专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法-CN202111444410.1有效
  • 余达;薛栋林;薛旭成;石俊霞;宁永慧;朱立禄;李嘉 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2021-11-30 - 2023-10-17 - H04N17/00
  • TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法,涉及TDICMOS成像技术领域,解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时,在滚动行周期执行过程中,由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差,从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题,该检测方法通过高摄像同步性和精细像移补偿的TDICMOS的动态行周期成像系统实现;对所述成像系统的422解析及行周期处理模块采用状态机实现乒乓结构的RAM的控制以及滚动输出行周期;本发明中滚动的计时位置不采用计算的执行子时间与本地时间进行比较,而是采用本地时钟的计数器计时方式进行执行,避免由于外部输入的时间码更新而导致一秒内的连续执行过程被打断。为实现相对精确的延时,计数时会扣除状态机循环所占用的时间。
  • tdicmos滚动周期实现检测方法
  • [发明专利]2711芯片传输故障的检测方法-CN202211344757.3在审
  • 余达;韩诚山;魏君成;鲍赫;姜肖楠;张琨;朱立禄 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2022-10-31 - 2023-02-03 - H04N17/00
  • 2711芯片传输故障的检测方法,涉及芯片的故障检测技术领域,解决现有2711芯片在应用过程中,控制器仅连接2711芯片的发送端,不连接控制端,无法实现芯片工作状态的检测,以及不方便进行伪随机码状态下的误码率测试等问题,本发明中,首先使用2711数传地检板,发送端发送有规律的自校图像通过chipscope检测各路解码后的并行数据是否正确,然后针对接收异常的通道,通过检测芯片管脚的对地电阻、供电电压、控制信号的高低电平、时钟的抖动来进行判断;也通过发送同步字和同步字的取反信号来判断FPGA发出的控制信号是否正确。本发明方法中,通过仅发送同步码过程,可以判断是传输性能差还是存在错误;也可以通过接收端的错误字符进行映射,定位出错的原因。
  • 2711芯片传输故障检测方法
  • [发明专利]多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法-CN201910317652.0有效
  • 余达;刘金国;郭永飞;司国良;张艳鹏;朱立禄;姜楠 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2019-04-19 - 2021-03-30 - H04N5/374
  • 多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法,涉及一种多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法,低频晶振产生的时钟经时钟分路器后,分频产生频率为finter的CMOS串行时钟和频率为fiodelay的参考时钟送入成像控制器内。成像控制器将频率为finter的CMOS串行时钟送入多通道CMOS探测器内,多通道CMOS探测器输出的多通道数据送入成像控制器进行串并转换。图2为成像控制器内部单通道低频CMOS串行图像数据的处理流程图,串行数据在频率为2finter/n的低频时钟控制下,经过参考频率为fiodelay的Iodelay进行精细的相位延时,然后采用频率为finter/2的DDR时钟基于Iserdes进行串并转换,最终输出n bit的并行数据。本发明根据五种采样不稳定位置的分布情况分别处理,从而获得尽可能宽的数据稳定采样时序裕量,保证系统稳定可靠工作。
  • 通道低频cmos串行图像数据训练方法

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