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[实用新型]一种可调节式防腐喷涂工器具-CN202320822175.5有效
发明人： 王之一;李春;王华;高洋;张超;韩维;李英明;朱天元;佟笑帆;刘超;李黎滨;臧洪睿 -专利权人：吉林省思极科技有限公司
申请日： 2023-04-13 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： B05B9/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种可调节式防腐喷涂工器具，包括水平设置的安装座，所述安装座的底面四角处分别对称设置有万向轮，所述安装座的顶面一侧竖直设置有支撑杆，所述支撑杆的顶部设置有调节机构，所述调节机构上设置有喷涂枪，所述调节机构用于带动所述喷涂枪周向旋转；所述安装座的顶面另一侧设置有用于盛装绝缘防腐涂料的化工容器，所述化工容器的顶面设置有增压泵，所述增压泵的进液端置于所述化工容器内，其出液端与所述喷涂枪的进液端之间通过软管连接。本实用新型在喷涂作业时，化工容器便能随着喷涂枪一起移动，提高了喷涂作业的工作效率；通过支撑杆及其顶部的调节机构相配合，非常适应于高强度的喷涂作业量，降低了喷涂作业的劳动强度。
一种调节防腐喷涂器具

[发明专利]基于光谱共焦测量系统重叠信号分解的厚度测量方法-CN202310537895.1在审
发明人：王廷煜;王之一;王建立;糜小涛;杨永强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提出一种基于光谱共焦测量系统重叠信号分解的厚度测量方法，通过使用标定的光谱共焦测量系统的单峰信号曲线对待测物的重叠峰光谱信号曲线数据进行分解，并根据分解的上表面和下表面的单峰光谱信号曲线数据，计算待测物的厚度。本发明所提供的厚度测量方法在无需任何额外的光学元件，仅通过算法就实现了微米级厚度薄膜的准确测量，扩展了光谱共焦测量系统的测量范围和应用场合。解决了当待测物厚度过小时，上下表面单峰光谱信号相互叠加，而无法测量微米级厚度待侧物厚度的技术问题。
基于光谱测量系统重叠信号分解厚度测量方法

[发明专利]基于神经网络的过零点修正方法-CN202211622948.1在审
发明人： 王之一;王廷煜;王建立;糜小涛;杨永强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提出的一种基于神经网络的过零点修正方法，通过规划采样间隔，通过预设条件对原始数据进行筛选后使用插值方法获取均匀间隔的差分信号数据，通过神经网络算法获取标定的原始差动共聚焦信号曲线，预测标定的位置数据，再结合实际测量的位置数据，从而获得精确过零点位置。本发明提出的过零点的修正方法解决了当被侧面倾斜时，倾斜角度影响差动共聚焦信号曲线，导致所获取的过零点位置的发生偏移，进而导致的差动共聚焦测量系统测量精度降低的技术问题。
基于神经网络零点修正方法

[发明专利]基于重叠峰信号分解的厚度测量方法-CN202310206304.2在审
发明人： 王之一;王廷煜;王建立;糜小涛;杨永强;遆云赞;刘昌华 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提出一种基于重叠峰信号分解的厚度测量方法，采集焦前、焦后光电探测器的光强度以及光强度相对应的聚焦透镜位移，通过算法迭代更新获取分解光强度信号待测物的上表面反射和下表面反射光强度信号，根据分解后的光强度信号获取差动共聚焦信号曲线的过零点位置信息，进而获取待测物的厚度。本发明提供的厚度测量方法，在无需任何额外的光学元件的情况下，仅通过算法就实现了微米级厚度薄膜的准确测量，扩展了差动共聚焦测量系统的测量范围和应用场合。解决了当待测物厚度过小时，上下表面的光强度的差分信号相互叠加，而无法测量微米级待测物厚度的技术问题。
基于重叠信号分解厚度测量方法

