专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种利用金属催化腐蚀技术切割晶体硅的方法-CN201910473197.3有效
  • 李佳艳;武晓玮;谭毅;蔡敏 - 大连理工大学
  • 2019-05-31 - 2021-05-07 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种利用金属催化腐蚀技术切割晶体硅的方法,其特征在于具有如下步骤:对开方后的晶体硅锭依次进行单面抛光,清洗和烘干;在烘干后的抛光面覆盖一层掩模板,掩模板具有多个相互平行的直线形孔隙;在覆盖掩模板的抛光面上镀催化剂,以获得覆盖在抛光面上的线性催化剂线;将上述具有线性催化剂线的晶体硅锭浸入到腐蚀液中进行腐蚀;腐蚀过程完成后将腐蚀后获得的硅片从腐蚀液中取出,并除去硅片表面剩余的催化剂。通过本发明可以实现在指定区域上进行硅锭的切割以获得硅片,大幅度减少了晶体硅的浪费;通过本发明可以有效减少切割过程中杂质及机械应力的引入,减少硅片缺陷的产生。
  • 一种利用金属催化腐蚀技术切割晶体方法
  • [发明专利]一种利用光刻及金属催化腐蚀切割晶体硅的方法-CN201910473210.5有效
  • 李佳艳;武晓玮;谭毅;蔡敏 - 大连理工大学
  • 2019-05-31 - 2021-05-07 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种利用光刻及金属催化腐蚀切割晶体硅的方法,具有如下步骤:对开方后的晶体硅锭依次进行单面抛光,清洗和烘干;烘干后的抛光面进行涂底、旋涂光刻胶和软烘后,将掩模板置于其上;对置有掩模板的抛光面进行对准曝光;将曝光后的抛光面依次进行后烘、显影和硬烘,得到光刻后的抛光面;在光刻后的抛光面上沉积金属催化剂,并浸入到腐蚀液中;腐蚀过程完成后将腐蚀后获得的硅片从腐蚀液中取出,并除去硅片表面剩余的催化剂,获得切割后的硅片。通过本发明可以实现在指定区域上进行硅锭的切割以获得硅片,大幅度减少了加工区域,减少了晶体硅的浪费;通过本发明可以有效减少切割过程中杂质及机械应力的引入,减少硅片缺陷的产生。
  • 一种利用光刻金属催化腐蚀切割晶体方法

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