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[发明专利]X射线衍射测量中的测量结果的显示方法-CN201810996814.3有效
发明人： 佐佐木明登;姬田章宏;池田由纪子;长尾圭悟 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线在各2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据在各2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
射线衍射测量中的结果显示方法

[发明专利]石墨烯前体的判别方法、判别装置以及判别程序-CN201980031804.9在审
发明人： 佐佐木明登;室山知宏 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2019-02-26 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：提供能够利用针对石墨原料的粉末X射线衍射图案而可靠地通过波峰轮廓拟合进行波峰分离的石墨烯前体的判别方法、判别装置以及判别程序。作为针对六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层混合的石墨原料的石墨烯前体的判别方法，包括：针对石墨原料的粉末X射线衍射数据，确定衍射角的零点的步骤；在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面间隔以及所述石墨烯片材内的晶体结构在混合为所述石墨原料的任意的石墨层中均相同的假定下，根据所确定的所述零点，计算六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层所特有的波峰位置的步骤；对计算出的所述波峰位置处的积分强度进行计算的步骤；和基于计算出的所述积分强度，判别所述石墨原料是否是石墨烯前体的步骤。
石墨烯前体判别方法装置以及程序

[发明专利]X射线分析的操作引导系统和操作引导方法-CN201610637846.5在审
发明人： 佐佐木明登 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2016-08-05 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明提供能够使用户容易地决定作为分析对象的试料的测定条件的X射线分析操作引导系统和操作引导方法。X射线分析操作引导系统包括：试料信息取得单元，其取得在X射线测定部进行规定分析目的测定的试料的试料信息；测定条件取得单元，其取得相互不同的多个测定条件；虚拟结果取得单元，其通过对所述试料信息进行分别基于所述多个测定条件的模拟，取得所述规定分析目的测定所产生的多个虚拟测定结果；以及比较结果输出单元，其将所述多个虚拟测定结果中的两个以上的虚拟测定结果和分别与该两个以上的虚拟测定结果对应的两个以上的所述测定条件作为比较结果输出。
射线分析操作引导系统方法

[发明专利]X射线分析装置-CN200710142498.5有效
发明人： 佐佐木明登;栗林文;森川惠一;西邦夫;大原孝夫;加藤寿之;辻优司 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2007-08-27 - 公布日： 2008-03-05 - 主分类号： H05G1/58 文献下载
摘要：提供一种X射线分析装置，通过将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联且用绘图将应当交换的光学部件的信息显示在画面上，而使测量准备作业变得容易。按照与X射线分析装置的测量准备作业关联的方式，在选择画面中，从多个测量种类中选择操作员所希望的测量种类，即可根据其测量种类，将应安装的光学部件及应卸下的光学部件的信息利用绘图显示在显示装置的画面上。操作员观察该作业指示，执行从X射线分析装置的光学系统卸下光学部件或者安装光学部件的作业。在利用绘图进行显示的情形中含有：图示应交换的光学部件(16、18)在光学系统上的位置；利用绘图记号(69)显示安装作业和卸下作业的区别；和显示光学部件的识别标记(70、72)。
射线分析装置