[发明专利]过零点偏移的修正方法-CN202211637163.1在审
发明人： 王之一;王廷煜;王建立;糜小涛;杨永强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种过零点偏移的修正方法，根据差动共聚焦信号曲线的线性区间长度设置采样间隔，并对差动共聚焦信号曲线进行标定，通过预设条件对采样获取的原始数据进行筛选后使用插值方法获取均匀间隔的差分信号数据，再结合余弦相似度的约束算法获取标定数据和原始数据中最适配标准数据，从而获得精确的过零点位置。本发明所提供的修正方法解决了由于测量速率和采样精度的矛盾，非常适合工程实际应用。在增大采样步长，提高采样速率的同时，保障了精度的鲁棒性，并且通过所提供的修正方法，既能够提高测量速度又能够获取均匀的采样间隔，避免引起过零点偏移而导致的测量误差，使得差动共聚焦测量系统获得更大的应用空间和更多的应用场合。
零点偏移修正方法

[发明专利]基于差动共焦特性曲线的过零点监测的测量方法-CN202211534759.9在审
发明人：王廷煜;王之一;王建立;杨永强;糜小涛;遆云赞 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于差动共焦特性曲线的过零点监测的测量方法，在差分共焦测量系统的基础上，通过滑动窗口算法对差动共焦特性曲线的过零点进行监测，不仅能够监测过零点情况，准确的预测过零点时刻的到来，以此来控制差动共焦系统进行采样以及测量，能够在测量位置信息的同时，实时测量被测点处倾斜角度。在每次扫描测量过程中，只采集一次面阵探测器的光斑图像数据，用以满足高速采集需求的同时，保证测量精度，减小装调要求，更加适用于实际应用。不仅能够在保证测量的精确度，还能够提高动态响应速度。
基于差动特性曲线零点监测测量方法

[发明专利]色散共焦测量系统及其测量方法-CN202211444460.4在审
发明人： 王之一;杨禹凯;王廷煜;糜小涛;王建立;杨永强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种色散共焦测量系统及其测量方法，色散共焦测量系统通过第一测量单元进行位置测量，第二测量单元进行倾斜角度测量，在测量位置信息的同时，实时测量待测物待测点处法向倾斜角度。色散共焦测量方法依据采集的对应共焦波长的光强分布数据，以质心法获得反射光束光斑的质心位置，结合首先确定的位置信息，通过数学模型计算出二维倾斜角度，实现了位置与倾角的实时检测，且具有低成本、高精度、测量范围广、动态响应速度快、信噪比高等优势。
色散测量系统及其测量方法

[发明专利]差分共焦测量方法-CN202211088958.1在审
发明人： 王之一;王廷煜;王建立;糜小涛;杨永强;杨禹凯 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种差分共焦测量方法，通过对峰值位置的精确快速提取，并结合提取的峰值位置来构建峰值位置和倾斜角度的函数模型。能够提高峰值提取精度，即使采集的光斑图像不是近似的高斯分布，依然能顾准确获取峰值位置，实现对测量位置倾斜角度的高精度的精确测量。本发明所提供的差分共焦测量方法，通过差分共焦组件的配合来实现待测物的待测点的距离测量，能够准确的获取距离信息，并通过差点共焦组件的测距进一步提高了定位的灵敏度与抗干扰能力，实现了在差动共焦测距的同时获取待测物的倾斜角度信息，在光学形貌测量，尤其是对微小表面缺陷识别中精度更高。
差分共焦测量方法

[发明专利]共焦测量系统及其测量方法-CN202211087384.6在审
发明人：王建立;杨禹凯;王之一;王廷煜;糜小涛;杨永强;全胜;刘昌华;姚凯男 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种共焦测量系统及测量方法，共焦测量系统通过位置测量单元中的差动共焦测量组件进行位置距离的测量；通过在差动共焦光路的基础上，加入角度测量单元进而构建测角光路，实现对测量位置的同时进行倾斜角度的测量。本发明所提供的技术方案解决了现有技术中差动共焦显微测距的同时不能测倾斜角度的问题。光学系统的光路简单易于实现。角度测量组件分光测角光路结构简单，成本低。实现了在差动共焦测距的同时，获取待测位置倾斜角度信息，在光学形貌测量，尤其在对微小表面缺陷识别中精度更高。
测量系统及其测量方法

