专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光电子发射系数的确定方法及装置-CN202310821399.9在审
  • 徐焱林;聂翔宇;杜嘉余;刘业楠;王志浩;王思展 - 北京卫星环境工程研究所
  • 2023-07-05 - 2023-10-10 - G01N23/22
  • 本申请公开了一种光电子发射系数的确定方法及装置,该方法包括:确定太阳光源在第一辐射能量下的第一全光谱能量值以及紫外光源在第二辐射能量下的第二全光谱能量值;全光谱能量值包括多个不同波长下的辐射能量;根据第一全光谱能量值和第二全光谱能量值确定太阳光源和紫外光源的等效参数;等效参数用于表征太阳光源和紫外光源的辐射能量大小的等效关系;根据等效参数,确定样品材料在紫外光源照射下的发射光电子数量和入射光子数量,根据发射光电子数量和入射光子数量确定样品材料的光电子发射系数。利用与太阳光源等效后的紫外光源照射样品材料,提高了空间材料的光电子发射系数的测量结果的准确性。
  • 光电子发射系数确定方法装置
  • [发明专利]二次电子发射系数确定方法和装置-CN202310822095.4在审
  • 徐焱林;聂翔宇;杜嘉余;王思展;刘业楠;王志浩 - 北京卫星环境工程研究所
  • 2023-07-05 - 2023-09-29 - G01N23/2251
  • 本申请公开了一种二次电子发射系数确定方法和装置。所述方法包括:获取样本材料的多个二次电子参数;二次电子参数用于表征材料样品接受电子辐照后产生的二次电子数量,不同的二次电子参数是基于不同的电荷检测方式确定的;根据多个不同的二次电子参数得到材料样品的多个候选二次电子发射系数;确定多个候选二次电子发射系数之间的偏差值,根据偏差值对多个候选二次电子发射系数的进行有效性判断,并根据判断结果确定目标二次电子发射系数。采用本方法能够实现对二次电子发射系数的准确度和有效性的确定,避免单一方式测量导致的二次电子发射系数准确度不确定的情况。
  • 二次电子发射系数确定方法装置
  • [发明专利]一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法-CN202211464993.9在审
  • 徐焱林;聂翔宇;杜嘉余;王思展;刘业楠;王志浩 - 北京卫星环境工程研究所
  • 2022-11-22 - 2023-04-21 - H05F1/02
  • 本发明公开了一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法,采用紫外光源辐照绝缘材料试样,使其产生辐射诱导电导率,通过电荷对地泄放的方式将电荷排出。本发明中,采用紫外光源辐照绝缘材料试样,使其产生辐射诱导电导率,通过电荷对地泄放的方式将电荷排出,可有效消除绝缘材料试样表面积累电荷形成的表面电位,无需另外配备电子枪、离子源等价格昂贵的设备,降低了电位控制的成本,无复杂的外部电路设计,增加了测试可靠性;利用紫外辐照方式实现高真空条件下绝缘材料表面电位控制,无需接触样品表面即可完成中和表面电位操作,避免破坏样品表面形貌进而影响其二次电子发射特性,增加了测试稳定性,提高二次电子发射系数测量的准确性。
  • 一种真空绝缘材料表面电位控制方法
  • [发明专利]一种高分耕地影像提取方法-CN202211563055.4在审
  • 林聪;周梦潇;张伟;聂翔宇;傅俊豪;韩文泉 - 南京市测绘勘察研究院股份有限公司
  • 2022-12-07 - 2023-03-28 - G06V10/40
  • 一种高分耕地影像提取方法,包括(1)合并现有中等空间分辨率耕地遥感数据产品作为初始耕地空间范围,综合植被指数和谐波时序分析因子对产品优化,去除显著非耕地区域;(2)采用前一步成果为样本库,基于时序中分影像构建空间‑光谱‑时序特征集,并通过随机森林算法重新提取耕地;(3)对高空间分辨率影像进行多尺度分割,获取分割矢量斑块,将上一步成果嵌套至矢量斑块中,提取斑块均值和周长面积比,对其自然断点法处理获取高置信度的高空间分辨率样本;(4)将迁移获取的高分样本输入至语义分割模型以提取耕地;本方法利用现有遥感产品为先验信息,有效去除产品中错误信息,降低人工标注样本成本,自动化程度高。
  • 一种高分耕地影像提取方法
  • [发明专利]一种用于电离层光度计的干扰光消除结构及控制方法-CN202010646316.3有效
  • 彭吉龙;于钱;张凯;聂翔宇;冯桃君;马子良 - 北京卫星环境工程研究所
  • 2020-07-07 - 2022-11-22 - G01J3/28
  • 本发明涉及一种用于电离层光度计的干扰光消除结构,包括电离层光度计反射镜、短波滤光片、分光滤光片、目标光谱探测器、长波干扰光探测器,所述电离层光度计反射镜汇聚的电离层夜气辉辐射光线,首先通过短波滤光片,再通过分光滤光片分光,通过分光滤光片的一部分反射光汇聚到目标光谱探测器,另一部分透射光汇聚到长波干扰光探测器,形成目标光谱信号及干扰光信号两个独立光路,并能同时获取目标光谱信号能量值和干扰光信号能量值。能代替电离层光度计中转动轮滤光方式的滤光系统,从而消除测量错误,实现电离层夜气辉目标光谱信号的准确探测;同时,电机及转动轮结构的去除,也会减少需要的重量、尺寸、功耗资源,降低控制电路的复杂程度。
  • 一种用于电离层光度计干扰消除结构控制方法

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