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[发明专利]一种纹影法焦斑动态范围的标定装置及方法-CN201910266590.5有效
发明人：李红光;段亚轩;袁索超;陈永权;王璞;李铭;达争尚;董晓娜 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-04-03 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明属于焦斑动态范围标定领域，涉及一种纹影法焦斑动态范围的标定装置及方法，能够完成高功率激光远场焦斑的动态范围标定。标定装置包括激光光源及沿激光光源出射光路依次设置的准直物镜与一维正弦相位光栅；准直物镜将激光光源输出的激光扩束为直径为的光斑；一维正弦相位光栅对直径为的光斑进行调制后产生一系列不同衍射级次的光斑；在一系列不同衍射级次的光斑中，至少能够找到一个衍射级次的光斑，其峰值能量与0衍射级次光斑峰值能量的比值小于等于1:104。将一系列不同衍射级次的光斑注入到“纹影法”远场焦斑诊断系统，在诊断系统内通过分光模块分别进入到“旁瓣”测量光路和“主瓣”测量光路，进行诊断系统的动态范围标定。
一种纹影法焦斑动态范围标定装置方法

[发明专利]一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法-CN202210673558.0在审
发明人：张伟刚;达争尚;陈永权;袁索超;段亚轩 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2022-06-14 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： B23P19/04 文献下载
摘要：本发明具体涉及一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法，用于解决现有拆解方法拆卸玻璃壳窗成功率极低且容易损坏图像传感器的问题。一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法，步骤如下：步骤1、将图像传感器放置于温控台的加热台面上；步骤2、加热图像传感器；步骤2.1、预热15min使得温度上升至100℃，预热升温速率最高为3℃/sec；步骤2.2、恒温加热10min，使得温度设置到180℃，加热升温速率最高为3℃/sec；步骤3、使用拆解工具剥离玻璃壳窗。本发明通过高温加热使玻璃胶快速老化，实现了图像传感器玻璃壳窗的零风险拆卸。
一种图像传感器玻璃拆卸方法

[发明专利]一种多窗口脉冲测量装置及方法-CN202011613133.8有效
发明人：邢顶顶;袁索超;达争尚 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-12-30 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种多窗口脉冲测量装置及方法，以解决现有技术中存在的超短脉冲测量分辨率和测量时间窗口不能兼顾的问题。该装置包括产生基频激光脉冲的激光器、设置在激光器出射光路上的分束镜、设置在分束镜透射光路上的阶梯延时单元、设置在分束镜反射光路上的倍频单元、设置在阶梯延时单元和倍频单元出射光路交叉处的和频晶体、依次设置在和频晶体出射光路上的滤波衰减单元、接收及处理单元。激光器产生的基频激光脉冲经分束镜分束，透射基频光经阶梯延时单元产生多束具有不同延时的基频脉冲，反射基频光经倍频单元产生多束二次谐波脉冲，两类脉冲经和频晶体形成包含多个待测窗口三倍频脉冲，并由接收及处理单元接收处理，得到所测量的脉冲波形。
一种窗口脉冲测量装置方法

[发明专利]一种激光光轴可视化器件、系统及光轴对接方法-CN202110103148.8有效
发明人： 袁索超;郑小霞;达争尚 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2021-01-26 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G02B27/36 文献下载
摘要：本发明具体涉及一种激光光轴可视化器件、系统及光轴对接方法。本发明的目的是解决现有激光光学系统设备研制过程中存在各模块光轴对接中需要大量的调试工作，影响工作效率的技术问题，提供一种激光光轴可视化器件、系统及光轴对接方法。该激光光轴可视化系统及方法，利用光阑本体及十字形刻度尺定位，反射镜及限光光阑定向，以及定位基准件的定位基准面与安装基准槽的定位靠面进行基准面传递，实现了激光光轴可视化，便于激光系统各光学模块光轴及光学接口的快速对接，提高了各光学模块光轴的对接效率；通过将激光光轴转化到具体基准器件上，解决了现有激光光学系统设备研制过程中存在各模块光轴对接中需要大量的调试工作，影响工作效率的问题。
一种激光光轴可视化器件系统对接方法

[发明专利]高功率/能量激光测量系统及其杂光抑制方法-CN202011305782.1有效
发明人：达争尚;袁索超;董晓娜;李红光;高立民;段亚轩;陈永权 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-11-19 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：为了解决逃逸出来的光能会在测量仪器内部形成本底辐照进而会降低探测系统的探测信噪比的技术问题，本发明提供了高功率/能量激光测量系统及其杂光抑制方法。本发明在高功率/能量激光测量系统中光学探测通道的探测靶面的至少一个光学共轭位置处设置有杂光吸收体，可显著降低高功率/能量激光测量系统内部杂光对探测靶面的影响，大大提高高功率/能量激光测量系统的探测信噪比。
功率能量激光测量系统及其抑制方法

