专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有连接外部真空源的复合座体-CN200810135861.5无效
  • 黄钧鸿;刘尚达 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-07-17 - 2010-01-20 - H01L21/683
  • 本发明是一种具有连接外部真空源的复合座体,主要是于座体上开设有正气压源入口、及真空源入口,并于座体上组设有气压缸、第一电磁阀、及第二电磁阀。其中,气压缸的活塞杆前端固设有吸嘴,当驱动第一电磁阀使其上不同的气压孔分别与正气压源入口连接,可使气压缸带动吸嘴前进或后退;又当驱动第二电磁阀使其上不同的通口分别与真空源入口或正气压源入口连接,可使吸嘴分别与真空源连接而产生负压得以吸取芯片、或与正气压源连接而产生正压得以吹离芯片。
  • 具有连接外部真空复合
  • [发明专利]探针卡校正设备-CN200810135817.4无效
  • 黄钧鸿;刘尚达 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-07-14 - 2010-01-20 - G01B11/02
  • 本发明为一种探针卡校正设备,其中,移动平台可通过基座上的第一导引装置以滑移于显微装置、及高度量测装置二处的下方,探针卡则夹固于移动平台上。本发明可先利用显微装置与比对装置以对移动平台上的探针卡先进行纵向、及横向的校正与调针工作;继而,将移动平台沿着第一导引装置移动至高度量测装置下方,再以高度量测器对探针卡继续进行高度量测,更可以控制器纪录每一探针的高度,如此周而复始,调针人员便可精准、方便、迅速地于同一调针机台完成探针卡校正工作。
  • 探针校正设备
  • [发明专利]变距式IC分类机-CN200810129316.5无效
  • 林源记;谢志宏;林世芳 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-06-26 - 2009-12-30 - B07C5/36
  • 本发明提供一种变距式IC分类机,用以取放多个IC至一承载盘上,包括一本体,配置有一水平移动平台及设置其上的垂直移动机构;一框架,设置于垂直移动机构;以及多个IC吸嘴机构。其中,一横向线性马达配置于框架,包含有横向定子与多个横向动子,各横向动子上设置有IC吸嘴机构。一纵向线性马达配置于框架且垂直于横向线性马达,包含有纵向定子与纵向动子,纵向动子上设置有一横向滑轨,其上配置有对应于横向动子的横向滑块,各横向滑块上设置有IC吸嘴机构。多个纵向滑轨装置,连接于横向动子与横向滑块。藉由操作横向线性马达与纵向线性马达,可使IC吸嘴机构的间距得以变化调整。
  • 变距式ic分类机
  • [发明专利]往复式取放设备-CN200810109482.9无效
  • 谢志宏 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-06-12 - 2009-12-16 - H01L21/677
  • 本发明为一种往复式取放设备,包括有固定架、活动架、承载台、旋转臂、以及动力源。其中,固定架顶板的下表面设置有水平滑轨,其对应耦合于活动架上板的水平滑槽;而活动架直立板的前表面设置有直立滑轨,其对应耦合于承载台基座的直立滑槽。又承载台的凸柄是同时穿经固定架侧板的轨迹导槽、及旋转臂的径向长槽。据此,本发明可由动力源驱动旋转臂,通过其上的径向长槽以带动承载台的凸柄依循轨迹导槽所设定轨迹进行连续往复动作。因此,本发明能顺畅且快速地进行取放动作,且整体机构简单,维护容易又成本大幅降低。
  • 往复式取放设备
  • [发明专利]测试装置及测试方法-CN200810110600.8无效
  • 冯文能 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-06-02 - 2009-12-09 - G01R31/00
