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- [发明专利]获取莫尔条纹的方法及其应用-CN202310599849.4在审
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彭川黔;曹孟军
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重庆理工大学
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2023-05-25
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2023-08-04
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G01B11/02
- 本发明涉及一种获取莫尔条纹的方法及其应用，包括若干圆形条纹，所有圆形条纹同轴且等间距，所有圆形条纹在轴向上的宽度相等，圆形条纹可反光、透光或自发光；还包括套设在所有圆形条纹外侧的螺旋挡光条纹，螺旋挡光条纹与圆形条纹同轴，螺旋挡光条纹和所述若干圆形条纹对应匹配以便产生莫尔条纹；螺旋挡光条纹的外侧设有光电探测器，光电探测器的检测面朝向螺旋挡光条纹的轴线方向；所有圆形条纹作为一个整体相对螺旋挡光条纹发生轴向运动时，圆形条纹反射或射出的光束经螺旋挡光条纹后被光电探测器接收。本发明将圆形条纹的轴向位移量，转变为周向的莫尔条纹位移量来检测，应用于数控设备Z轴位移的测量，可在非转动状态和转动状态均有效检测。
- 获取莫尔条纹方法及其应用
- [发明专利]长程光学表面面形检测装置及其使用方法-CN202310607190.2在审
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彭川黔;李正芳
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重庆理工大学
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2023-05-26
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2023-08-04
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G01B11/24
- 本发明涉及一种长程光学表面面形检测装置及其使用方法，装置包括多个移动光学头，所述多个移动光学头呈矩形阵列布置且相互连接呈一个整体结构，所有移动光学头的测量方向同向且测量端均位于所述整体结构的一面上。通过一个长方体形的外壳体将所述多个移动光学头连接呈一个整体结构，外壳体内设有若干纵横设置的分隔板并将外壳体内部对应分成呈矩形阵列的多个竖向的安装空间，每个安装空间内均设有尾纤、分束镜、单孔屏、傅里叶变换透镜和面阵探测器，一个安装空间对应形成为一个移动光学头且面向待测镜面测量。本装置集成多个移动光学头为一个检测整体，一次检测可以将镜面对应的测量点全部进行测量，效率大大提高，且不需要固定光学头修正。
- 长程光学表面检测装置及其使用方法
- [发明专利]基于莫尔条纹的检测方法及该方法在自准直仪上的应用-CN202110461636.6有效
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彭川黔
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重庆理工大学
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2021-04-27
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2023-04-14
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G01B11/02
- 本发明涉及一种基于莫尔条纹的检测方法及该方法在自准直仪上的应用，检测方法包括使用面阵的光源和面阵的光电探测器；面阵的光源电连接编程控制器，光电探测器电连接控制计算机；通过编程控制器控制面阵的光源显示设定的内容信息，通过控制计算机控制光电探测器按设定的读取区域进行信号读取；光源显示设定的内容信息的光束经成像透镜后成像于光电探测器上；设定的读取区域和设定的内容信息对应匹配以使光电探测器可读取获得莫尔条纹数据信号；控制计算机对光电探测器所读取莫尔条纹数据信号进行处理。本发明同样可实现莫尔条纹的位移测量应用，不再需要光栅和严格的装配工艺来保证物理结构位置，成本更低，并利于保证测量精度，并可灵活应用。
- 基于莫尔条纹检测方法准直仪上应用
- [发明专利]转角度数检测系统、方法及其应用-CN202211386189.3在审
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彭川黔;曹孟军;李正方
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重庆理工大学
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2022-11-07
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2023-03-07
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G01B11/26
- 本发明涉及一种转角度数检测系统、方法及其应用，系统包括光源、分束镜、准直透镜以及CCD接收器；还包括一个楔形劈尖和驱动楔形劈尖周向转动的转动驱动机构；还包括一个反射镜和驱动反射镜偏摆的偏摆驱动机构；还包括用于检测反射镜的偏摆角度的检测机构；光源发出的光束依次经分束镜、准直透镜和楔形劈尖后入射到反射镜，偏摆驱动机构可驱动反射镜偏摆并使反射镜与入射光束垂直，反射镜反射的光束沿入射路径返回，通过CCD上光斑的位置来判断反射镜是否与入射光束垂直；楔形劈尖的周向转动角度通过检测机构测得的反射镜的偏摆角度获取。本发明能避免目前在如角度传感器标定等精密转角测量中存在的不足，取得可连续测量、误差更小、精度更高的效果。
- 转角度数检测系统方法及其应用
- [发明专利]一种基于莫尔条纹的检测装置和检测方法-CN202110459992.4有效
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彭川黔
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重庆理工大学
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2021-04-27
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2022-09-30
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G01B11/02
- 本发明涉及一种基于莫尔条纹的检测装置和检测方法，装置包括面阵的光源和面阵的光电探测器，光源和光电探测器相互平行设置且相对可沿自身所在平面滑移，光源和光电探测器之间还平行设置有成像透镜，光源所发出的光束经成像透镜后成像于光电探测器上，面阵的光源电连接编程控制器，以通过编程控制器控制面阵光源显示设定的内容信息；光电探测器电连接控制计算机，以通过控制计算机控制光电探测器按设定的读取区域进行信号读取，并通过控制计算机进行光电探测器所读取信号的处理。本发明通过简单的结构替换和相应方法，同样可实现莫尔条纹的位移测量应用，不再需要光栅和严格的装配工艺来保证物理结构位置，成本更低，并利于保证测量精度。
