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[发明专利]半导体元件测试连接机构-CN201510017306.2有效
发明人：吴国荣 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2015-01-14 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明是有关于一种半导体元件测试连接机构，用于连接一测试头及一针测机，包括有一支撑部、一主体部及一套环部。支撑部固设于测试头，包括有一连结板及多个滑柱，每一滑柱是分别固设于连结板。主体部包括一具有多个滑槽的结构主体、多个缓冲件及多个卡扣件，每一缓冲件是连接连结板及结构主体。卡扣件是配合固设于针测机上的套环部，其具有可分别与每一卡扣件卡接的多个卡扣槽，以及可分别滑设每一导引柱的多个斜向槽。由此，增进使用者安装、维修及取放探针卡的便利性，同时可使结构主体水平搭接针测机，提高连接定位的精准度。
半导体元件测试连接机构

[发明专利]半导体元件靠边定位机构及其测试装置-CN201410322731.8有效
发明人：陈峰杰;詹勋亮;林文婷;陈盈宏 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2014-07-08 - 公布日： 2018-08-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明是有关于一种半导体元件靠边定位机构及其测试装置，该测试装置整合了半导体元件靠边定位机构、进出料模块以及取放单元。而半导体元件靠边定位机构包括有一基座、一吸附载座以及一校正片。基座包括一底座及二垫块，底座上设置有一滑轨及一动力源。吸附载座连接至少一连接管，滑设于滑轨上。校正片具有至少一开槽，固设于二垫块。其中，吸附载座是能通过动力源在滑轨上滑移至一特定处时，将一置放于陶瓷吸座上的半导体元件定位至开槽的一对角处。由此，在不更换任何治具的情况下，所述半导体元件将被准确的定位，有助于用户重复进行取放作业，增进半导体元件检测的效能。
半导体元件定位机构靠边测试装置滑轨吸附载座动力源校正片垫块开槽底座半导体元件检测取放单元用户重复进出料固设滑设角处取放上滑吸座整合置放治具接管陶瓷

[实用新型]半导体元件影像测试装置-CN201820069202.5有效
发明人：蔡秉谚;宋柏宽 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2018-08-28 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型是有关于一种半导体元件影像测试装置，包括有一测试头、一针测机以及至少一影像撷取卡，所述测试头包括有一测试载板及多个插设于测试载板的测试卡，所述针测机包括有一测试接口板、一与该测试接口板电连接的探针卡以及多个探针。其中，至少一影像撷取卡插设于至少一转接板上，至少一转接板包括一第一端部及一第二端部，第一端部电连接测试载板，第二端部电连接测试接口板，有效改善影像撷取卡的换装方式，提升信号传输时的测试带宽，同时具备灵活的系统配置，可配合产品不同的待测数量进行调整，取得最佳的测试效率。
影像撷取卡影像测试装置半导体元件测试接口板电连接测试测试载板第二端部第一端部测试头转接板插设本实用新型测试带宽测试效率提升信号系统配置测试卡电连接接口板灵活的探针卡针测机换装探针载板传输配合

[发明专利]影像传感器测试装置-CN201510287202.3有效
发明人：茆淑容;黄金德 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2015-05-29 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明有关于一种影像传感器测试装置，包括：一测试头、一探针座、一透光片及一基座。测试头具有一测试载板；探针座固设于测试载板上，具有：一具有多个贯孔的座体、一绝缘上盖、一绝缘下盖及多个探针；绝缘上盖及绝缘下盖分别固设于座体的上、下表面，多个探针分别对应容设于多个贯孔内，座体呈圆环形，包括有一内环区域及一外环区域，内环区域形成一中空通口并固设有一承载部，多个探针位于外环区域内。透光片套设于承载部上；基座具有一与多个探针电连接的探针卡。其中，座体的外环区域具有至少一横向通道用以连通外界的一压缩干空气至中空通口的常温区，压缩干空气进入至外环区域的上、下二端，用以干燥测试头的测试载板及基座的探针卡。
外环区域探针座体测试载板影像传感器测试装置绝缘上盖绝缘下盖测试头干空气探针卡探针座透光片固设贯孔内环通口承载干燥测试横向通道区域形成压缩常温区电连接下表面圆环形中空容设连通

