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[发明专利]一种差频信号产生装置及方法-CN201810521296.X有效
发明人：翟召辉;杜良辉;李江;朱礼国;彭其先;李泽仁 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2018-05-25 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01S17/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种差频信号产生装置及方法。装置包括太赫兹发射器、第一本振源、第一混频探测器、第一功率放大器和信号处理链路；太赫兹发射器向被测目标发射第一太赫兹波；第一混频探测器对由被测目标反射的反射波和第一本振源产生的第二太赫兹波进行混频获得第一差频信号；第一功率放大器对第一差频信号进行功率放大；信号处理链路包括倍频器、第二本振源和第二混频探测器；倍频器接收并倍频放大后的第一差频信号获得第二差频信号，第二混频探测器对第二差频信号和第二本振源产生的射频信号进行混频获得第三差频信号并将第三差频信号输出。本发明得到的第三差频信号在进行时频分析时，在较短时间窗口下提高了时间分辨率和速度分辨率。
种差信号产生装置方法

[发明专利]一种基于光纤太赫兹异步采样的光谱和成像系统-CN202311023984.0在审
发明人：朱礼国;钟森城;何徽;李江;刘乔;翟召辉;杜良辉;杨欣昱;温伟峰 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2023-08-15 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光纤太赫兹异步采样的光谱和成像系统，涉及太赫兹光谱成像技术领域，包括扫描成像模块，太赫兹脉冲信号产生模块，太赫兹脉冲信号接收模块、信号采集模块及异步触发模块；本发明在现有异步采样的太赫兹光谱技术上进行方法上的改进，由异步触发模块产生的多个异步触发信号分别异步触发太赫兹脉冲信号产生模块、太赫兹脉冲信号接收模块和信号采集模块，异步触发信号具有不同的重频，实现相干合成触发的飞秒激光触发技术，解决了目前双光子或平衡探测等触发采集太赫兹信号方式存在的调节难度高、触发信号不稳定等问题。
一种基于光纤赫兹异步采样光谱成像系统

[发明专利]用于太赫兹光谱和成像测量系统的信号检测电路及系统-CN202310746275.9有效
发明人：何徽;钟森城;朱礼国;李江;刘乔;温伟峰;翟召辉;杜良辉 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明公开了用于太赫兹光谱和成像测量系统的信号检测电路及系统，涉及太赫兹光谱和成像测量技术领域；本发明在现有的信号检测电路基础上进行结构上的改进，包括用于将太赫兹天线输出的电流信号转换成电压信号的I‑V转换模块，I‑V转换模块装设在太赫兹天线上；与I‑V转换模块通过同轴线连接的程控信号调理电路；通过将I‑V转换模块与程控信号调理电路分离，并将I‑V转换模块装设在太赫兹天线上，减少太赫兹天线与信号检测电路之间的寄生电容，显著提高信号检测电路在带宽和信噪比方面的性能，使得传统的信号检测电路可以满足基于异步采样的太赫兹成像光谱技术的要求。
用于赫兹光谱成像测量系统信号检测电路

[发明专利]一种获取金属球腔内表面形貌检测图像的方法及系统-CN202210283633.2有效
发明人：朱瑜;温伟峰;杜良辉;朱礼国;李生福;周平伟 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种获取金属球腔内表面形貌检测图像的方法及系统，方法包括以下步骤：获取在不同照度下的待检测区图像中的第一分割线坐标；基于第一分割线坐标和预设的第二分割线坐标将不同照度下的待检测区图像分隔成多个子区域；计算各子区域在所有照度下的权重因子；基于权重因子计算待检测区图像在所有照度下的权重值；基于权重值获取待检测区图像在所有照度下的融合图像；对融合图像依次进行高斯模糊和归一化处理以得到待检测区的形貌检测图像。本发明的目的在于提供一种获取金属球腔内表面形貌检测图像的方法及系统，解决因高反射带区与漫反射区所需照明强度不同导致形貌检测图像的成像对比度极差的问题。
一种获取金属球腔内表面形貌检测图像方法系统

