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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]氮化硅膜的成膜方法、成膜装置及氮化硅膜-CN202280013804.8在审
发明人：安藤优汰;猪狩晃;森本直树 -专利权人：株式会社爱发科
申请日： 2022-09-27 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： C23C14/06 文献下载
摘要：本发明提供一种能够通过反应性溅射形成具有较强拉伸应力的氮化硅膜的氮化硅膜的成膜方法。本发明的氮化硅膜的成膜方法，其中，在真空室(1)内将硅材质靶(3)和成膜对象物(Sw)相对配置，向真空气氛的真空室内导入含有氮气的溅射气体，对硅材质靶施加负电位，在以电性浮置状态设置的成膜对象物的表面，通过反应性溅射形成具有拉伸应力的氮化硅膜；包括下述工序：将成膜对象物设置为偏压电位的非施加状态，控制氮气相对于溅射气体的流量比例和对硅材质靶施加的电位中的至少一方，以使硅材质靶表面维持在金属模式与化合物模式之间的过渡模式，在成膜对象物表面堆积β型氮化硅。
氮化方法装置

[发明专利]X射线成像装置-CN201980032436.X有效
发明人：佐野哲;田边晃一;和田幸久;德田敏;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-01-22 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：本X射线成像装置(100)具备摄像系统(CS)、移动机构(8)、位置信息获取部(7a)、以及图像处理部(6)，其中，所述摄像系统(CS)包括X射线源(1)、检测器(5)以及多个光栅，所述图像处理部(6)基于多个X射线图像(10)和获取到的断层位置(z+jd)来获取断层面(40)中的相位分布，由此生成断层面的相位对比度图像(16)。
射线成像装置

[发明专利]X射线相位成像装置-CN202180077978.6在审
发明人：土岐贵弘;木村健士;白井太郎;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-07-07 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：所述X射线相位成像装置(100)包括：X射线源(1)；X射线检测器(2)；多个光栅；被摄物载置部(21)，配置于X射线的照射范围内，载置有被摄物(90)；以及图像处理部(71)，基于由X射线检测器检测出的X射线的强度分布而生成X射线相位对比度图像(40)，被摄物载置部由X射线的透过率比金属大且X射线的散射程度比金属小的第一材料形成。
射线相位成像装置

[发明专利]X射线相位差摄影系统以及相位对比度图像修正方法-CN201880046853.5有效
发明人：白井太郎;木村健士;土岐贵弘;佐野哲;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-09-18 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明的X射线相位差摄影系统(100)包括X射线源(1)、多个光栅、检测器(4)及图像处理部(6)，图像处理部(6)构成为基于由第一X射线图像(9a)及第二X射线图像(9b)再建的第一相位对比度图像(10a)，来修正由第一X射线图像(9a)及第三X射线图像(9c)再建的第二相位对比度图像(10b)的伪影。
射线相位差摄影系统以及相位对比度图像修正方法

[发明专利]X射线成像装置-CN201880082441.7有效
发明人：佐野哲;木村健士;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-11-06 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：该X射线成像装置(100)具备：旋转机构(8)，其使由X射线源(1)、检测器(5)、第一光栅(2)以及第二光栅(3)构成的摄像系统(200)相对地旋转；以及图像处理部(6)，其在多个旋转角度的各个旋转角度下基于X射线的强度分布来生成暗场像。而且，图像处理部(6)构成为实施使暗场像的多个像素中的、暗场信号比阈值(V1)大的像素的暗场信号降低到设定值(V2)的散射校正。
射线成像装置

[发明专利]X射线相位摄像系统-CN201880080701.7有效
发明人：佐野哲;木村健士;白井太郎;佐藤允信;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-11-27 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：X射线相位摄像系统(100)具备X射线源(1)、多个光栅(2、3)、检测器(4)、光栅移动机构(8)以及图像处理部(5)，其中，图像处理部(5)构成为基于从通过在短时间内进行多次条纹扫描而获取到的多个X射线图像组(R)提取出的多个第一特征量(12)和第二特征量(14)，来生成相位对比度图像(15)。
射线相位摄像系统

[发明专利]X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法-CN201810803685.1有效
发明人：佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-07-20 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法。该X射线相位成像装置具备控制部，该控制部基于材料的暗场像来获取与材料的缺陷有关的信息。
射线相位成像装置含有纤维材料缺陷检测方法

