专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种园林绿化用植物养护装置-CN202211592170.4在审
  • 徐艳;纪飞琳;余良彬 - 兴物城建集团有限公司
  • 2022-12-13 - 2023-04-04 - B08B3/02
  • 本发明涉及园林种植附属装置技术领域,尤其涉及一种园林绿化用植物养护装置。本发明提供一种能够对植物上顽固的灰尘进行清理,且不伤害植物的园林绿化用植物养护装置。一种园林绿化用植物养护装置,还包括有洒水机构和除尘机构,圆形罩上设有用于对植物进行除尘,且不伤害植物本身的洒水机构,圆形罩上部设有用于对植物上部进行除尘的除尘机构。本发明通过喷头将清水喷到植物上,能够使得植物上顽固的灰尘融于水中流走,且不伤害植物本身,如此能够提高植物的生长率。
  • 一种园林化用植物养护装置
  • [发明专利]三维形貌测量装置-CN202011042935.8有效
  • 余良彬;王湧锋;陈俊玓 - 鉴微科技股份有限公司
  • 2020-09-28 - 2022-08-09 - G01B11/24
  • 一种三维形貌测量装置,包含:一投射装置、一取像装置、以及一影像处理装置。投射装置投射多个结构光于一场景上,每一个结构光的投射时间彼此错开,结构光依序在一第一投射期间及一第二投射期间投射,结构光分别具有一频率及一平均位准,其中,第一投射期间的结构光的平均位准和第二投射期间的结构光的平均位准相同,第一投射期间的结构光的频率和第二投射期间的结构光的频率不同;取像装置在每一个结构光的投射时间内撷取场景而获得一影像;以及影像处理装置根据影像获得场景内的待测物的三维形貌。
  • 三维形貌测量装置
  • [发明专利]一种数据库信息查询方法、装置、设备及可读存储介质-CN202111396186.3在审
  • 余良彬;高保庆;王刚;崔伟 - 天翼数字生活科技有限公司
  • 2021-11-23 - 2022-03-01 - G06F16/22
  • 本申请公开一种数据库信息查询方法、装置、设备及可读存储介质,本申请通过执行将各主机数据库业务数据备份进从机数据库的初始化操作,将多个主机数据库的订单表数据实时同步到从机数据库的汇聚订单表中,将从机数据库的业务数据基于汇聚订单表中更新的编辑操作同步更新,获取用户输入的查询信息,查询从机数据库的业务数据,得到查询结果,输出所述查询结果。本方案将多个主机数据库的订单表汇总到从机数据库中,在查询用户输入的查询信息时,相比于现有技术,不用把查询信息分发到多个主机数据库中进行并发查询,再进行对应的合计、分组、排序等操作以完成跨主机查询的业务需求,只需要在从机数据库中进行查询操作,提高了数据的查询效率。
  • 一种数据库信息查询方法装置设备可读存储介质
  • [实用新型]一种透射光栅实验装置-CN201920989912.4有效
  • 王凤鹏;李成兰;刘道莲;余良彬;曾明生 - 赣南师范大学
  • 2019-06-28 - 2020-04-10 - G09B23/22
  • 本实用新型公开一种透射光栅实验装置,包括光具座以及依次可滑动地设置于光具座上的汞灯、狭缝、凸透镜、光栅和数码相机,数码相机具有镜头和图像传感器,进行实验时,将数码相机设置为手动对焦模式,将镜头的对焦环置于∞位置,此时图像传感器位于镜头的焦平面上,移动凸透镜,狭缝的缝孔位于凸透镜的焦平面上,此时数码相机上观察到的亮线最清晰,透过凸透镜的光束为平行光束,经光栅衍射后,相同衍射角的光线会聚到图像传感器平面上形成光谱线,利用数码相机能够直接观察并记录到完整的彩色光谱图,根据完整的光谱图测量谱线的衍射角,没有机械移动,减小测量误差,不需要每套实验设备配备一台电脑,降低对实验室场地要求。
  • 一种透射光栅实验装置
  • [发明专利]光学测量系统以及光学成像系统-CN201610020871.9有效
  • 王湧锋;余良彬 - 德律科技股份有限公司
  • 2016-01-13 - 2019-10-15 - G01N21/17
  • 本发明揭露一种光学测量系统以及光学成像系统。光学测量系统包含透镜模块、光源模块以及感光元件。透镜模块包含第一透镜组件以及第二透镜组件。第一透镜组件设置于第二透镜组件与物侧之间,且第一透镜组件与第二透镜组件共同具有光轴。光源模块设置于第一透镜组件与第二透镜组件之间,其中光源模块具有开口,光轴穿过开口,光源模块用以经第一透镜组件朝向物侧发出光线。感光元件位于透镜模块相对物侧的一侧,其中感光元件用以接收来自物侧经透镜模块与光源模块的开口的物体光线。在此光学测量系统中,光源模块可以在不影响物体光线的情况下尽量靠近的光轴,以提供接近光轴的光线。