  • 本发明是有关于一种测试装置及测试方法。该测试装置,可检测一芯片取放装置,该芯片取放装置可设置于一芯片测试机,该测试装置包含:一控制装置,该控制装置可提供至少一操作信号至该芯片取放装置,该操作信号与该芯片测试机提供至该芯片取放装置的一动作信号相同。本发明同时揭露一种测试方法,该测试方法可检测一芯片取放装置,该芯片取放装置可设置于一芯片测试机,该测试方法包含:提供至少一操作信号至该芯片取放装置,该操作信号与该芯片测试机提供至该芯片取放装置的一动作信号相同。本发明可以检测芯片取放装置,不需要将芯片取放装置组装至芯片测试机,即可进行芯片取放装置的检测,非常适于实用。
  • 测试装置方法
  • [发明专利]混合信号集成电路的平行测试治具-CN200810093279.7有效
  • 倪建青 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-05-19 - 2009-11-25 - G01R31/3167
  • 本发明是有关于一种混合信号集成电路的平行测试治具,其中该测试治具具有一多层印刷电路板,该测试治具包含:一测试区域,置于该多层印刷电路板的中央区域,其包含复数个混合信号集成电路的测试区域;一模拟信号接地层,是与该测试区域中的该复数个混合信号集成电路中的模拟信号耦合;以及一数字信号接地层,是与该测试区域中的该复数个混合信号集成电路中的数字信号耦合。藉此,本发明可以在对复数个混合信号集成电路进行平行测试时,不但可以解决串音所造成的问题,并且可以有效地减少多层印刷电路板的层数。
  • 混合信号集成电路平行测试
  • [发明专利]转档系统及其转档方法-CN200810098106.4有效
  • 郑世杰;刘龙昌 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-05-13 - 2009-11-18 - G01R31/26
  • 本发明有关一种转档系统及其转档方法。该转档方法,包含:自动取得包含一待转档测试模式的转档资料;进行转档,将待转档测试模式格式,转换成一目标测试模式的格式;重新命名转档后的目标测试模式;编译该目标测试模式;储存重新命名后的目标测试模式。该转档系统,包含:一转档伺服器,自动取得一转档资料包含一待转档测试模式、将待转档测试模式转换成一目标测试模示、重新命名目标测试模式、编译目标测试模式、储存重新命名后的目标测试模式;以及至少一测试机,用于测试晶圆。本发明可使转档步骤简化,统一并可全自动化运作,转档后测试模组可重复使用,减少人为疏失,减少人员加班提升工作效率,降低量产准备时间,并且系统的扩充性高,可以减低相关成本。
  • 系统及其方法
  • [发明专利]集成电路连续性测试方法及集成电路接触电阻的测量方法-CN200810096116.4有效
  • 倪建青 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-04-29 - 2009-11-04 - G01R31/28
  • 本发明是有关于一种集成电路连续性测试方法及集成电路接触电阻的测量方法,是提供一种集成电路测试的方法,包含提供一集成电路,其包含一静电放电元件,利用该集成电路的两接脚以测量该静电放电元件的一电流值,得以精准计算出该集成电路的接触电阻。该测试方法包含下列步骤:首先,提供一测试元件,其具有一第二接脚,并将该第二接脚接零参考电位;然后,外加一电压在该测试元件的一第一接脚;最后,在一第二接脚与该第一接脚间测量一静电放电元件的一电流值。藉此,本发明可以对测试元件进行较精准的测量,而可以确保测试元件的品质。
  • 集成电路连续性测试方法接触电阻测量方法
  • [发明专利]可动态变更测试流程的测试方法-CN200810090449.6有效
  • 王宪旌;杨世礼 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-04-14 - 2009-10-21 - G01R31/26
