专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种晶圆缺口定位方法及装置-CN202310817291.2在审
  • 蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-07-04 - 2023-10-24 - G06T7/73
  • 本申请公开了一种晶圆缺口定位方法、探针台、晶圆缺口定位装置、电子设备及存储介质,属于晶圆缺口定位技术领域,其中,该方法包括获取晶圆的边缘线阵图像;计算边缘线阵图像在晶圆圆周方向上的像素平均值;根据像素平均值获取晶圆的边缘坐标;在边缘线阵图像中,以边缘坐标为基准,截取预设范围的目标图像;基于目标图像确定晶圆的缺口位置。该方法利用了晶圆边缘像素平均值的特点能够快速定位晶圆的边缘坐标,在基于边缘坐标对边缘线阵图像进行裁剪减少了不必要的图像信息,降低了后续进行缺口识别的计算量,有助于大幅减少缺口定位消耗的时间,同时,通过对图像进行裁剪有助于去除部分噪音干扰,进而能够提高缺口的识别率和识别精度。
  • 一种缺口定位方法装置
  • [发明专利]基于图像处理的针痕检测方法、装置、设备及介质-CN202310509315.8在审
  • 蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-05-04 - 2023-10-13 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种基于图像处理的针痕检测方法、装置、设备及介质,涉及晶圆测试技术领域,该方法包括:将包括待进行针痕检测的测试接点的待处理图像转换为第一灰度图像;从待处理图像中分离出预定颜色分量对应的单色图像;基于第一灰度图像,按照第一规则生成第一二值图像;其中,第一规则包括:像素值未超过对应的像素值阈值的像素点呈白色;基于单色图像,按照第二规则生成第二二值图像;其中,第二规则包括:像素值超过对应的像素值阈值的像素点呈白色;对第一二值图像和第二二值图像进行合并,得到合并二值图像;基于合并二值图像,确定待处理图像中的测试接点的针痕检测结果。本公开的实施例能够兼容对不同特征的针痕的检测。
  • 基于图像处理检测方法装置设备介质
  • [发明专利]识别探针的方法、装置以及电子设备-CN202310240640.9在审
  • 蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-03-08 - 2023-07-18 - G06T7/00
  • 本申请公开了一种识别探针的方法、装置以及电子设备。其中,该方法包括:获取探针图像对应的二值图像,并识别二值图像中的所有连通域轮廓,对所有连通域轮廓筛选得到目标连通域轮廓;确定目标连通域轮廓内像素的平均值与目标连通域轮廓对应的半径,在平均值不小于设定值,且半径不小于设定半径的第一预设倍数的情况下,确定目标连通域轮廓为探针主体针尖对应的轮廓;在半径大于设定半径的第二预设倍数的情况下,以初始亮度阈值为起点对主体针尖对应的轮廓进行阈值分割;基于阈值分割结果确定主体针尖的半径以及探针中心。本申请解决了由于探针在扎针过程中易磨损易脏污造成的识别探针中心出现偏差,从而导致扎针位置出现偏差的技术问题。
  • 识别探针方法装置以及电子设备
  • [发明专利]接点定位方法、装置、探针台及存储介质-CN202310326770.4在审
  • 蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-03-27 - 2023-06-30 - G01B11/00
  • 本申请公开了一种接点定位方法、装置、探针台及存储介质,属于晶圆检测技术领域,其中,接点定位方法包括:获取目标接点的接点图像,并获取目标接点的已知形状;修复接点图像中目标接点,得到完整的目标接点二值图像;根据目标接点二值图像,判断目标接点的实际形状是否符合已知形状;当目标接点的实际形状符合已知形状,定位目标接点的位置坐标。该方法通过对接点图像进行修复,并对修复后的接点图像中接点的形状进行判断,如果判断结果符合已知形状则可以确定接点的位置,这样确定探针和接点的位置之后,再将探针扎入接点进行测试。可以确保探针精确扎入接点,防止探针扎到接点外部损坏晶圆,大大提高晶圆测试质量。
  • 接点定位方法装置探针存储介质
  • [发明专利]晶圆预对位方法、装置、设备和晶圆检测系统-CN202310341994.2在审
  • 蒋家欣;舒贻胜;杨奉利;王建玮;陈思乡 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-03-27 - 2023-06-23 - H01L21/68
  • 本申请涉及一种晶圆预对位方法、装置、设备和晶圆检测系统,该方法包括:接收传感器采集到的线性数据,根据线性数据确定晶圆的缺口位置;线性数据为旋转平台带动晶圆旋转时,传感器对晶圆的边缘进行数据采集得到;根据晶圆的缺口位置以及预设参数进行分析,确定晶圆的偏心坐标;根据晶圆的偏心坐标将晶圆的缺口位置调整至目标位置。在旋转平台带动晶圆旋转时,利用传感器对晶圆的边缘进行数据采集得到线性数据后,根据传感器采集的线性数据确定晶圆的缺口位置,进而结合晶圆的缺口位置以及预设参数进行分析,确定晶圆的偏心坐标,根据晶圆的偏心坐标将晶圆的缺口位置调整至目标位置,无需进行二次数据采集和处理,提高了晶圆预对位效率。
  • 晶圆预对位方法装置设备检测系统

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