专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]GAA构型的GaN基垂直结构HEMT器件及制备方法-CN202310593754.1在审
  • 吕佩文;陈晨龙 - 闽都创新实验室
  • 2023-05-24 - 2023-09-12 - H01L29/06
  • 本发明涉及一种GAA构型的GaN基垂直结构HEMT器件及制备方法,该器件包括带有GaN微米柱的GaN衬底;GaN微米柱的侧面覆盖有GaN沟道层,GaN沟道层的侧面覆盖有AlGaN势垒层;漏金属电极覆盖部分GaN衬底,形成漏极,漏极与GaN沟道层、AlGaN势垒层接触;沉积源覆盖GaN微米柱、GaN沟道层和AlGaN势垒层的上表面,形成源级;介质层覆盖在漏极上方,包裹AlGaN势垒层、源级的侧面,形成环形介质层,介质层与源级形成欧姆接触;栅极包裹介质层,形成环形栅极。本发明充分利用了垂直结构高耐压与二维电子气高速大电流传输能力:二维电子气通过所述源/漏极垂直传输;GAA构型显著降低开关电压,提升开关速度,降低泄露电流;源极、漏极和栅极处于三个不同平面,有利于进一步提升器件工作电压。
  • gaa构型gan垂直结构hemt器件制备方法
  • [发明专利]一种低压等离子体源-CN202310593769.8在审
  • 吕佩文 - 闽都创新实验室
  • 2023-05-24 - 2023-08-04 - H05H1/46
  • 本发明涉及一种低压等离子体源,包括圆柱形的放电腔室,放电腔室的两端的圆心处设置有开口,放电腔室的一侧开口为引入口,另一侧开口为引出口;在引入口外侧设置有电感耦合线圈,电感耦合线圈与引入口处于同一平面,电感耦合线圈与引入口共圆心;放电腔室的外侧沿圆周方向均匀地间隔设置若干条形磁体,条形磁体的磁极朝向放电腔室的径向方向,任意相邻条形磁体的极性相反,相邻的条形磁体放置在轴向的不同位置相对错开,次近邻条形磁体放置在轴向上的相同位置,形成梳型多级场;引出口处设置有栅极本发明在引入口处设置电感耦合线圈,电感耦合线圈在线圈中央部分所激发的电磁场较强,在低压下产生的电子也足够发生碰撞,形成稳定放电。
  • 一种低压等离子体
  • [发明专利]一种法拉第效应测试系统-CN200910112647.2无效
  • 吕佩文;颜峰坡;黄丰;林璋 - 中国科学院福建物质结构研究所
  • 2009-10-15 - 2011-05-04 - G01N21/21
  • 一种法拉第效应测试系统,涉及系统的组成、特点以及应用方法。包括激光光源1,斩波器2,起偏器3,电磁场4,直流电源5,样品架6,检偏器7,光电倍增管8,信号接收分析仪器9,使用斩波器将光源变成脉冲光,增强信噪比,样品台空间高达100mm*100mm*100mm。光源部分可扩展,从330-2300纳米,法拉第转子部分提供了高达1.7T的磁场,法拉第偏转角的精度可达到0.00125°。本发明结构简单,具有使用方便、响应灵敏度高等优点。可以实现对包括块体、薄膜、单晶、多晶等样品的法拉第效应的测试。
  • 一种法拉第效应测试系统

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