[发明专利]磁力线圈测试机及其测试设备-CN201410335828.2有效
发明人：刘光祥;林威成;许廷宇 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2014-07-15 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种磁力线圈测试机及其测试设备，磁力线圈测试机包括有一承载架、一传输模块、一调整台及一磁力线圈测试模块；传输模块设置于承载架上，具有一可水平横向移动的测试载台；调整台具有一上板、一下板、多个螺帽、螺杆及锁固件，下板可选择式水平纵向调整相对位置地固设于承载架上，上板可选择式上下及旋转角度调整相对位置地固设该下板上；磁力线圈测试模块固设于调整台的上板上，并穿设于传输模块上。由此，可调整其磁力线圈测试模块的三轴磁力线圈及其旋转角度，确保其测试载台能置于磁力线圈的磁场最均匀处。
磁力线圈测试及其设备

[发明专利]具防止扁平电缆弯折的动态测试机及其测试设备-CN201510015026.8有效
发明人：陈俊光;梁兴岳;吴国荣 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2015-01-13 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：一种具防止扁平电缆弯折的动态测试机及其测试设备，动态测试机包括有一动态测试模块、一马达及一卷线模块。动态测试模块具有至少一扁平电缆；马达具有一中空轴，中空轴的二端分别固设有一压条，用以固定该至少一扁平电缆；卷线模块具有至少一理线槽，用以容设该至少一扁平电缆；其中，动态测试模块、马达及卷线模块系依序排列设置，并且三者一起转动。由此，本发明可防止多条扁平电缆相互缠绕，以提升扁平电缆寿命及测试讯号的精确度。
防止扁平电缆动态测试及其设备

[发明专利]具有非接触转换电源的测试系统-CN201410257627.5有效
发明人：刘光祥;沈暐轩 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2014-06-11 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明是有关于一种具有非接触转换电源的测试系统，特别是有关一种具有非接触转换电源的动态测试系统。此具有非接触转换电源的测试系统包含动态测试模块、非接触电力转换模块、以及电源。借由以非接触电力转换模块取代电源线做为动态测试模块与电源之间的电源传递，而解决动态测试模块进行动态测试时所产生的电源线纠缠与摩擦等问题。
具有接触转换电源测试系统

[发明专利]探针卡印刷电路板及其测试系统与测试方法-CN201410041108.5有效
发明人：刘大纲;林宗毅;胡家玮 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2014-01-27 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明是有关于一种具有温度传感器的探针卡印刷电路板及其测试系统与测试方法，可用以测量承载盘的温度，包括有一探针卡印刷电路板及多个温度传感器。其中，探针卡印刷电路板包括有相连的一第一面及一第二面，第一面固设有一端口，第二面固设有多个容置槽；多个温度传感器分别对应固设于多个容置槽，且每一温度传感器具有一测量接点及一温度信号线，每一测量接点均贴附接触于承载盘上，每一温度信号线电连接至端口。借此，可在密闭环境中同时单次测量承载盘上多个位置的温度，可精准得知承载盘的温度变化，大幅节省测量时间及人力。
探针印刷电路板及其测试系统方法

[发明专利]半导体元件测试分类设备-CN201410326747.6有效
发明人：李欣哲;吴国荣 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2014-07-10 - 公布日： 2017-11-21 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：一种半导体元件测试分类设备，包括采分离式设计的半导体元件分类装置与半导体元件测试装置，可减少半导体测试装置受到半导体元件分类装置运作时所产生低频震动的影响，且为了确保分离式的设计不会造成半导体元件分类装置与半导体元件测试装置之间的对位偏移或错动度，更提供了辅助定位模块及浮动定位单元分别进行辅助定位以及精准定位。
半导体元件测试分类设备

[发明专利]半导体元件测试系统及其影像处理加速方法-CN201410047732.6有效
发明人：张世宝;林富仓 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2014-02-11 - 公布日： 2017-11-10 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明是关于一种半导体元件测试系统及其影像处理加速方法。此系统包含半导体元件测试接口、测试机台、至少两台影像处理电脑及主电脑。半导体元件测试接口可撷取至少一个待测半导体元件的影像信号，测试机台包含影像处理模块，影像处理模块执行交错处理程序，影像处理模块交错传送至少一个待测半导体元件的不同影像信号至各影像处理电脑，使其中一个影像处理电脑正在对影像信号执行影像分析运算时，另一个影像处理电脑则在接收另一个影像信号，主电脑接收上述至少两台影像处理电脑的分析结果，并根据分析结果传送指令至测试机台。利用本发明能有效解决传输接口的问题，加速影像演算的速度，可直接与客户端具相异接口的设备结合，使用上极具弹性。
半导体元件测试系统及其影像处理加速方法

