“操冬华”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果15个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种软件实现usb主机控制器方法、系统及存储介质-CN202011314506.1有效
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：广州安凯微电子股份有限公司
申请日： 2020-11-20 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G06F13/38 文献下载
摘要：本发明公开了一种软件实现usb主机控制器方法，包括：根据usb主机层分配的usb主机端点模型结构体建立urb的管理链表；建立主机控制器端点的模型结构体，将usb主机端点与usb外接设备的端点进行绑定，以实现usb底层和从机设备之间的数据通信传输；建立主机控制器的模型结构体；通过主机控制器端点的模型结构体和主机控制器的模型结构体对主机控制器端点进行管理。本发明采用软件实现usb主机控制器方法，不需要硬件设计，可以节省芯片设计的成本和减小芯片面积，降低芯片生产成本，还可以兼容usb不同版本主机控制器接口，应用比较灵活，能够实现更高的usb传输速度。
一种软件实现 usb 主机控制器方法系统存储介质

[发明专利]一种Linux系统内存分配的精确统计方法、装置、设备及存储介质-CN202210518797.9在审
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：广州安凯微电子股份有限公司
申请日： 2022-05-13 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G06F9/50 文献下载
摘要：本申请属于计算机系统及存储领域，公开了—种Linux系统内存分配的精确统计方法、装置、设备及存储介质，其方法包括对内存空间进行分类；当每次系统内存申请成功时，创建一个用于内存统计的节点结构体，并将申请成功的已分类的内存空间的信息填入节点结构体中；创建用于内存统计的链型的双向链表；当每次系统内存申请成功时，将节点结构体的信息加入双向链表的尾部；当申请成功的内存在后续运行过程中被释放掉时，使对应的节点结构体的信息从双向链表中移除；基于双向链表中节点结构体的信息，统计系统内存。本申请可以达到精确统计系统中内存分配的数量和去向，当系统出现内存泄漏时，也能快速统计泄漏内存和定位内存泄漏位置的效果。
一种 linux 系统内存分配精确统计方法装置设备存储介质

[发明专利]一种实现图像采集的方法、装置及系统-CN201310389700.X有效
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2013-08-30 - 公布日： 2017-11-24 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：本发明公开了一种实现图像采集的方法，用于利用SPI接口实现快速有效的图像数据采集的目标，该方法包括主控芯片向图像采集传感器发送时钟信号，以使图像采集传感器启动图像数据的采集，图像采集传感器具有遵循SPI协议的两线串行外设接口，串行外设接口SPI包括SPI时钟线和图像数据输出线；主控芯片接收到系统的触发信号后，通过I2C控制器接口向图像采集传感器的像素采集模组发送复位信号，然后开始通过SPI控制器接口接收图像采集传感器采集的图像数据；对采集到的图像数据进行软件解析，完成图像采集。本发明还公开了一种实现图像采集的装置及系统。
一种实现图像采集方法装置系统

[发明专利]一种集成芯片参考电压校准方法、装置及使用方法-CN201410550775.6在审
发明人： 操冬华;苏俊杰;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2014-10-16 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成芯片参考电压校准方法、装置及使用方法，通过在IC内部增设电子熔丝模块，并对电子熔丝模块进行读写操作以实现对IC的参考电压进行校准的方式，将现有的外部校准方案改成了内部校准方案，能够较大地降低IC设计、测试校准及生产制造的成本。本发明集成芯片参考电压校准方法包括：在IC验证测试阶段，根据电子熔断模块的工作需要，搭建好用于给IC内部校准参考电压的电路；S1、获取所述IC的外部校准参考电压；S2、将外部校准参考电压与理论标准值比较，得到调节值；S3、根据调节值及电子熔丝模块的档位校准关系得到电子熔丝模块内熔断位的档位组合值；S4、向电子熔丝模块写入档位组合值，完成对所述IC自身产生的参考电压的校准。
一种集成芯片参考电压校准方法装置使用方法

[发明专利]一种标准SPI协议高速传输的保护方法及系统-CN201410513526.X在审
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2014-09-29 - 公布日： 2016-04-27 - 主分类号： G06F13/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种标准SPI协议高速传输的保护方法及系统，通过在现有标准SPI协议的基础上增设CRC算法的方式，能够在SPI协议应用于高频和高速的数据传输环境时，提高可靠的校验保护，使SPI协议能够被更加广泛、高效和可靠地应用。本发明方法包括：SPI主机对传输数据进行CRC校验，并产生第一CRC校验码；SPI主机按设定规则向传输数据增加CRC校验的校验宽度类型及第一CRC校验码，得到检验传输数据；SPI主机将校验传输数据发送至SPI从机；SPI从机按预设规则从校验传输数据中解析出传输数据、校验宽度类型及第一CRC校验码；SPI从机根据校验宽度类型对解析出的传输数据进行CRC校验，得到第二CRC验证码；对比第一CRC校验码及第二CRC验证码，得到对比结果。
一种标准 spi 协议高速传输保护方法系统

