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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光学调整装置、光学调整方法以及光器件-CN202210500829.2在审
发明人： 古田宽和;镰谷淳一;白石龙朗 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2022-05-09 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本公开提供一种光学调整装置、光学调整方法以及光器件。光学调整装置具备：测定光照射部，具有多个第2光纤，经由多个第2光纤将具有单一波长的多个光在相互不同的定时射出；光纤块，对第1光纤以及多个第2光纤的射出侧端部进行保持；光检测部，经由多个第2光纤对多个反射光进行受光并进行检测；倾斜度计算部，对多个反射光中的每个反射光的强度的时间变化相互进行比较，计算光纤块相对于光学基板的倾斜度；和距离计算部，基于至少1个强度的时间变化来计算光学基板与光纤块的端面间距离。
光学调整装置方法以及器件

[发明专利]光学测定装置、安装基板的组装装置以及组装方法-CN202210386706.0在审
发明人：白石龙朗;古田宽和;镰谷淳一 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2022-04-12 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本公开提供一种光学测定装置、安装基板的组装装置以及组装方法。光学测定装置具备：激光光源，射出具有第1波长的第1光；拍摄部，射出具有与第1波长不同的第2波长的第2光；分离部，接受第1光以及第2光，使第1光以及第2光朝向被测定物，并且接受来自被测定物的反射光，将反射光分离为基于第1光的第1反射光和基于第2光的第2反射光；受光元件，对由分离部分离出的第1反射光进行受光；和计算部，基于受光元件的受光结果，计算被测定物的俯仰角以及偏航角，所述拍摄部通过对由所述分离部分离出的所述第2反射光进行受光来拍摄所述被测定物，所述计算部基于所述拍摄部的拍摄结果来计算所述被测定物的滚转角。
光学测定装置安装组装以及方法

[发明专利]回卷装置、回卷方法、检查装置以及构造物制造方法-CN201380016049.X有效
发明人：壁谷泰宏;古田宽和;原伸夫;青木祥平;滨野诚司 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2013-01-24 - 公布日： 2014-12-03 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种回卷装置，该回卷装置具备：分割部(303)，其将来自光源单元的放射光分割为照射在第一片与第二片的侧面部(204e)上的测定光和照射在参照面(311)上的参照光；干涉检测部(314)，其检测由所述参照面反射的所述参照光与由所述侧面部反射的所述测定光干涉而成的干涉光；位置检测部(314)，其根据由所述检测部检测到的所述干涉光而检测所述第一片与所述第二片的位置；判定部(100c)，其根据由所述位置检测部检测到的所述位置来判定所述回卷体的优劣。
装置方法检查以及构造制造

[发明专利]放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置-CN201210031490.2无效
发明人：壁谷泰宏;古田宽和;八木晴久 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2012-02-13 - 公布日： 2012-10-31 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明提供一种放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置，目的在于能够在不将被检物加热至高温的情况下测定被检物的放射率。本发明提供的放射率测定方法包括：红外光照射步骤，对被检物照射第一放射能的红外光；测定步骤，根据来自照射了所述红外光的所述被检物的反射红外光测定第二放射能；以及计算步骤，基于所述第一放射能与所述第二放射能计算所述被检物的放射率。
放射测定方法装置检查

[发明专利]光干涉测量方法及光干涉测量装置-CN201110035134.3有效
发明人：壁谷泰宏;古田宽和;滨野诚司;菅田文雄 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2011-01-25 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明公开一种光干涉测量方法及光干涉测量装置。本发明所涉及的光干涉测量方法，是将从光源单元出射的光分割成测定光和基准光，检测所述基准光、与从所述测定光所照射的测定对象反射或背散射后的光发生干涉而得到的干涉光，驱动设置在所述基准光的光路上的光路长度可变机构，以改变所述基准光的光路长度，基于随所述基准光的光路长度的变化而变化的所述干涉光，判定基于所述检测出的干涉光的图像是正规像还是翻转像，基于是正规像还是翻转像的判定结果，利用所述检测出的干涉光来测量所述测定对象。
干涉测量方法测量装置

[发明专利]角度测定装置及方法-CN200680019255.6无效
发明人：浦岛毅吏;高田和政;古田宽和;宇津吕英俊 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-09-20 - 公布日： 2008-05-28 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明提供一种角度测定装置及测定方法，其以透过型衍射光栅将从准直透镜射出的光衍射为不同次数的光，并将衍射后的光向被测定物的平坦面照射，在由被测定物的平坦面反射后，使再次透过透过型衍射光栅的光在偏离出射光的光轴的位置处成像，基于该成像位置与成像的光的次数，测定被测定物相对于准直透镜的光轴的角度，由此能够具有高分辨率地测定大范围的角度。
角度测定装置方法

[发明专利]光学部件的检查方法以及检查装置-CN200610005790.8无效
发明人：高田和政;宇津吕英俊;古田宽和;浦岛毅吏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-01-06 - 公布日： 2006-07-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：提供一种能够高精度地评价光学部件的性能的检查方法。检查方法中，根据透射光学部件(18)的光(16)，形成具有不同相位的第1和第2光(24)、(26)，使第1和第2光产生干涉形成干涉区域(30)。在干涉区域(30)，设定直线(66)、直线(70)、直线(72)，求出各直线(72)上的光强度的分布。而且，求出与最大的光强度对应的频率。进而，根据针对直线(72)各自所求出的多个频率，求出近似直线或者近似曲线。并且，基于近似的直线或者曲线的系数评价光学部件的像差。
光学部件检查方法以及装置

[发明专利]传输和检测光的装置及方法-CN01817290.3无效
发明人：伊藤正弥;桑原雅弘;古田宽和 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2001-10-11 - 公布日： 2004-03-24 - 主分类号： G02B6/293 文献下载
摘要：定位于定位块上的滤光器反射波长为λ1的光而透射另一波长λ2的光。第一和第二光导以彼此对准的关系定位在所述定位块上，使它们的成角度端面彼此相对。向这些光导的成角度端面加给粘合剂，以固定滤光器。将波长为λ2的光引入各光导，以调节各光导的位置，使从光导发出预定量的光。借助粘合剂将光接收器定位在所述定位块上，则光被引入光导，以调节光接收器的相对位置，从而使光接收器接收预定量的光。特别是所述粘合剂的折射率与这些光导的相同。
传输检测装置方法

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