[发明专利]光栅分光式同时多点激光诱导击穿光谱测量系统及方法-CN201910065990.X有效
发明人：朱瑜;周平伟;王德田;钟森城;刘乔;李江;翟召辉;杜良辉;邹逸;彭琛;朱礼国;彭其先 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2019-01-24 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01N21/71 文献下载
摘要：本发明公开了一种光栅分光式同时多点激光诱导击穿光谱测量系统及方法，该系统包括高能脉冲激光发射器、衍射光栅、中孔反射镜、第一球面透镜、第二球面透镜、光纤束、光谱仪和控制装置，衍射光栅、中孔反射镜和第一球面透镜依次设置在高能脉冲激光发射器发射的激光的光路上，待测样品表面形成的等离子体阵列发光的光路上依次设置有第一球面透镜、中孔反射镜、第二球面透镜、光纤束和光谱仪，控制装置控制高能脉冲激光发射器和光谱仪之间的时间同步及待测样品的空间位置。本发明对阵列焦斑位置等离子体发射光谱进行同时分析，实现了单次多点的激光诱导击穿光谱测量，同时本发明是一种紧凑型同时多点激光诱导击穿光谱测量系统。
光栅分光同时多点激光诱导击穿光谱测量系统方法

[发明专利]一种基于双光束调制的量子级联激光器的脉冲调控系统-CN201711147415.1有效
发明人：彭琛;李泽仁;彭其先;朱礼国;陈韬;刘乔;朱瑜;邹逸;杜良辉;翟召辉;周平伟;李江;王德田;钟森城 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2017-11-17 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： H01S5/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于双光束调制的量子级联激光器的脉冲调控系统，包括量子级联激光器、恒温控制装置、高精度电流源、双光束调制系统、光束准直器、光束聚焦器、红外探测器、高精度示波器，计算机。本发明利用脉冲产生光源照射量子级联激光器出射端面产生高速、同相位、同重复频率的输出脉冲；利用脉冲关闭光源照射量子级联激光器出射端面实现高速、同相位、同重复频率的脉冲负调制；进而实现了对量子级联激光器输出脉冲的产生和关闭，且脉冲波形更为光滑。利用脉冲产生光源和脉冲关闭光源的相位延迟，同时利用脉冲产生光源和脉冲关闭光源的功率和重复频率的选择，实现对量子级联激光器脉冲宽度、振幅和重复频率的精确调控。
一种基于光束调制量子级联激光器脉冲调控系统

[发明专利]金属球腔内表面大视场高分辨率形貌图像获取系统及方法-CN202210282891.9有效
发明人：朱瑜;温伟峰;杜良辉;朱礼国;李生福;周平伟 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06T7/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种金属球腔内表面大视场高分辨率形貌图像获取系统及方法，系统包括：获取模块，用于获取不同偏转角度下的单视场内窥图像；第一计算模块，用于计算单视场内窥图像的重心坐标、灰度离心率、亮斑间距以及宽度；第二计算模块，用于基于重心坐标、灰度离心率、亮斑间距、宽度以及预设的拟合函数计算单视场内窥图像中每个像素对应的球腔坐标；拼接模块，用于根据球腔坐标对所有的单视场内窥图像进行拼接，得到金属球腔内表面的形貌图像。本发明的目的在于提供一种金属球腔内表面大视场高分辨率形貌图像获取系统及方法，旨在解决因拼接的图像重叠率或断层率极高，需反复拼接才能获取完整的金属球腔内表面的形貌图像的技术问题。
金属球腔内表面视场高分辨率形貌图像获取系统方法

[发明专利]腐蚀金属冲击加载下自由面速度历史的测量装置及方法-CN202211548631.8在审
发明人：翟召辉;朱礼国;杜良辉;刘寿先;李建中;雷江波 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01N33/20 文献下载
摘要：本发明公开了腐蚀金属冲击加载下自由面速度历史的测量装置及方法，包括太赫兹测速主机，太赫兹聚焦镜和示波器；太赫兹测速主机设置在腐蚀金属材料自由面的正前方，用于发射连续的太赫兹波到腐蚀金属材料自由面和回收腐蚀金属材料自由面反射的太赫兹波，并产生干涉信号；太赫兹聚焦镜设置在太赫兹测速主机和腐蚀金属材料自由面之间，用于聚焦连续太赫兹波至腐蚀金属材料自由面，并收集和传输腐蚀金属材料自由面反射的太赫兹波至太赫兹测速主机；示波器用于采集并记录太赫兹测速主机产生的干涉信号。本发明利用太赫兹波对微喷颗粒的高穿透性，实现穿透浓密微喷射颗粒并照射到金属材料自由面表面，实现对金属材料自由面速度历史的测量。
腐蚀金属冲击加载自由面速度历史测量装置方法