[发明专利]动态高分辨光学波前相位测量方法-CN202010494800.9有效
发明人：段亚轩;达争尚;李红光;李铭;王璞;陈晓义;陈永权;袁索超;蔺辉 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-06-03 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：为了解决现有的动态光学波前相位测量装置精度不高、分辨率不高的技术问题，本发明提出了一种动态高分辨光学波前相位测量方法，利用激光器、准直镜、平面反射镜、分光镜、吸收体、混合调制光栅、探测器、计算机、不同F#标准镜头和校准镜，能够实现对光学元件面形和光学系统波像差的主动式光学测试。本发明的分辨率由探测器像元尺寸大小决定，可实现高分辨率的光学波前相位测量，分辨率可小于0.01mm。本发明在系统本底误差标定一次后，即作为系统数据，实际面形测量时只需采集一次图像就可计算得到被测表面形貌信息，故相对传统相移干涉法，本发明不受环境影响。
动态分辨光学相位测量方法

[发明专利]大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法-CN202011537846.0有效
发明人：段亚轩;达争尚;陈晓义;袁索超;范尧;李铭;王璞 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：为了解决现有的测量大口径平面光学元件面形的方案易受空气气流扰动和振动的影响、测量动态范围小、面形测量分辨率不高、无法应用于在位各种姿态面形测量，以及当大口径平面光学元件面形中存在Power时无法测量的技术问题，本发明提出了一种大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法，利用激光器、半透半反镜、准直物镜、光阑、小孔光阑、准直目镜、二元光学器件、探测器、衰减板、远场探测器、驱动控制器、电控光阑、反射镜阵列、角锥棱镜阵列、六自由度运动平台，实现对被测大口径平面光学元件在位各种姿态下的动态高精度面形拼接测量，测量精度不受外界环境的影响。
口径平面光学元件在位拼接测量装置方法

[发明专利]一种激光光学元件高反射率测量方法-CN202011366027.4有效
发明人：达争尚;段亚轩;李铭;袁索超;李红光;陈永权;董晓娜 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-11-29 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：为了解决传统激光光学元件高反射率的测量方法测量精度不高的问题，本发明提出一种激光光学元件高反射率测量方法。本发明基于双光路干涉原理，采用空测+实测进行高反射率元件的反射率精确测量，两干涉光路的分光比例大，先获取空测的条纹对比度，然后在光路中加入待测高反射镜进行实测，获得实测的条纹对比度，通过干涉条纹对比度的变化计算待测高反射镜的反射率值，可以实现待测高反射镜反射率的溯源，实现高反射率的高精度测量。
一种激光光学元件反射率测量方法

[发明专利]一种高功率激光集束远场组合焦斑测量方法及系统-CN202010739513.X有效
发明人：李红光;达争尚;袁索超;陈永权;董晓娜 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种高功率激光集束远场组合焦斑测量方法及系统，旨在目前因集束终端焦斑的形貌和单束终端焦斑的形貌之间存在差异导致物理实验结果偏差的技术问题。本发明的测量系统包括沿光路依次设置的取样反射镜组、准直负透镜组、第一衰减镜组、放大镜组及CCD；取样反射镜组包括沿被测集束焦斑的光路依次设置且中心分别设有通光孔的取样反射镜Ⅱ和取样反射镜Ⅰ；取样反射镜Ⅱ和取样反射镜Ⅰ均为抛物面反射镜，且二者的凹面相对；准直负透镜组用于对取样的光束进行缩束并准直；第一衰减镜组包含至少两个衰减片，每个衰减片的法线与光束之间的夹角为θ，10°＜θ＜20°；放大镜组用于对衰减后的光束进行放大；CCD用于获取放大后光束的图像。
一种功率激光集束组合测量方法系统

[发明专利]一种高功率激光增透膜透过率测量方法及其测量装置-CN202010574555.2有效
发明人：李铭;达争尚;段亚轩;陈永权;李红光;袁索超;王璞 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明涉及高功率激光增透膜透过率测量技术，具体涉及一种高功率激光增透膜透过率测量方法，以解决现有的增透膜透过率测量精确度低的问题。本发明所采用的技术方案为；一种高功率激光增透膜透过率测量方法，首先，控制计算机控制激光光源设备输出准直光束；其次，通过干涉光路将准直光束分为两束光，并调节干涉光路，使两束光在探测系统中形成第一干涉条纹图像；再次，样品台将待测透射元件切入干涉光路中，在探测系统中形成第二干涉条纹图像；最后，控制计算机对第一干涉条纹图像和第二干涉条纹图像进行滤波去噪处理并计算增透膜透过率；本发明还提供了一种高功率激光增透膜透过率测量装置。
一种功率激光增透膜透过测量方法及其测量装置

