专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法-CN202111444410.1有效
  • 余达;薛栋林;薛旭成;石俊霞;宁永慧;朱立禄;李嘉 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2021-11-30 - 2023-10-17 - H04N17/00
  • TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法,涉及TDICMOS成像技术领域,解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时,在滚动行周期执行过程中,由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差,从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题,该检测方法通过高摄像同步性和精细像移补偿的TDICMOS的动态行周期成像系统实现;对所述成像系统的422解析及行周期处理模块采用状态机实现乒乓结构的RAM的控制以及滚动输出行周期;本发明中滚动的计时位置不采用计算的执行子时间与本地时间进行比较,而是采用本地时钟的计数器计时方式进行执行,避免由于外部输入的时间码更新而导致一秒内的连续执行过程被打断。为实现相对精确的延时,计数时会扣除状态机循环所占用的时间。
  • tdicmos滚动周期实现检测方法
  • [发明专利]超薄反射镜的面形控制方法-CN202311140735.X在审
  • 郭疆;李奕博;张学军;薛栋林;刘礽枞 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-09-06 - 2023-10-13 - G02B7/188
  • 本发明涉及光学薄膜技术领域,尤其涉及一种超薄反射镜的面形控制方法,包括:S1、将超薄反射镜的中心通过法兰固定在旋转轴上;S2、驱动旋转轴进行高速自转,超薄反射镜在离心力的作用下向四周伸展,直至超薄反射镜展开为平面面形;S3、旋转轴的旋转速度保持不变,根据超薄反射镜的目标面形的曲率半径、圆锥系数和RMS,计算施加在旋转轴上的激励和目标面形的工作时间;S4、沿旋转轴的轴向施加激励,超薄反射镜在目标面形的工作时间内保持面形不变。本发明提出的超薄反射镜的面形控制方法的结构简单,能够将超薄反射镜的面形控制为球面或其他二次曲面。
  • 超薄反射控制方法
  • [发明专利]掠入射式拼接平面镜面形检测方法、系统-CN202311121014.4在审
  • 郭疆;刘礽枞;张学军;薛栋林;李奕博 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-09-01 - 2023-10-03 - G01B11/24
  • 本发明涉及超大口径空间望远镜的标准器具的技术领域,特别是拼接式平面镜面形检测的技术领域,具体涉及一种掠入射式拼接平面镜面形检测方法,由干涉仪发出的准直光束掠入射到被检拼接平面镜上,之后经过被检拼接平面镜反射到标准平面镜上,再沿原路返回与干涉仪的参考光束发生干涉得到通过干涉仪两次不同方向的入射,进行相应算法拟合迭代完成全口径的拼接平面镜检测,在掠入射方向能完成整列子镜的检测,节省了检测时间。该方法使用技术较为成熟的干涉仪,使得被测量信息具有高精度的特点。该方法使用小口径的标准平面镜作为参考镜,减小了标准平面镜制造的难度。该方法可以高效率的完成对超大型拼接平面镜的全口径面形检测。
  • 入射拼接平面镜检测方法系统
  • [发明专利]一种矩阵式轮廓测量方法及装置-CN202310595095.5有效
  • 曾雪锋;罗霄;张学军;薛栋林 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-05-25 - 2023-08-01 - G01B11/24
  • 本发明涉及精密测量领域,具体提供一种矩阵式轮廓测量方法及装置,包括高刚度台面、集成数据处理器、多个干涉测头以及数据分析处理系统,所述多个干涉测头形成矩阵式排布,在使用时,利用标准平面或标准球面对所述矩阵式轮廓测量装置进行标定,以获取初始位置读数,将所述矩阵式轮廓测量装置放置在被检表面,所述干涉测头基于被检表面的轮廓产生伸缩运动,产生条纹移动示数;利用多个所述干涉测头的条纹移动示数计算得到所述被检表面的轮廓形貌数据,可以通过一次测量实现大量点阵测量,对于小型元件可以一次完成全孔径测量,对于大型元件可以通过少量测量次数拼接测量完成,能够大大提高复杂形貌元件的测量速度。
  • 一种矩阵轮廓测量方法装置
  • [发明专利]TDICMOS的积分时间的传输系统-CN202310467563.0在审
  • 余达;薛栋林;郭疆;朱磊;李云飞;薛金来;孙铭 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-04-27 - 2023-07-07 - H04N25/768
  • TDICMOS的积分时间的传输系统,涉及TDICMOS积分时间的传输技术领域,解决现有成像技术存在行频不匹配而造成图像模糊的问题,该系统包括星载平台、控制器和成像单元;星载平台为控制器提供秒脉冲,同时通过1553B总线向控制器传输包括积分时间长度、积分时间长度对应的执行时刻以及成像单元的摄像开始时刻;控制器为成像单元提供秒脉冲、同速积分时间信号和摄像开始控制信号,同时通过422总线向成像单元传输包括积分时间长度、积分时间长度对应的执行时刻、成像单元的摄像开始命令以及计数秒值的时间信息;成像单元通过量测同速积分时间信号的周期长度,获得同速积分时间数据。本系统保证传输可靠。
  • tdicmos积分时间传输系统

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