端设置有三维全景摄像头模块,仪器安装腔的侧壁设有姿态传感器和激光测距仪,所述三维全景摄像头模块、姿态传感器和激光测距仪的信号通信线均穿入仪器安装腔并由仪器安装腔的后端引出;此内窥镜系统能够降低对操作者的技术要求,降低操作难度,减少操作时间,使操作者无需转动、摆动镜体或手动调整镜体尖端镜头,便能采集人体器官腔内3D全景图像。
- 全景医用内窥镜系统
- [发明专利]一种三维存储器失效样品制备方法-CN202110443764.8在审
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刘者;陈小刚
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苏州鲲腾智能科技有限公司
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2021-04-23
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2021-07-27
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G01R31/28
- 本发明公开了一种三维存储器失效样品制备方法,属于集成电路的失效分析领域,一种三维存储器失效样品制备方法,包括以下步骤:步骤一、将芯片表面金属层去除;步骤二、将去除金属层的芯片置于机械研磨设备的样品台上;步骤三、调整样品台位置,使芯片目标分析区位于微抛光磨头的正下方;步骤四、调整微抛光磨头的位置,使其接触芯片表面,微抛光磨头与芯片表面接触角为45度;步骤五、设定微抛光磨头移动距离,然后开启微抛光磨头旋转。本发明,通过结合高精度机械研磨和聚焦离子束,实现弧形侧壁结构,在垂直视角下即可对三维堆叠层数进行准确计数,比较垂直侧壁结构,能够更快速及准确的找到失效位置,提高分析效率和准确度。
- 一种三维存储器失效样品制备方法
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