[发明专利]共焦显微系统出瞳面光场分布的构造方法-CN202211088431.9在审
发明人：王廷煜;王之一;王建立;杨禹凯;杨永强;糜小涛 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种共焦显微系统出瞳面光场分布构造方法，通过使用几何光学以及合理的数学近似分析共焦显微系统参数面对任意二维倾斜角度的信息，进而对共焦显微系统的物镜出瞳平面的光场分布进行构造，既避免了基于衍射理论的构造方式中复杂、模拟分布时计算量巨大，又避免了基于几何光学的构造方式中将反射后的光近似看成圆形，这引起的较大误差，不能真实的反应实际的分布。本发明所提供的共焦显微系统出瞳面光场分布构造方法考虑实际情况下的物理现象，构造更加符合实际的共焦显微系统的物镜的出瞳平面光场分布。
显微系统出瞳面光场分布构造方法

[外观设计]磨刀器（309）-CN202230424638.3有效
发明人：李武建;王之一 -专利权人：余姚市诺顿电器有限公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： 08-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：磨刀器（309）。2.本外观设计产品的用途：用于对刀具的打磨。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
磨刀 309

[外观设计]磨刀器（E03）-CN202230424832.1有效
发明人：李武建;王之一 -专利权人：余姚市诺顿电器有限公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： 08-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：磨刀器（E03）。2.本外观设计产品的用途：用于对刀具的打磨。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
磨刀 e03

[发明专利]共焦测量系统及其测量方法-CN202211087817.8在审
发明人：糜小涛;王之一;王建立;王廷煜;杨永强;杨禹凯;刘昌华;全胜;姚凯男 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种共焦测量系统及测量方法。共焦测量系统包括测量单元、位置测量单元和角度测量单元，测量单元包括沿光路依次设置的激光光源、准直透镜、第一分束镜、聚焦透镜、第二分束镜、数据处理组件。通过本发明提供的共焦测量系统及测量方法能够同时获取待测物的面型信息和表面倾角信息，能够实现大角度范围的测量，并且本发明提供的共焦测量系统的结构简单易于实现，测量方法易于操作，并且同时兼顾了准确性和快速性。
测量系统及其测量方法

[发明专利]基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置-CN202211156460.4在审
发明人：王廷煜;王之一;王建立;杨禹凯;糜小涛;杨永强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置，测量方法通过驱动物镜定位器沿光轴方向移动，以带动物镜进行移动，并对物镜定位器的位移数据、焦前光电探测器和焦后光电探测器的光强度数据进行采样，对数据进行分析，获取待测物的位置信息。本发明提供的方法在通过聚焦误差信号进行测距时，对于一个待测点的测量只需要将物镜驱动一次，同时采集物镜位移数据、焦前光电探测器和焦后光电探测器的光强度数据，即可通过对采集数据做差分处理，利用最小二乘法对差分信号线性区域进行线性拟合，提取过零点位置对应物镜定位器位置作为测距信息，避免了现有技术中在获取差动共焦响应曲线的过零点出现误差，就会对测距的结果产生影响。
基于差分共焦系统测量方法及其测量装置

[发明专利]一维表面形貌测量系统及其测量方法-CN202211020383.X在审
发明人：王建立;王之一;王廷煜;杨永强;糜小涛;杨禹凯;全胜;姚凯男;刘昌华 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-08-24 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种一维表面形貌测量系统及其测量方法，其中的测量装置包括差动共焦测距模块和色散测角模块；在待测物的表面形貌的测量过程中：首先通过差动共焦测距模块将待测物表面的待测位置移动至预设测量位置；再通过色散测角模块对待测位置的峰值波长进行提取，最后通过倾斜角度θ与峰值波长λ的关系θ＝F(λ)确定待测位置的倾斜角度。本发明利用待测位置不同的倾斜角度，会对色散光束产生不同的水平偏移，光谱仪接收到的光谱信号会有不同的峰值波长，从而测算出待测位置的倾斜角度。
表面形貌测量系统及其测量方法

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