专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种波长位移光纤荧光强度测试系统-CN202320262837.8有效
  • 崔兴柱;段文杰;王瑞杰;张志港;刘鑫;董永伟 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2023-02-15 - 2023-09-12 - G01N21/01
  • 本实用新型公开了一种波长位移光纤荧光强度测试系统,其特征在于,包括多模光纤,其一端连接LED光源,另一端连接装载光纤工装,用于将LED光源产生的光经装载光纤工装传递到波长位移光纤;波长位移光纤一端穿入装载光纤工装中,另一端与光电倍增管耦合连接,用于将LED光源产生的光信号耦合入光电倍增管进行放大;光电倍增管的输出端分别与信号控制系统、信号读出系统连接;信号控制系统用于对光电倍增管输出的荧光信号进行监测并控制其信号幅度;信号读出系统用于对光电增管输出的荧光信号进行处理得到荧光信号的幅度信读出。本申请为波长位移光纤光输出的测量提供了更为便捷的测试系统。
  • 一种波长位移光纤荧光强度测试系统
  • [实用新型]一种闪烁晶体荧光激发系统-CN202220895707.3有效
  • 崔兴柱;代莹莹;刘鑫;董永伟 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2022-04-18 - 2022-08-23 - G01N21/64
  • 本实用新型公开了一种闪烁晶体荧光激发系统,其特征在于,包括LED光源(1),石英光纤(2)一端连接LED光源(1),另一端连接闪烁晶体(3);波长位移光纤(4)连接闪烁晶体(3)与光导(5),用于将荧光传递到光导(5);光导(5)与光电倍增管(6)耦合连接,用于将接收的荧光信号耦合入光电倍增管(6)进行放大;光电倍增管(6)的输出端分别与信号控制系统(14)、信号读出系统(15)连接;信号控制系统(14),用于对光电倍增管(6)输出的荧光信号进行监测和控制;信号读出系统(15),用于对光电倍增管(6)输出的荧光信号进行处理并读出。本申请可以实现在更多实验环境下闪烁晶体荧光强度的测试。
  • 一种闪烁晶体荧光激发系统
  • [发明专利]深空X荧光分析方法-CN200810106009.5无效
  • 崔兴柱;彭文溪;王焕玉;张承模;杨家卫;曹学蕾;汪锦州;梁晓华;陈勇;高旻;张家宇 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2008-05-07 - 2009-11-11 - G01N23/223
  • 一种深空X荧光分析方法,涉及X荧光分析技术,在没有实际标样的条件下运用模拟标样对深空行星的荧光数据进行定量分析。该方法结合蒙特卡罗方法和基本参数法:应用太阳监视器测量到的不同时期太阳辐射X射线作为激发能谱,采用geant4软件包运用蒙特卡罗方法对不同样品的荧光光谱进行模拟,采用基于基本参数法编写的程序对在轨测量荧光能谱和模拟得到的标准能谱进行迭代运算,并根据卫星轨道数据和探测器的视场设计对数据进行网格划分,得到行星的元素分布数据。本发明方法无需携带标准样品,用蒙特卡洛模拟方法,方便而准确地得到模拟的标准样品能谱。而基本参数法是一种准确的计算方法,两种方法结合,得到准确的行星元素分布信息。
  • 荧光分析方法
  • [实用新型]深空探测X射线谱仪定标设备-CN200820080543.9无效
  • 高旻;汪锦州;王焕玉;张承模;崔兴柱;彭文溪;曹学蕾;张家宇;杨家卫;梁晓华 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2008-05-14 - 2009-04-01 - G01T1/00
  • 本实用新型一种深空探测X射线谱仪定标设备,为深空探测X射线谱仪标定实验专用,包括一四轴转台,一升降台,一X射线光源管和一基准平台;升降台和四轴转台相近固定在基准平台上,深空X射线谱仪置于升降台上;其还包括连接件,连接件包括连接杆和套环,连接杆上端有固定孔,固定孔与θ轴的外径相适配,通过固定孔套于θ轴上,再以螺栓将连接杆上端固定在θ轴上;连接杆下端固接一套环;X射线光源管外围设有准直管和后座,后座的外径与套环的内径相适配,X射线光源管的后座套在套环内并固定;X射线光源管射出端与深空X射线谱仪的接收窗口相对设置。本实用新型可对深空探测X射线谱仪的能量线性、分辨率、角度相应的性能进行标定。
  • 探测射线定标设备

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