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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光检测装置-CN202180073758.6在审
发明人：恩田一寿;柳井谦一;山田仁 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：激光雷达装置(100)是具备发光单元(20)、受光单元(40)以及光学单元(60)的光检测装置。在发光单元(20)中，在光源排列方向(ADs)上排列辐射光束(SB)的多个VCSEL元件。受光单元(40)接收来自测定区域的反射光束(RB)。光学单元(60)包含第一光学元件(61)以及第二光学元件(71)，并形成沿在光源排列方向(ADs)上延伸的投射光束(PB)。第一光学元件(61)在与光源排列方向(ADs)垂直的主扫描面(MS)上，在光束(SB)的透射方向上具有负光焦度。第二光学元件(71)位于第一光学元件(61)的后级，在主扫描面(MS)上在透射方向上具有正光焦度。
检测装置

[发明专利]物体检测装置、受光部以及物体检测装置的控制方法-CN202180015429.6在审
发明人：濑户满里子;柳井谦一;清野光宏;尾崎宪幸 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-01-21 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01S7/4863 文献下载
摘要：提供扫描检测范围来检测物体的物体检测装置(10)。物体检测装置(10)具备发出脉冲检测光的发光部(30)、和具有多个受光像素组(22)的受光部(20)。多个受光像素组(22)包括：与扫描的扫描单位对应地接受与脉冲检测光的发光相应的反射光的反射光受光像素组(Pir)；以及接受可见光且与可见光成分对应的一个或者多个可见光受光像素组(Pr、Pg、Pb)。
物体检测装置受光部以及控制方法

[发明专利]测距装置-CN202080025163.9在审
发明人：加藤一树;柳井谦一;东谦太 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01S7/4861 文献下载
摘要：本发明的测距装置(10)具备：照射部(20)；受光部(30)，具有多个受光要素(31)排列为面状而成的受光面(S1)，将像素范围内的受光要素的集合作为一个像素，并输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号；距离图像获取部(50)，利用受光信号获取表示各像素中的到照射光的照射范围内的物体为止的距离的距离图像；背景光图像获取部(60)，利用受光信号获取背景光图像；信息获取部(81)，获取与背景光的强度相关的强度相关信息；以及分辨率控制部(82)，根据与强度相关信息相关的背景光的强度，分别独立地对距离图像和背景光图像设定像素范围的大小控制分辨率。
测距装置

[发明专利]光学检测器-CN202110126855.9在审
发明人：清野光宏;柳井谦一;木村祯祐;尾崎宪幸;柏田真司;水野文明;恩田一寿 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01S17/931 文献下载
摘要：光学检测器包括光发射器(22)，该光发射器具有在延伸方向(ED0)上延伸的光发射窗(23)以从光发射窗朝向测量区域(MA，MA1，MA2)发射投射束(PB)，并且光学检测器检测来自测量区域的返回束(RB)。光学检测器包括通过反射投射束来进行扫描的扫描镜(34)。扫描镜绕旋转轴(33)在有限角范围(AR，ARN，ARW)内摆动，该旋转轴沿着与延伸方向相对应的方向(ED1)。
光学检测器

[发明专利]光学检测器-CN202110126927.X在审
发明人：清野光宏;木村祯祐;尾崎宪幸;柳井谦一;柏田真司;水野文明;恩田一寿 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：光学检测器被配置成朝向测量区域(MA)投射投射束(PB)并检测来自测量区域的返回束(RB)。光学检测器包括：投射光学系统(26)，其形成投射光学轴线(POA)以投射投射束；接收光学系统(49)，其形成接收光学轴线(ROA)以接收返回束；以及壳体(11)，其具有用于容纳投射光学系统和接收光学系统的容纳室(13)以及用于投射束和返回束在容纳室与测量区域之间行进的光学窗(14)。投射光学轴线和接收光学轴线彼此偏移，以在容纳室内部限定交叠区域(OL)，在该交叠区域中，投射束和返回束的覆盖区(PF，RF)彼此交叠。
光学检测器

[发明专利]光学测距装置、激光发光装置及其制造方法-CN201980082046.3在审
发明人：木村祯祐;柳井谦一;柏田真司;立野善英 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-12-06 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明涉及光学测距装置、激光发光装置及其制造方法。在本发明的光学测距装置(20)中，发光部(40)使用具有第一方向的长度比与上述第一方向交叉的第二方向长的发光区域(La、Lb)的半导体激光元件(41)，并且根据从上述发光部(40)的发光到受光部(60)的受光为止的时间来测定到对象物的距离。此处，在上述发光部(40)中，通过将多个发光区域(La、Lb)配置于在上述第二方向上分离、且在上述第一方向上相接的位置或者一部分重叠的位置，从而能够形成在上述第一方向上连续的发光区域。
光学测距装置激光发光及其制造方法

[发明专利]光学测距装置以及光学测距方法-CN201980069827.9在审
发明人：木村祯祐;柳井谦一;柏田真司 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-10-21 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：本发明提供光学测距装置以及光学测距方法。在第一方向且遍及至少规定的视角范围扫描用于在规定方向上检测至少2个像素的量的激光，驱动反射该激光的反射体(71)，在与第一方向交叉的第二方向且遍及外部的规定范围扫描该激光。通过路径变更部(66)，将来自对象物的反射光向受光透镜(61)侧折回，并通过受光部(60)检测聚焦的来自对象物的反射光，根据从激光发射到受光的时间，来检测到对象物的距离，其中，路径变更部设置在从反射体向上游侧的路径的中途，受光部具备至少2个像素的量的受光元件(65a)。路径变更部配置为使在第一方向且遍及规定的视角范围进行了扫描的激光穿过路径变更部到达反射体。
光学测距装置以及方法

[发明专利]光飞行型测距装置及其方法-CN201580043296.8有效
发明人：长井利明;柳井谦一 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2015-11-03 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01S7/486 文献下载
摘要：光飞行型测距装置(1)具备：发光元件(4)，向空间发出以具有重复周期的图案进行了调制的调制光；驱动部(3)，对发光元件进行驱动；受光元件(6)，将与包含调制光在对象物处反射得到的反射光的入射光相应的电荷分配到多个蓄积电容(14a、14b)来蓄积；控制部(5)，对受光元件的曝光进行控制；以及信号处理部(11)，使用由受光元件采样得到的值计算到对象物的距离。对受光元件(6)的曝光进行控制使得对至少一个高次谐波具有灵敏度，将基波的分量与高次谐波的分量进行线性结合来计算到对象物的距离。追加高次谐波的分量，与此相应地，相比于仅根据基波的分量计算距离的情况，能够适当地降低距离误差。
飞行测距装置及其方法

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