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[发明专利]一种低氧含量超细非晶碳化硅纳米颗粒的制备方法-CN202210385649.4有效
发明人：王城;杨成鹏;周加文 -专利权人：合肥碳艺科技有限公司
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： C01B32/977 文献下载
摘要：本发明公开了本发明提供一种低氧含量超细非晶碳化硅纳米颗粒的制备方法，包括以下步骤：形成两个大气压磁旋转电弧等离子体，分别为上游等离子体和下游等离子体；在上游等离子体引入含硅的有机前驱体，在下游等离子体引入气态烃，在等离子体引发下反应获得低氧含量超细非晶碳化硅纳米颗粒。其中，所述大气压磁旋转电弧等离子体具有非平衡特性，等离子体电子能量为2.0‑10.0eV，重粒子温度为500‑1500K。本发明工艺在常压下进行，反应条件温和；制备的非晶碳化硅纳米颗粒平均粒径小于10nm，颗粒表面氧原子数百分比低于3％，方便产品的储存、运输和应用。
一种低氧含量超细非晶碳化硅纳米颗粒制备方法

[发明专利]碳化硅纳米颗粒及其制备方法和应用-CN202110390284.X在审
发明人：王城;周加文;夏维东 -专利权人：合肥碳艺科技有限公司
申请日： 2021-04-12 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： C04B35/565 文献下载
摘要：本发明公开了一种碳化硅纳米颗粒及其制备方法和应用，该制备方法采用含硅有机前驱体作为碳源和硅源，将其引导至大气压非平衡等离子体区域，在等离子体诱导下反应制得超细非晶碳化硅纳米颗粒，该制备工艺步骤简单，反应条件温和且成本低廉，具有应用前景。
碳化硅纳米颗粒及其制备方法应用

[发明专利]一种新型起落架钛合金轴再制造修理方法-CN201810939417.2在审
发明人：王小刚;程庆元;马良冬;宋战魁;周加文 -专利权人：国营芜湖机械厂
申请日： 2018-08-17 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： C23C4/126 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型起落架钛合金轴再制造修理方法，包括以下步骤：一：退镀，用化学方法去除轴上的表面铬层；二：磨修，磨削去除轴的表面缺陷，磨削量以去除表面划伤、裂纹等缺陷为原则，单边磨削量不超过0.2mm；三：喷前处理，确保轴内部无应力、无损伤、表面洁净；四：喷砂，采用180目白刚玉对轴的待喷涂表面喷砂毛化；五：喷涂，采用爆炸喷涂在轴上得到要求厚度的涂层；六：磨削，磨削轴的喷涂表面恢复其原有尺寸精度；七：检测，检查修复后轴上有无缺陷；八：涂耐磨层，在轴的未喷涂作用面上涂抹BAП‑2固体膜润滑剂。本发明能够解决钛合金轴尺寸恢复及镀铬次数超限的问题；复后的涂层表面状态良好，结合强度高。
钛合金磨削去除起落架喷涂表面磨削量再制造喷砂修理固体膜润滑剂爆炸喷涂表面划伤表面洁净表面缺陷尺寸恢复喷涂作用涂层表面白刚玉耐磨层前处理无损伤超限镀铬铬层后轴毛化喷涂退镀涂抹修复检测恢复检查

[发明专利]铁合金炉渣综合处理方法-CN201710916742.2在审
发明人：徐春明;杨哲;左成义;陈立想;刘凡录;周加文;梁晓杰;韩西安 -专利权人：日照钢铁控股集团有限公司
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2018-03-02 - 主分类号： C21B3/04 文献下载
摘要：本发明提供一种铁合金炉渣综合处理方法，包括将铁合金炉渣与高炉水淬渣进行混合并输送至中间仓；将中间仓内的混合炉渣输送至立式辊磨；立式辊磨对混合炉渣进行粉磨，混合炉渣粉磨后形成粉末，同时利用热风炉对立式辊磨中的混合炉渣以及粉末进行烘干；将烘干后的粉末输送至选粉机；选粉机对烘干后的粉末进行筛选，其中，筛选合格的粉末通过收尘器进行收集，筛选不合格的粉末再次进入立式辊磨进行粉磨。利用本发明，能够解决铁合金炉渣利用低的问题。
铁合金炉渣综合处理方法

[实用新型]一种双工位WDM测试系统-CN201620243448.0有效
发明人：张齐凌;喻琴;周加文;朱付金 -专利权人：武汉奥新科技有限公司
申请日： 2016-03-28 - 公布日： 2016-08-17 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种双工位WDM的测试系统，包括第一测试子系统和第二测试子系统，所述第一测试子系统包括并联的第一装配监控模块和第一全波扫描模块，所述第二测试子系统包括并联的第二装配监控模块和第二全波扫描模块；所述第一全波扫描模块和第二全波扫描模块都包括ASE光源和光谱分析仪，所述第一装配监控模块包括依次串联的第一点光源、第三光开关、第四光开关和第一光功率计，所述第二装配监控模块包括第二点光源、第五光开关、第六光开关和第二光功率计，所述ASE电源连接第三开关、光谱分析仪连接第四光开关组成了所述第一全波扫描模块，所述ASE电源连接第五光开关、光谱分析仪连接第六光开关组成了所述第二全波扫描模块。
一种双工 wdm 测试系统