[发明专利]一种清洗光罩的装置-CN201910740915.9有效
发明人：凌永康;张勇;杜良辉 -专利权人：江苏壹度科技股份有限公司
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： B08B1/04 文献下载
摘要：本发明涉及光罩技术领域，具体为一种清洗光罩的装置，包括底座，底座的顶部设有清洗室，清洗室的底部中心处竖直开设有第一通孔，清洗室的底部且位于靠近第一通孔的位置由内向外设有若干个第一环形刷，清洗室的顶部设有顶盖，顶盖的底部开设有第二凹槽，第二凹槽的底部中心处设有环形圆柱槽，第二凹槽的底部且位于靠近环形圆柱槽的位置由内向外依次设有若干个第二环形刷。该清洗光罩的装置，通过第一固定盘和第二固定盘可以与光罩起到互相固定的作用，通过第一环形刷和第二环形刷可以将光罩两面同时进行清洗，通过进水接口可以在清洗过程中一直注入干净的纯水，通过设有的出水接口可以将清洗后的水放出，提高了对光罩的清洗效率。
一种清洗装置

[发明专利]一种空气气溶胶单粒子多模态光谱诊断装置及诊断方法-CN201910827698.7有效
发明人：周平伟;朱瑜;朱礼国;杜良辉;翟召辉;李江;钟森城;邹逸;刘乔;王德田 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2019-09-03 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种空气气溶胶单粒子多模态光谱诊断装置及诊断方法，包括散射光源、深紫外光源、近紫外光源、高能脉冲光源、光谱收集输运光路和光探测器；所述散射光源所发光束分布于气溶胶单粒子路径的最前方，所述深紫外光源、近紫外光源和高能脉冲光源所发光束均位于气溶胶单粒子路径上，位于散射光源所发光束的后方；同一气溶胶单粒子，穿过散射光源、深紫外光源、近紫外光源和高能脉冲光源所发光束，产生散射信号、荧光光谱和激光诱导击穿光谱，并由光谱收集输运光路传输至光探测器，共同表征气溶胶单粒子的性质。采用本发明的一种空气气溶胶单粒子多模态光谱诊断装置及诊断方法，能迅速识别粒子的结构特征、荧光特征和元素构成等信息。
一种空气气溶胶粒子多模态光谱诊断装置方法

[实用新型]一种分布式偏振片、内窥式探头及内窥式偏振成像装置-CN202220627543.6有效
发明人：朱瑜;温伟峰;杜良辉;朱礼国;李生福;周平伟 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种分布式偏振片、内窥式探头及内窥式偏振成像装置，其中分布式偏振片包括偏振方向相互垂直的起偏区和检偏区，所述起偏区沿所述检偏区的周向设置且所述起偏区与所述检偏区无缝衔接。本实用新型的目的在于提供一种分布式偏振片、内窥式探头及内窥式偏振成像装置，该分布式偏振片可以使得照明光的偏振方向与图像传感器接收光的偏振方向正交，从而消除内窥形貌检测区域的镜面反射与背景干扰，降低背景亮度，增强方差，突出形貌纹理。
一种分布式偏振内窥式探头成像装置

