专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]温度测量装置-CN201080057941.9有效
  • 石田寿树;林圣人;东广大 - 东京毅力科创株式会社
  • 2010-12-06 - 2012-09-26 - G01K1/18
  • 本发明涉及的温度测量装置包括基板(2)、配置在基板(2)的一个面上的温度传感器(3)、以及被配置以将使用温度传感器(3)检测温度的电路与温度传感器(3)电连接的引线(8)。在基板(2)的一个面上的温度传感器(3)的周围形成有热容量比形成基板(2)的物质小的凹部(7)。凹部(7)被形成为:与温度传感器(3)相隔预定间隔并围绕温度传感器(3),并且具有预定宽度和预定深度。低热容区优选是作为截面呈凹状的槽的凹部(7)。
  • 温度测量装置
  • [发明专利]晶片型温度探测传感器及其制造方法-CN201110075694.1无效
  • 东广大;林圣人;石田寿树 - 东京毅力科创株式会社
  • 2011-03-23 - 2011-11-09 - G01K5/48
  • 本发明提供一种能够在晶片面内对晶片更准确地进行温度探测的晶片型温度探测传感器。晶片型温度探测传感器(21)包括:电路基板(22),贴附在温度探测用晶片(16)的上表面(18);温度探测单元(23),搭载在电路基板(22)上,对温度探测用晶片(16)的温度进行探测;晶片数据通信单元(24),搭载在电路基板(22)上,能将温度探测单元(23)所探测到的温度探测用晶片(16)的温度数据,发送到温度探测用晶片(16)的外部;及温度数据检测部(28),设置成嵌入在温度探测用晶片(16)的上表面(18)内的多个不同部位,检测出所嵌入的各位置上的与温度相关的数据。这里,电路基板(22)的线膨胀系数和温度探测用晶片(16)的线膨胀系数等同。
  • 晶片温度探测传感器及其制造方法

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