专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]高效稳定黄色荧光粉、制备方法及应用-CN202310573997.9在审
  • 杜鹏;曾琪峰;罗来慧 - 宁波大学
  • 2023-05-18 - 2023-08-22 - C09K11/59
  • 本发明提供了高效稳定黄色荧光粉、制备方法及应用,化学式为Li2Sr0.97‑xSiO4:0.03Eu2+/xCa2+或Li2Sr0.97‑ySiO4:0.03Eu2+/yBa2+。当Ba2+和Ca2+共同对Sr2+进行取代后,虽然Sr2+的离子半径介于Ba2+和Ca2+之间,但是Ba2+和Ca2+所引发的晶格坍塌并非相互抵消,而是叠加,且使得Eu2+的激活能提升,并引入额外的缺陷,这部分缺陷内储存有一部分电子,当黄色荧光粉的温度上升后,这部分电子发生跃迁,对黄色荧光粉的荧光强度进行了补偿,从而使荧光强度的热衰减现象降低,黄色荧光粉发光强度的热稳定性得到了提升,可以在LED灯在长时间发光温升之后,依然保持较高的发光质量。
  • 高效稳定黄色荧光粉制备方法应用
  • [发明专利]一种测量光源平行性的方法-CN201911050909.7有效
  • 张雪鹏;马俊林;曾琪峰 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2019-10-31 - 2021-11-02 - G01M11/02
  • 一种测量光源平行性的方法属于光电测量技术领域,对于具体的测量和计算方法进行优化和改进。该方法包括如下步骤:将待测光源、测量光栅和CCD相机从左至右依次设置在同一光轴上;将测量光栅的图形设置在在CCD相机上;待测光源发出的平行光平行于光轴,照射到测量光栅上,将测量光栅上面的条纹图形垂直投影到CCD相机上;通过CCD相机上的设置图形和测量光栅的投影图形比对,判断待测光源的光线是发散还是汇聚,再通过已知的测量光栅与CCD相机的距离,计算出光线的发散角度或者是汇聚角度。本发明测量更准确,观察更直观,测量精度更高。
  • 一种测量光源平行方法
  • [发明专利]一种精确测量光源平行性的方法及装置-CN201510967508.3有效
  • 孙竹;曾琪峰;杨帆;孙强 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2015-12-22 - 2018-10-16 - G01B11/26
  • 一种精确测量光源平行性的方法及装置,属于光电测量领域,为了解决现有技术无法实现光源平行性的精确测量问题,第一步,将待测光源放置标准光栅的上方,将标准光栅固定件的上面,光电探测器固定在固定件底部,且待测光源、标准光栅和光电探测器同轴设置,光电探测器与信号处理模块连接,示波器及电脑分别与信号处理模块相连;第二步,待测光源发出的光先入射到标准光栅,再入射光电探测器上,光电探测器将所得到的光信号转化为电信号,通过信号处理模块的处理,信号输入到示波器及电脑中;第三步,电脑根据示波器的波形图计算待测光源的平行性参数;该测量装置测量精度高,数据直观可靠。
  • 一种精确测量光源平行方法装置
  • [发明专利]绝对位置测量方法-CN201410788240.2有效
  • 乔栋;孙强;吴宏圣;曾琪峰;蔺春波 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2014-12-17 - 2015-04-15 - G01D5/34
  • 绝对位置测量方法,涉及一种绝对位置测量方法,解决现有方法只适用于曼彻斯特编码方式,且需要扫描附加的编码、附加专门用于检错的编码,进而导致编码的利用率低等问题,本发明通过对同一编码单元在多个光敏感单元上所反映出的光学特性进行表决,并读取相邻的多个绝对位置编码,可以给后续设备提供可靠的绝对位置信息以及当前位置的污染状况。如果当前位置的污染状况超出可纠正范围时,位置测量装置停止给后续设备提供绝对位置信息并给出警报。通过选定某个光敏感单元作为测量点,可以提高测量分辨率。
  • 绝对位置测量方法
  • [发明专利]绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法-CN201410617422.3有效
  • 刘阳;许家林;乔栋;杨帆;吴宏圣;曾琪峰;孙强;尤佳 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2014-10-31 - 2015-01-21 - G01B11/00
  • 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法,属于绝对式光栅尺测量领域,为克服光照强度不均匀、绝对编码刻线质量不高以及光电二极管阵列光电响应不均匀等导致最终输出的具有绝对位置的电信号不一致问题,该方法包括上位机通过存储器给绝对式光栅尺的光电二极管阵列的一致性校正结构的增益校正电路和偏置校正电路分别输入两组初始值;将n个光电二极管在m档光源偏置电流下经过一致性校正结构后输出的电压响应曲线进行直线性拟合;选取一条作为目标直线,并将剩余其他n-1条响应直线向该目标响应直线拟合;全部直线取平均值;全部直线向该平均值移动;输出电压的响应直线的离散度满足要求为止及进行线性范围扩展,直到离散度和线性范围满足要求为止。
  • 绝对光栅尺信号一致性校正方法
  • [发明专利]光栅尺光电传感器-CN201310275684.1有效
  • 乔栋;常玉春;李也凡;孙强;曾琪峰 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2013-07-02 - 2013-10-02 - G01B11/02
  • 光栅尺光电传感器,涉及专用集成电路开发领域,解决现有光栅尺采用多个分立的光敏感单元进行位置测量,存在占用面积大,系统集成度低,故障率高,并且存在光电传感器设计效率低等问题,包括光敏感单元阵列、读出电路、参数导入系统和电荷转移模块,该传感器的参数导入系统能够按照约定的串行通信协议接收参数,也能够直接将外部输入的并行参数传递给读出电路,在无法串行接收参数时,该系统同样能完成参数传递工作,保证读出电路的正常工作,提高了设计效率。同时,本发明将参数导入系统传递给读出电路的参数输出到光栅尺光电传感器外部,可以方便的检测参数导入系统是否工作正常,提高了光栅尺光电传感器的测试效率。
  • 光栅尺光电传感器

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