[发明专利]可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法-CN202110096680.1在审
发明人： 袁索超;董晓娜;达争尚 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光测量用单光路光学系统，具体涉及一种可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法。本发明的目的是解决现有激光远近场测量中存在需要分光元件、两套成像镜头以及两台相机，成本昂贵，经济性差的技术问题，提供一种可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法。本发明将透射过近场成像镜头中最靠近CCD探测器的透镜的激光采集作为近场，将经该透镜二次反射再到CCD探测器探测面的光束采集作为远场，实现了利用单一光路和单CCD探测器同时测量激光远近场参数的目的。不再需要分光元件，只利用单一光路、单一镜头和单探测器实现了以往需要双光路、双镜头和双探测器才能实现的远近场参数测量，节省了一半的成本，经济性良好。
实现激光远近同时测量单光路光学系统方法

[发明专利]一种反射式空间编码高分辨光场成像装置及方法-CN201911082509.4有效
发明人： 袁索超;达争尚;李铭;段亚轩;李红光 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明涉及一种反射式空间编码高分辨光场成像装置及方法，能够适应与不同数值孔径主镜头下使用，主镜成像系统不需要针对数值孔径匹配的要求做特殊设计，大大节约了成本。该成像装置包括计算机、二维阵列探测器、数字微反射镜阵列、数字微反射镜阵列控制器、成像物镜以及孔径成像镜头；通过数字微反射镜阵列对像面空间信息逐次扫描编码，利用孔径成像镜头将孔径光阑成像至二维阵列探测器，二维阵列探测器再将各个图像信息上传至计算机，计算机将图像信息进行处理，从而获取高分辨光场信息。
一种反射空间编码分辨成像装置方法

[发明专利]光纤连接器端面参数测量装置及测量方法-CN201910266676.8有效
发明人：段亚轩;达争尚;李红光;陈永权;袁索超;王璞;李铭;寇经纬;王拯洲 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-04-03 - 公布日： 2020-02-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：为解决现有光纤连接器端面参数测量方法易受环境影响、测试精度不高、测量效率低、动态范围小的技术问题，本发明提出了一种光纤连接器端面参数测量装置及测量方法。其中，测量装置包括沿同一光路依次设置的光源、会聚镜、靶板、准直镜、一号分束镜和吸收体；定义一号分束镜面向准直镜的面为第一镜面，在准直镜的出射光束经第一镜面反射后的反射光路上，设置有一号显微物镜；一号显微物镜的出射光束经第一镜面透射后的透射光路上依次设置有二号分束镜、扩束系统和夏克‑哈特曼波前传感器；二号分束镜的反射光路上依次设置有二号显微物镜和成像探测器；成像探测器设置在一维电控平移台上，一维电控平移台通过驱动器与控制及数据分析计算机相连。
光纤连接器端面参数测量装置测量方法

[实用新型]一种“纹影法”焦斑动态范围的标定装置-CN201920450431.6有效
发明人：李红光;段亚轩;袁索超;陈永权;王璞;李铭;达争尚;董晓娜 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-04-03 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本实用新型属于焦斑动态范围标定领域，涉及一种“纹影法”焦斑动态范围的标定装置，能够完成高功率激光远场焦斑的动态范围标定。标定装置包括激光光源及沿激光光源出射光路依次设置的准直物镜与一维正弦相位光栅；准直物镜将激光光源输出的激光扩束为直径为
光斑衍射焦斑激光光源诊断系统标定光栅标定装置测量光路峰值能量正弦相位准直物镜纹影远场本实用新型高功率激光出射光路分光模块激光扩束依次设置旁瓣主瓣调制输出

[发明专利]平板玻璃表面缺陷检测用照明光源及表面缺陷检测装置-CN201710282212.7有效
发明人：达争尚;袁索超;郑小霞 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2017-04-26 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明属于光电检测技术领域，具体涉及一种平板玻璃表面缺陷检测用照明光源及表面缺陷检测装置。该照明光源包括多个LED光源，还包括球形外壳，球形外壳被位于中部的基板分隔为上半球和下半球，LED光源均安装在所述基板上；上半球的顶部开设有供成像光束通过的成像缝隙，下半球的底部开设有供照明光束通过的照明缝隙；上半球的内表面还安装有杂光光阑和遮光槽，杂光光阑环绕成像隙缝设置，遮光槽环绕杂光光阑设置。本发明通过将LED光板布置在球形外壳内部，形成基于光学积分球原理的球形照明光源，能够提供360°方向均匀对等的照明，使得检测系统对玻璃表面划痕的方向性不敏感，提高检测效果。
照明光源球形外壳杂光光阑上半球表面缺陷检测平板玻璃表面缺陷检测下半球遮光槽环绕光电检测技术光学积分球玻璃表面成像缝隙成像光束基板分隔检测系统照明光束不敏感内表面划痕基板隙缝成像检测

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