专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]flash的冗余替换方法、装置、寄存器和存储芯片-CN202310888219.9在审
  • 林朝明;朱雨萌;冯嘉;黄凯怡;康治伟 - 芯天下技术股份有限公司
  • 2023-07-19 - 2023-08-18 - G11C29/24
  • 本发明涉及存储芯片技术领域,具体公开了一种flash的冗余替换方法、装置、寄存器和存储芯片,其中,方法包括步骤:依地址顺序同时选中存储区的存储单元和冗余区的冗余单元进行检测,并分别生成存储单元检测结果和冗余单元检测结果;在存储单元检测结果为坏,以及冗余单元检测结果为坏或冗余单元检测结果对应的冗余单元已用于替换时,获取冗余单元检测结果为好且未用于替换的冗余单元来替换该存储单元检测结果为坏的存储单元;该方法利用冗余单元检测结果为好且未用于替换的冗余单元来进行替换处理,使得替换后的存储单元为好存储单元,省去了flash的冗余替换处理中的二次检测过程,并提高了良品率,且能充分利用冗余区的冗余单元。
  • flash冗余替换方法装置寄存器存储芯片
  • [发明专利]测试用例的覆盖率统计方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210394920.0在审
  • 朱雨萌;张新展 - 芯天下技术股份有限公司
  • 2022-04-14 - 2022-07-29 - G06F11/36
  • 本发明涉及非易失性存储器技术领域,具体公开了一种测试用例的覆盖率统计方法、装置、电子设备及存储介质,其中,统计方法包括以下步骤:仿真运行所有所述测试用例并生成对应的覆盖率文件和日志信息;根据所述日志信息筛选并删除验证失败的覆盖率文件;根据余下的覆盖率文件生成覆盖率报告;该统计方法根据仿真过程中生成的日志信息筛选并删除验证失败的覆盖率文件,将对应于能正常运行的测试用例的覆盖率文件进行整合获取覆盖率报告,使得该覆盖率报告能反映出测试用例对于正常验证通过的测试点的覆盖情况,能更正确地反映出测试用例的验证进展,能更清楚地反映出项目验证进展是否满足设计期望。
  • 测试覆盖率统计方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种挂起功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210438911.7有效
  • 朱雨萌;张新展 - 芯天下技术股份有限公司
  • 2022-04-25 - 2022-07-08 - G06F9/4401
  • 本发明涉及非易失性存储器技术领域,具体公开了一种挂起功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,验证方法包括以下步骤:根据需要验证的算法类型创建测试用例;针对器件模型重复仿真运行测试用例,并在仿真过程中随机发送挂起及恢复指令;获取器件模型执行挂起及恢复指令时的状态机组合;获取所有已出现的状态机组合在功能覆盖率仓中的占比;在占比达到预设阈值时结束仿真并根据仿真过程获取验证结果;该验证方法通过在仿真执行包含需要验证的算法的测试用例的过程中随机发送挂起及恢复指令方式,便可实现算法随机性阶段和挂起功能的搭配,无需创建复杂、繁多的测试用例,减少挂起功能验证的工作量。
  • 一种挂起功能验证方法装置电子设备存储介质

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