[发明专利]一种计时方法、中央处理器及电子设备-CN201210151776.4有效
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2012-05-15 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G05B19/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种计时方法，包括：在接收到应用的计时启动请求时，获取定时器当前的计数值，将其作为启动计数值存储于与应用对应的存储空间；在接收到该应用的计时停止请求时，获取定时器当前的计数值，将其作为停止计数值存储于该存储空间；统计定时器在接收到该应用的计时启动请求和计时停止请求的过程中到达预设计数值的次数，将其存储于该存储空间；根据启动计数值、停止计数值、定时器的定时时间、计数初值、机器周期和定时器到达预设计数值的次数计算时间值。本发明公开的计时方法，保证电子设备中的一个定时器可响应多个应用的计时请求，从而在电子设备中定时器数量有限的情况下，满足大量应用的计时需求。本发明还公开了一种中央处理器。
一种计时方法中央处理器电子设备

[发明专利]一种动态随机存取存储器的变频方法-CN201210056165.1有效
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2012-03-05 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G11C11/406 文献下载
摘要：本发明公开了一种DRAM的变频方法，包括：冻结与该DRAM相关的外部设备，禁止外部设备输出请求新数据的指令；控制DRAM进入省电模式或进行自刷新；将第一变频代码拷贝至预设缓冲区；运行第一变频代码，控制锁相环将DRAM的时钟频率调整至预设频率；控制DRAM退出省电模式或停止自刷新；解冻外部设备，允许外部设备输出请求新数据的指令。基于本发明公开的变频方法，在DRAM进行变频过程中，微处理器不会向DRAM发出访问请求，保证了微处理器不会从DRAM中获取错误数据，而是将已缓存的有效数据传输至外部设备，确保在DRAM变频过程中，外部设备不会获取错误数据的问题，进而提高用户的用户体验。
一种动态随机存取存储器变频方法

[发明专利]一种动态存储器的扫描检测方法及系统-CN201210042768.6有效
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯(广州）微电子技术有限公司
申请日： 2012-02-23 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明于存储器检测技术领域，提供了一种动态存储器的扫描检测方法及系统。其中方法包括：分别在至少两种不同的地址扫描模式下，将数据写入动态存储器的多个扫描子空间；在每种地址扫描模式下，在将数据写入多个扫描子空间后，从多个扫描子空间分别读取数据；将读取到的数据与写入多个扫描子空间的相应数据进行比较，输出比较结果。本发明提供的动态存储器的扫描检测方法是采用至少两种不同的地址扫描模式，如：字扫描模式、半字扫描模式和字节扫描模式等，分别对动态存储器进行扫描检测，可以真实的覆盖到动态存储器每一存储单元的地址，检测结果更精确。
一种动态存储器扫描检测方法系统

[发明专利]ddr系列pcb板时序补偿方法、系统及终端-CN201210037806.9有效
发明人： 操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯(广州）微电子技术有限公司
申请日： 2012-02-17 - 公布日： 2013-08-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明适用于于信号处理领域，提供了一种ddr系列pcb板时序补偿方法、系统及终端。所述方法包括步骤：测试出pcb板的布板设计的同步信号的时序偏差时间；测试出实际pcb板上同步信号的时序偏差时间；根据实际pcb板上同步信号的时序偏差时间校准pcb板的布板设计的同步信号的时序偏差时间；结合实际测量的单个延时电路的延时时间和实际pcb板上同步信号的时序偏差时间，确定需设置的主控端的最少单个延时电路个数；结合主控端的最少单个延时电路个数和校准后的pcb板的布板设计的同步信号的时序偏差时间，设置主控端的延时电路。本发明实施例能够有效降低因pcb板布线的差异所引起的数据线上信号传输不同步的概率。
ddr 系列 pcb 时序补偿方法系统终端