  • 本发明是有关于一种可动态变更测试流程的测试方法,可以对测试条件不同且测试流程不同的产品进行多点测试,用于测试一晶圆,该方法包括以下步骤:决定该晶圆每一坐标的晶粒的测试流程;以一多点测试执行测试;根据多点测试的各接触点的坐标,执行测试流程;以及产生测试结果与分类。本发明在同一晶圆上,可以测试多种测试条件与测试程序都不相同的晶粒、可以同时烧录多种只读记忆体码于同一片晶圆上、可以动态新增一测试步骤于原测试流程中,非常适于实用。
  • 动态变更测试流程方法
  • [发明专利]定位方法-CN200810087578.X无效
  • 黄兆中 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-04-18 - 2009-10-21 - G01R1/073
  • 本发明是有关于一种定位方法,用于定位一待定位元件的一特征中心点至一定位目标,该方法包括以下步骤:一撷取影像步骤;一影像处理步骤,将该画面进行影像处理;一搜寻特征中心点步骤,利用经影像处理后的画面进行画面特征中心点的搜寻;一计算特征中心点与定位目标的差异量步骤;一马达依据差异量进行自动定位步骤;一搜寻特征中心点,再次计算该特征中心点与定位目标的差异量;以及一判断差异量是否落在容许误差范围内步骤,若是则完成定位,若否则再次执行自动定位步骤,直到完成定位。本发明可以使探针中心精确地定位于目标位置,并且可以节省定位时间、降低成本,非常适于实用。
  • 定位方法
  • [发明专利]弹簧式测试夹座及具有弹簧式测试夹座的分类机-CN200810092253.0无效
  • 温进光;朱华正;王佩珍 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-04-17 - 2009-10-21 - G01R1/04
  • 本发明公开了一种弹簧式测试夹座及具有弹簧式测试夹座的分类机。该弹簧式测试夹座用于集成电路元件测试,包含一夹座本体、一盖板、一吸嘴装置、一气密装置、一弹簧以及多个锁合元件。夹座本体中央设置一环状凸缘与第一通孔,盖板盖设于环状凸缘的上方,具有至少一个贯穿的第二通孔对应至第一通孔。吸嘴装置穿设于第一通孔与第二通孔之内,设有一环形的突出部容置于夹座本体与盖板之间。弹簧设置于环形的突出部与夹座本体之间,提供一作用力使吸嘴装置凸出于盖板的另侧,且吸嘴装置凸出于盖板的一端具有一承靠面用以提供被吸取的集成电路元件的稳定支撑。
  • 弹簧测试具有分类机
  • [发明专利]芯片标示装置-CN200810090982.2无效
  • 林源记;林世芳;李明俊;黄雅惠 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-04-08 - 2009-10-14 - H01L21/66
  • 本发明公开一种芯片标示装置,用以标示一硅片的缺陷芯片,其包括有一移动平台,用以置放与移动硅片;以及一显微观测仪,用以观察芯片的缺陷以进行标示;其特征在于此芯片标示装置进一步包含一光学量测模块、显示模块与一暂存模块。暂存模块用以储放硅片的属性数据,显示模块用以显示包含有复数个芯片图标的电子硅片图。经由操作移动平台,使显微观测仪标定特定芯片,光学量测模块即提供其对应的坐标数据,并将其位置信号传输至显示模块,并提供操作者直接在电子硅片图上进行标示作业。
  • 芯片标示装置
  • [发明专利]真空吸笔模块-CN200810083030.8无效
  • 林保仁;林以承 - 京元电子股份有限公司
  • 2008-03-18 - 2009-09-23 - G01R31/28
  • 本发明一种真空吸笔模块,用以取/放集成电路元件。真空吸笔模块主要包含有一吸管装置、一中空结构的本体与一真空装置。吸管装置前端设置一吸头,中空结构一端连接吸管装置,其上设置一作动开关。真空装置连接于本体的另一端,设有一感应装置、计数器与切换开关。计数器具有一预设的操作次数,当作动开关作动时,真空装置的真空管路可导通至吸头,使其可以吸取集成电路元件。通过作动开关的操作可驱动感应装置并记录至计数器,当到达预设的操作次数的时,切换开关即切断真空装置的真空管路,用以提示、进一步强迫更换吸头。
  • 真空模块

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