[发明专利]用于晶圆级感测元件的自我测试系统及其方法-CN201210428131.0有效
发明人：邱东梁;叶人荣 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2012-10-31 - 公布日： 2017-11-10 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明是有关于一种用于晶圆级感测元件的自我测试系统及其方法。自我测试系统包含晶圆级感测元件及测试模块。晶圆级感测元件包含固定单元及可动单元，其中固定单元与可动单元之间形成感应电容。测试模块用以电性连接晶圆级感测元件，且测试模块包含测试电路，用以量测感应电容。其中，晶圆级感测元件用以接收输入信号，使感应电容产生电容值变化量，而测试电路则根据电容值变化量，输出测试信号。
用于元件自我测试系统及其方法

[发明专利]转塔式测试装置的快拆式IC测试座-CN201610096117.3在审
发明人：李煜山 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2016-02-22 - 公布日： 2017-08-29 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明相关于一种转塔式测试装置的快拆式IC测试座。该转塔式测试装置的快拆式IC测试座包含基座、待测IC界面板、测试座、转接座以及多条射频信号线。此快拆式IC测试座可以连接更多的射频信号线，并且可以避免射频信号线相互干扰与缠绕，且可以由转塔式测试装置中快速与简单地拆卸与组装，而不会产生射频信号线误接与受损等问题。
塔式测试装置快拆式 ic

[发明专利]探针卡组装结构与其组装方法及取出断针的方法-CN201610082036.8在审
发明人：陈桑雄 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2016-02-05 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明相关于一种探针卡组装结构与其组装方法、以及由该探针卡组装结构取出断针的方法。此探针卡组装结构由透明上导板、下导板、以及多个探针所组成。透明上导板为透明的平板，所以使得作业者可以透过透明上导板而直接观察到探针卡组装结构的内部状况，而有助于植针、组装探针卡组装结构、取出断针、以及更换探针等作业，特别是不需要中介胶卷层即可以组装探针卡组装结构。因此，可以降低植针、组装探针卡组装结构、取出断针、以及更换探针等作业的困难度与风险，从而降低测试成本与增加测试效率。
探针组装结构与其方法取出

[发明专利]电路板散热模块-CN201310325520.5有效
发明人：吴国荣;黄省腾 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2013-07-30 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本发明关于一种电路板散热模块，包括有一主电路板、一第一散热座、一导热片以及一气压泵。第一散热座设置于主电路板的上侧，具有一进气孔、一排气孔以及一与进气孔及排气孔相连通的空气流道。另外，导热片夹设于主电路板及第一散热座之间，而气压泵连结于进气孔。其中，通过导热片将主电路板的积热传导至第一散热座，透过气压泵产生的气流流经空气流道带离第一散热座的积热，能有效降低主电路板所产生的热源。
电路板散热模块

[发明专利]电子元件测试基座的浮动缓冲机构-CN201310424452.8有效
发明人：李欣哲;詹勋亮;颜泽询;罗伟诚;李昱明 -专利权人： 京元电子股份有限公司
申请日： 2013-09-17 - 公布日： 2017-06-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明关于一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，包括盖体、本体、弹性垫、滑移件、测试基座及容置座。盖体具有连结至气压泵的入气孔。本体具有一容置空间及多个定位槽，本体与盖体对应相结合。弹性垫夹设于盖体与本体间并覆盖容置空间，以界定出盖体与弹性垫间的一气密空间。滑移件包括多个定位柱，通过每一定位柱对应每一定位槽容设于容置空间内，滑移件可纵向滑移。测试基座是连结于滑移件的底部，具有至少一测试针组。容置座与测试基座对应结合设置，包括有对应于每一测试针组的一容置槽，其可容置有一待测电子元件。
电子元件测试基座浮动缓冲机构