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[发明专利]数据处理装置、求取各像素的特性的方法以及数据处理的方法及程序-CN201580045810.1有效
发明人：作村拓人;中江保一;辻优司;梶芳功系兆;田口武庆;松下一之 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2015-07-10 - 公布日： 2020-01-21 - 主分类号： G01T1/17 文献下载
摘要：本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。
数据处理装置求取像素特性方法以及程序

[发明专利]X射线分析装置-CN200710142498.5有效
发明人：佐佐木明登;栗林文;森川惠一;西邦夫;大原孝夫;加藤寿之;辻优司 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2007-08-27 - 公布日： 2008-03-05 - 主分类号： H05G1/58 文献下载
摘要：提供一种X射线分析装置，通过将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联且用绘图将应当交换的光学部件的信息显示在画面上，而使测量准备作业变得容易。按照与X射线分析装置的测量准备作业关联的方式，在选择画面中，从多个测量种类中选择操作员所希望的测量种类，即可根据其测量种类，将应安装的光学部件及应卸下的光学部件的信息利用绘图显示在显示装置的画面上。操作员观察该作业指示，执行从X射线分析装置的光学系统卸下光学部件或者安装光学部件的作业。在利用绘图进行显示的情形中含有：图示应交换的光学部件(16、18)在光学系统上的位置；利用绘图记号(69)显示安装作业和卸下作业的区别；和显示光学部件的识别标记(70、72)。
射线分析装置