[发明专利]X射线相位差摄像系统-CN201880043381.8有效
发明人： 森本直树;木村健士;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;堀场日明 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-09-19 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：本发明的X射线相位差摄像系统(100)包括X射线源(1)、多个光栅、检测器(4)、光栅移动机构(10)及生成相位对比度图像(11)的图像处理部(5)，且图像处理部(5)构成为利用强度变化(30b)的周期(p)、及以周期为变量且表示伴随光栅移动的像素值的强度变化的函数，来生成相位对比度图像(11)。
射线相位差摄像系统

[发明专利]Ｘ射线成像装置以及Ｘ射线成像图像的合成方法-CN201810654573.4有效
发明人：佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-06-22 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法。该X射线成像装置具备图像处理部，该图像处理部基于第一吸收像中的被摄体的位置与第二吸收像中的被摄体的位置之间的差异量来进行第一暗视场像与第二暗视场像的位置对准。
射线成像装置以及图像合成方法

[发明专利]X射线成像装置-CN201811033808.4有效
发明人：佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明的X射线成像装置具备X射线源、包括第一光栅和第二光栅的多个光栅、检测器、使包括纤维束的被摄体与摄像系统进行相对旋转的旋转机构以及生成暗场像的图像处理部。图像处理部构成为从在多个旋转角度下拍摄到的多个暗场像至少获取包括纤维束的被摄体的三维暗场像。
射线成像装置

[发明专利]Ｘ射线相位差摄像系统-CN201810365342.1有效
发明人： 森本直树;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;堀场日明 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-04-20 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线相位差摄像系统。X射线相位差摄像系统具备：X射线源；检测器；多个光栅，所述多个光栅包括第一光栅和第二光栅；以及光栅位置偏移获取部，其基于通过对由检测器检测到的干涉条纹图像进行傅立叶变换而得到的傅立叶变换图像，来获取光栅的位置偏移。
射线相位差摄像系统

[发明专利]Ｘ射线相位差成像装置-CN201810653082.8有效
发明人：堀场日明;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-06-22 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线相位差成像装置。该X射线相位差成像装置具备多个光栅和用于保持多个光栅中的各个光栅的光栅保持部。多个光栅被配置成在与X射线的光轴正交的面内多个光栅的光栅构成部分延伸的方向沿着因光栅保持部引起的位置偏移最大的方向。
射线相位差成像装置

[发明专利]Ｘ射线相位成像装置-CN201810354238.2有效
发明人：田边晃一;木村健士;吉牟田利典;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;堀场日明;森本直树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-04-19 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线相位成像装置。该X射线相位成像装置包括：位置切换机构，其使一个或多个光栅的相对位置在退避位置与检测位置之间切换，其中，该退避位置为处于图像信号检测器的检测面上的检测范围外的位置，该检测位置为处于图像信号检测器的检测面上的检测范围内的位置；以及焦点直径变更部，其使X射线源的焦点直径与一个或多个光栅的相对位置的切换联动地变更。
射线相位成像装置

[发明专利]X射线成像装置-CN201811014175.2有效
发明人：佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树;木村健士;水岛洋 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-08-31 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：提供一种X射线成像装置。该X射线成像装置具备：X射线源、包括第一光栅和第二光栅的多个光栅、检测器、使多个光栅分别转动的光栅转动机构以及至少生成暗场像的图像处理部。图像处理部构成为生成通过将光栅在与光轴方向正交的面内配置成多个角度而拍摄到的暗场像。
射线成像装置

[发明专利]送风机的风向调整方法以及搭载送风机的车辆-CN202080021350.X在审
发明人：熊仓航;森本直树 -专利权人：五十铃自动车株式会社
申请日： 2020-03-11 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： B60K11/06 文献下载
摘要：一种送风机(5)的风向调整方法，是被搭载于车辆(1)，并通过对被搭载于该车辆(1)的热源(4)进行送风来冷却热源(4)的送风机(5)的风向调整方法，获取送风机(5)的送风(W)的风速分布，根据该取得的风速分布来设定风向调整装置(9)的形状，该风向调整装置(9)的形状将具有关于送风机(5)的送风(W)预先设定的设定速度阈值(V1)以上的铅直方向下侧的速度成分的送风(W)的方向调整为铅直方向向上，其后，将该设定的形状的风向调整装置(9)搭载于车辆(1)，通过风向调整装置(9)将送风机(5)的一部分送风(W)的方向调整为铅直方向向上。
送风机风向调整方法以及搭载车辆

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