  • 光学测量系统以及成像
  • [发明专利]光学系统-CN201510039598.X有效
  • 余良彬;蔡知典;王湧锋 - 德律科技股份有限公司
  • 2015-01-27 - 2019-01-25 - G02B27/18
  • 本发明公开了一种光学系统,包含至少一个光学装置,用于投影第一投影影像至平面或从平面侦测第一侦测影像。光学装置包含第一影像装置与透镜组。第一影像装置具有影像面。影像面具有影像中心。透镜组置于第一影像装置与平面之间,且具有透镜轴面与光学中心。光学中心与影像中心形成连线。连线与平面相交于一个交点。平面具有通过交点的切面。透镜轴面、切面与影像面的延伸面实质相交于直线。因此根据本发明的光学系统,能够提供清楚的投影影像至平面,或在平面上侦测清楚的影像。
  • 光学系统
  • [发明专利]板弯量测装置和其板弯量测方法-CN201510027433.0有效
  • 余良彬;潘映霖;林际扬 - 德律科技股份有限公司
  • 2015-01-20 - 2018-08-31 - G01B11/16
  • 本发明公开了一种板弯量测装置和其板弯量测方法,板弯量测方法用于量测待测物体,待测物体置于测量载具上。板弯量测方法包含:将图像投射在待测物体上,其中图像包含多个参考点;通过取像模块撷取图像投射于待测物体时的量测影像,其中量测影像包含多个量测点分别对应参考点;将量测点中的每一量测点在该量测影像的位置通过对应参考点中的每一参考点的转换函数计算以得到该待测物体在对应量测点的位置的高度;及根据测物体在对应量测点的位置的高度补偿待测物体的板弯情况。依此,可得到待测物体对应的量测点的高度,快速地进行光学焦段补偿,且可由数码投影方式变换参考点图样,借此根据局部参考点位置得知局部板弯,作相对应的高度补偿。
  • 板弯量测装置方法
  • [发明专利]光学检测系统-CN201510037307.3有效
  • 余良彬;温光溥;王湧锋 - 德律科技股份有限公司
  • 2015-01-26 - 2018-03-20 - G01B11/25
  • 本发明公开了一种光学检测系统,包含第一光学模块及第二光学模块。第一光学模块包含第一光源及第一影像撷取单元。第一光源具有第一光轴,第一影像撷取单元具有第一影像撷取轴。第一光轴与第一影像撷取轴相对于检测平面的法线呈对称。第一光轴与第一影像撷取轴的间形成第一角度。第二光学模块包含第二光源及第二影像撷取单元。第二光源具有第二光轴,第二影像撷取单元具有第二影像撷取轴。第二光轴与第二影像撷取轴相对于法线呈对称。第二光轴与第二影像撷取轴的间形成第二角度,且第二角度不同于第一角度。因此根据本发明的光学检测系统,即使待测物在检测平面上具有镜面,每一光源所发射的大部分光仍可被反射至对应的影像撷取单元。
  • 光学检测系统
  • [发明专利]三维测量系统-CN201210229984.1有效
  • 余良彬;林栋;蔡知典 - 德律科技股份有限公司
  • 2012-07-04 - 2014-01-22 - G01B11/25
  • 本发明揭露一种三维测量系统,包含测量平台、投影模块、取像模块以及控制单元。测量平台用以承载一待测物体。投影模块包含发光单元、遮光转盘、光栅单元以及光反射环型结构。发光单元大致位于该测量平台的一垂直轴线上并用以产生一光线。遮光转盘设置于该发光单元与该待测物体之间,该遮光转盘上开设有一孔洞,随着该遮光转盘转动,借此通过孔洞的光线依时序形成多个区段光线。光栅单元用以将通过该孔洞各区段光线转换为多个条纹光线。光反射环型结构用以将该些条纹光线分别反射至该待测物体上。
  • 三维测量系统
  • [发明专利]测量立体物件的系统-CN201010133197.8有效
  • 温光溥;林栋;余良彬 - 德律科技股份有限公司
  • 2010-03-26 - 2011-09-28 - G01B11/25
  • 测量立体物件的系统。该系统包括基座、平面扫描装置设于基座上、第一、第二光源发射装置、影像撷取装置及控制装置,第一、第二光源发射装置及影像撷取装置连结于平面扫描装置上,控制装置控制平面扫描装置进行平面运动,第一与第二光源发射装置分别交错轮替地投射光源至物件上,控制影像撷取装置撷取物件的影像;第一光源发射装置包括第一发光件及第一镜头,第一发光件投射第一光源至物件上;第二光源发射装置包括第二发光件及第二镜头,第二发光件投射第二光源至物件上;当第一或第二光源投射至物件用以撷取物件的多个影像,影像撷取装置位于第一与第二光源发射装置之间,包括感应芯片模块及远心镜头。本发明可避免动态加减速变化。
  • 测量立体物件系统

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