[发明专利]一种用于存储器的控制器及应用该控制器的方法-CN201110226216.6有效
发明人： 操冬华;葛保建;谢树;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2011-08-08 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于存储器的控制器及应用该控制器的方法，应用本发明，根据接收到的第一信号调整逻辑功能寄存器，以绑定与该存储器类型对应的逻辑功能，根据接收到的第二信号，调整所述控制器的输入输出口电平模式和驱动负载的能力，因而，使同一控制器能够支持对多种类型的存储器的控制。再有，通过对存储器的操作时序进行自动探测，提高了处理效率及灵活性。
一种用于存储器控制器应用方法

[发明专利]一种采集图像数据的方法-CN201110044660.6有效
发明人： 操冬华;葛保建;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2011-02-24 - 公布日： 2012-08-29 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：本发明公开了一种采集图像数据的方法，包括：A、利用第一通用输入输出接口和第二通用输入输出接口分别获取图像采集设备发送的帧同步信号和行同步信号；B、当第二通用输入输出接口获取图像采集设备发送的行同步信号为非数据采集有效期的时候，启动存储控制器的命令序列读取操作，生成与图像采集设备的像素时钟信号同步的读数据时钟信号；C、根据读数据时钟信号获取图像采集设备所发送的图像数据。在主控芯片上没有图像采集控制器的情况下，本发明利用固态存储控制器获取到了外部图像采集设备所发送的图像数据，实现了完整的图像数据采集功能，因此，本发明提供的方法可以降低主控芯片的制作成本，方便的实现用户对图像采集的功能需求。
一种采集图像数据方法

[发明专利]一种图像数据的发送方法-CN201110045178.4有效
发明人：葛保建;操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2011-02-24 - 公布日： 2012-08-29 - 主分类号： G06F3/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种图像数据的发送方法，包括：A、利用第一通用输入输出接口和第二通用输入输出接口分别向图像显示设备发送帧同步信号和行同步信号；B、当所述第二通用输入输出接口发出所述图像显示设备需要的行同步信号为非数据采集有效期的时候，启动存储控制器的命令序列发送操作，生成与所述图像显示设备的像素时钟信号同步的写数据时钟信号；C、根据所述写数据时钟信号发送所述图像显示设备所需要的图像数据。在主控芯片上没有图像控制器的情况下，本发明利用固态存储控制器向外部的图像显示设备发送图像数据，实现了图像数据的发送功能，因此，本发明提供的方法可以降低主控芯片的制作成本，方便用户实现图像数据的发送功能。
一种图像数据发送方法

[发明专利]芯片摄像头接口功能测试方法及装置-CN201110041014.4无效
发明人：谢树;葛保建;操冬华;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2011-02-18 - 公布日： 2012-08-22 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片摄像头接口功能测试方法及装置，所述方法包括：模拟摄像头接口信号生成测试图像；将所述测试图像输入到所述芯片摄像头接口，进行芯片功能测试。利用本发明，可以提高测试的准确性和自动化程度，并提高测试过程的可重复性。
芯片摄像头接口功能测试方法装置

[发明专利]NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统-CN201110040836.0无效
发明人：葛保建;谢树;黄杰成;操冬华;张宇;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2011-02-18 - 公布日： 2012-08-22 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统，所述方法包括：产生预定个数的随机数据；获取所述随机数据的ECC校验数据；根据所述随机数据生成测试数据；在关闭ECC功能的模式下将所述测试数据和所述ECC校验数据写入NandFlash；在开启ECC功能的模式下从所述NandFlash中读取写入的测试数据；如果ECC模块报错，则确定所述ECC模块功能正常；否则确定所述ECC模块功能异常。利用本发明，可以实现对ECC模块的验证，保证其逻辑功能的正确性。
nandflash 控制器错误校正模块测试方法系统

[发明专利]一种测试芯片的方法及装置-CN201010597539.1无效
发明人： 操冬华;葛保建;谢树;胡胜发 -专利权人：安凯（广州）微电子技术有限公司
申请日： 2010-12-20 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试芯片的方法及装置，所述包括：在每个被测IC芯片内设置用于测试芯片正常逻辑功能的内建自测BIST电路；所述方法还包括：被测IC芯片通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的自测试指令，进入自测模式；被测IC芯片中的内建自测电路通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的测试数据指令，对所述被测IC芯片中的逻辑功能进行测试，返回测试结果；其中，所述数据转换逻辑电路将来自主控IC芯片的指令转换为串行信号后发送给被控IC芯片，将来自被控IC芯片的信号转换为并行信号后发送给主控IC芯片。应用本发明，降低了对出货前芯片的测试成本，提高测试效率。
一种测试芯片方法装置

1
共 15 条