[发明专利]一种用于检测细胞和生物大分子的瞬态THz光谱仪-CN202010412903.6有效
发明人：施卫;侯磊;马成;董陈岗;杨磊;韩家广;栗岩锋;欧阳春梅;谷建强;朱礼国;翟召辉;杜良辉;邹逸 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2020-05-15 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明公开了一种应用于细胞和生物大分子的瞬态THz光谱仪，包括飞秒激光放大器，飞秒激光放大器输出的飞秒激光经过透反比为7:3的分束镜后分成泵浦光和探测光两束光、泵浦光依次经过二分之一波片、镀银反射镜和透镜后聚焦照射在非线性光电导天线电极间隙处辐射出太赫兹波，太赫兹波依次经过透镜、平板波导、透镜和ITO膜后形成太赫兹波共线，太赫兹波共线与探测光形成波前倾斜的探测光共线垂直入射到ZnTe晶体上并利用CCD相机探测并记录。本发明实现了对微量的细胞或生物大分子的探测，同时保证耦合效率以满足瞬态动力学的研究。最终通过细胞和生物大分子应用的瞬态THz光谱仪的设计实现飞摩尔量级的含水生物样品的瞬态检测。
一种用于检测细胞生物大分子瞬态 thz 光谱仪

[发明专利]一种基于超材料的荧光增强型全光纤氢气传感器-CN201910828193.2有效
发明人：周平伟;朱瑜;朱礼国;杜良辉;翟召辉;李江;钟森城;邹逸;刘乔;王德田 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2019-09-03 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于超材料的荧光增强型全光纤氢气传感器，包括光纤，所述光纤的一端为光纤探头，光纤的另一端设置光源和探测器；所述光纤探头的端面为具有倾斜角度的端面，光纤探头的端面上设置结构周期性布置的超材料层，所述超材料层上设置荧光探针；所述光纤探头侧面设置由氢敏材料制成的氢敏层；所述氢敏层膨胀后，拉伸超材料层从而改变超材料的周期。采用本发明的一种基于超材料的荧光增强型全光纤氢气传感器，采用超材料共振耦合方式，可以得到很高的检测灵敏度；与光纤集成，采用光纤传输光学信号，体积小，可满足不同场所的氢气检测需求。
一种基于材料荧光增强光纤氢气传感器

[发明专利]一种半导体元器件3D检测机-CN201910443102.3有效
发明人：凌永康;杜良辉;孙国标 -专利权人：江苏晶度半导体科技有限公司
申请日： 2019-05-26 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本发明涉及半导体设备技术领域，具体为一种半导体元器件3D检测机，包括箱体，箱体的内设有底板，底板的上表面设置有两个传动装置，箱体的前表面设有U形支架，U形支架的两个水平端之间设有支撑杆，支撑杆的顶端设有调节座，支撑杆的底端设有套环。本发明通过在箱体内的底板上设有传动装置，便于将半导体元器件的输送检测，提高检测精度，此外，在箱体的前表面安装有U形支架，U形支架上设有支撑杆，调节座上的穿孔穿过支撑杆，通过穿孔在支撑杆上上下移动，便于调节座高度的固定，支撑架通过第二转轴转动，便于调节显示屏的转向，解决半导体元器件3D检测机不便于半导体元件的输送和不便于调节显示屏的高度及转向的问题。
一种半导体元器件检测

[发明专利]一种便于传送的半导体溅镀机-CN201910658394.2有效
发明人：何於;闫文军;杜良辉 -专利权人：江苏晶度半导体科技有限公司
申请日： 2019-07-21 - 公布日： 2021-09-10 - 主分类号： C23C14/34 文献下载
摘要：本发明涉及半导体溅镀机技术领域，具体为一种便于传送的半导体溅镀机，包括第一箱体和第二箱体，第一箱体底部靠近后侧的位置设有操作台，操作台的右侧设有第二底座，第二底座左侧靠近中间的位置设有第一底座，第一底座的表面设有第一推送机构，第二底座表面靠近中间的位置设有第三箱体，第三箱体的前后两侧设有对称分布的第一气缸机构和第二气缸机构，第三箱体的左侧设有第三气缸机构。该便于传送的半导体溅镀机，通过第一推送机构和第三气缸机构将原件从第三推送口推入至第三箱体内，通过第二推送机构、第一气缸机构和第二气缸机构将溅射好的成件从第二推送口推出至接收连接管内，使半导体在溅镀机内的传送更加便利，提高半导体的溅射效率。
一种便于传送半导体溅镀机

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