- 一种基于莫尔条纹检测装置方法
- [发明专利]一种自准直仪及其使用方法-CN201911413160.8有效
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彭川黔;龚恒翔
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重庆理工大学
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2019-12-31
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2021-07-27
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G01B11/26
- 本发明涉及一种自准直仪及其使用方法，自准直仪包括光源、分束镜、准直透镜、CCD接收器以及双反射镜单元，光源发出的光束依次穿过分束镜和准直透镜，经双反射镜单元反射后成为测试入射光路入射到待测面；双反射镜单元包括两个平面反射镜，两个平面反射镜分别可沿各自的回转轴独立转动，两个平面反射镜的回转轴位于同一平面上（夹角可选45°）以便反射传递光束，平面反射镜与其回转轴呈斜交且所成的角按需设置以可通过转动改变测试入射光路的角度并使其以法线入射的形式入射到待测面，待测面的反射光路沿测试入射光路返回，在CCD接收器上形成光斑；待测面的偏移量通过两个平面反射镜的转动量获取。本发明可良好地减少系统误差的引入，提高测量精度。
- 一种准直仪及其使用方法
- [发明专利]长程面形检测仪及检测方法-CN201911420980.X有效
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彭川黔;龚恒翔
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重庆理工大学
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2019-12-31
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2021-07-27
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G01B11/25
- 本发明涉及一种长程面形检测仪及检测方法，检测仪包括光源、分束镜、构成等效五棱镜的双反射镜单元、傅里叶变换透镜和面阵探测器；光源出射光束经分束镜、双反射镜单元至待测光学器件表面，被反射后经双反射镜单元、分束镜、傅里叶变换透镜至面阵探测器，形成测量光斑；双反射镜单元包括两个平面反射镜，两个平面反射镜分别可沿各自的回转轴独立转动，两回转轴位于同一平面上且夹角为45°，平面反射镜与其回转轴呈斜交且所成的角按量程所需设置以通过转动改变经双反射镜单元反射后出射光路的角度并使出射光路以法线入射的形式入射到待测光学器件表面；待测光学器件的表面面形通过可两个平面反射镜的转动量获取，从而提高检测精度。
- 长程检测方法
- [发明专利]长程光学表面面形检测装置及检测方法-CN201911303272.8有效
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彭川黔
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重庆理工大学
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2019-12-17
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2021-07-27
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G01B11/24
- 本发明涉及一种长程光学表面面形检测装置及检测方法，面形检测装置包括检测光路和用于形成测量光斑的f‑θ角度检测系统，检测光路中，直接入射到待测光学器件表面的入射光路上设有双劈尖机构，双劈尖机构包括沿所述入射光路间隔设置的两个单体楔形劈尖，入射光路穿过两个单体楔形劈尖，两个单体楔形劈尖可独立转动以通过转动改变其出射光路的角度并使出射光路以法线入射的形式入射到待测光学器件表面。本发明通过转动劈尖使反射光路沿入射光路原路返回并可结合测量光斑进行判断，待测光学器件的表面面形通过劈尖转动量来获取，光路在各光学元件上的作用位置一致，使传统系统中因横移量引入的各光学元件的角度误差均可完全避免，提高检测精度。
- 长程光学表面检测装置方法
- [发明专利]自准直仪-CN201911303271.3有效
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彭川黔
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重庆理工大学
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2019-12-17
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2021-07-27
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G01B11/26
- 本发明涉及一种自准直仪，包括光源、分束镜、准直透镜以及CCD，还包括双劈尖机构，光源发出的光束依次穿过分束镜、准直透镜和双劈尖机构，双劈尖机构包括沿光束间隔设置的两单体楔形劈尖，穿过双劈尖机构后的光束形成为测试入射光路；两单体楔形劈尖可独立转动以使测试入射光路以法线入射的形式入射到待测面，待测面的反射光路沿测试入射光路返回，穿过劈尖和透镜，经分束镜反射后在CCD上形成光斑；待测面偏移量通过两单体楔形劈尖的转动量获取。测量时，光束工作于法线入射模式，双劈尖机构不引入像差，光束均沿光轴工作，各光学元件引入误差相同，测量精度不受距离限制；克服了传统仪器因测量距离、角度增大引入各光学元件角度测量误差的问题。
- 准直仪
- [发明专利]一种长程光学表面面形检测系统-CN201610101562.4有效
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彭川黔;何玉梅;王劼
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中国科学院上海应用物理研究所
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2016-02-24
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2018-03-30
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G01B11/24
- 本发明提供一种长程光学表面面形检测系统，包括移动光学头和f‑θ角度检测系统，所述移动光学头包括尾纤以及形成等效五棱镜的分束镜和凹面镜，其中，所述移动光学头设置为通过所述尾纤将输入的光束出射，以使所述光束透过所述分束镜后入射到待测光学器件的表面上，再经所述待测光学器件的表面反射回所述分束镜，并通过所述分束镜将部分反射回的所述光束反射到所述凹面镜，并通过所述凹面镜沿垂直于所述待测光学器件表面对应测量点的法线的方向反射至所述f‑θ角度检测系统，以在所述f‑θ角度检测系统中形成测量光斑。本发明减少了引入误差的反射、透射光学器件的数目，并减少了测量不同角度时测量光束横移引入的系统误差，提高了测量精度。
- 一种长程光学表面检测系统
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