“于会生”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果15个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]一种断路器装配拆装车-CN202220129925.6有效
发明人：韩喆;苏萍;王浩;丛云飞;张中文;于会生;杨光 -专利权人：韩喆
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： H01H11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及断路器技术领域，特别涉及一种断路器装配拆装车，装配拆装车包括夹板、底板和轮组，夹板包括上下两片，两侧竖直开设螺孔，螺杆的上部从螺孔拧入，两片夹板分别从上下夹持支轴，通过两个锁紧螺母分别从上下旋入螺杆，将夹板相对挤紧；螺杆的下部竖直对应拧入水平底板的螺孔，并通过两个定位螺母分别从上下旋入螺杆，将螺杆与底板固定；轮组通过安装螺母固定在底板的两端。与传统的吊装成竖直后采用升降车清理不同的是，本实用新型装配拆装车配合吊车实现灭弧室与罐体的水平分离，在地面上即可完成清理工作，方便操作人员清理罐体内绝缘件及屏蔽罩等重点部位的粉末和灰尘。
一种断路器装配拆装

[外观设计]燃气灶-CN202130688167.2有效
发明人： 于会生 -专利权人：山东金联商用厨具有限公司
申请日： 2021-10-20 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： 07-02 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：燃气灶。2.本外观设计产品的用途：加热灶具。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.仰视图不常见，省略仰视图。
燃气灶

[实用新型]一种新型可视的商用燃气大锅灶具的观火炉门-CN202122204583.8有效
发明人： 于会生 -专利权人：山东金联商用厨具有限公司
申请日： 2021-09-13 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： F24C15/02 文献下载
摘要：本实用新型属于观火炉门技术领域，涉及一种新型可视的商用燃气大锅灶具的观火炉门，其中，包括壳体，所述壳体的前侧固定连接有安装口，所述安装口表面通过螺纹固定连接有连接环，所述连接环的表面通过销轴活动连接有活动环，所述活动环的内部通过螺栓固定连接有透明窗。其有益效果是，该新型可视的商用燃气大锅灶具的观火炉门，通过设置活动环，借助销轴的作用，能够是活动环与固定环分离或重合，分离时，方便对壳体内部进行清理检修，重合时，能够通过透明窗达到可视目的，实现对火苗大小的观察，便于厨师掌握火候，节约用气量的同时保障食品口味，通过设置把手，且采用高隔热材料制成，方便调节活动环，同时降低烫手情况，安全性高。
一种新型可视商用燃气大锅灶具观火炉门

[外观设计]炉膛-CN202030482611.0有效
发明人： 于会生;宿元凯 -专利权人：山东金联商用厨具有限公司
申请日： 2020-08-21 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： 07-02 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：炉膛。2.本外观设计产品的用途：用于燃气灶。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.右视图与左视图对称，省略右视图。
炉膛

[外观设计]双层炉膛（节能）-CN201830741048.7有效
发明人： 于会生 -专利权人： 于会生
申请日： 2018-12-20 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： 23-03 文献下载
摘要：1.该外观设计的产品名称：双层炉膛（节能）；2.该外观设计产品的主要用途：本外观设计产品是用于燃气炉灶上的炉膛；3.该外观设计要点：产品整体形状、图案及组合；4.该外观设计最能表现设计要点的视图：立体图。
外观设计双层炉膛节能炉膛燃气炉灶整体形状图案表现

[发明专利]一种TEM样品的制备方法-CN201410022539.7有效
发明人：齐瑞娟;于会生 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2014-01-17 - 公布日： 2018-06-26 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供一种TEM样品的制备方法，其先使用能量较小的离子束对MEMS样品最上端悬浮薄膜结构中的目标结构进行小电流L型或U型切割，而后在纳米操作仪的探针粘接下将目标结构从悬浮薄膜结构中切割下来，最后使用原位吸取的方式将其转移到铜支架上进行最后的细抛减薄。这就最大限度地降低了对目标结构的损害，在整个样品制备过程中最大限度地保证样品的完整性；保证目标结构取出来的角度和在悬浮薄膜结构中的角度的一致性，大大提高了目标结构观测结果的准确性；相较于现有的MEMS的TEM样品制备过程中先将悬浮薄膜转移到Si空片上再进行样品的制备，该方法简单易行，节省了样品的制备时间。
目标结构悬浮薄膜制备样品制备过程观测结果纳米操作制备过程离子束铜支架小电流上端减薄探针粘接切割保证损害

[实用新型]一种商厨用燃烧器炉芯-CN201620659334.4有效
发明人： 于会生 -专利权人： 于会生
申请日： 2016-06-29 - 公布日： 2016-11-30 - 主分类号： F23D14/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种商厨用燃烧器炉芯，包括混合吹气管，炉灶外壳体，分火器、预混合气体炉头，炉膛组件，预混合气体炉头的上顶面设置有圆形凸座，圆形凸座上开设有成圆形阵列排布的分流孔，炉灶外壳体的底部设置有套接口，炉灶外壳体通过套接口套于圆形凸座的外侧，分火器上设置有与圆形凸座上开设的分流孔位置相对应的分火孔，分火器扣接于圆形凸座上，位于炉灶外壳体内部还套设有炉膛组件，分火器位于炉膛组件的中心炉膛内。本实用新型能有效减少热能损失，使燃烧反应更平稳、噪音更低，同时解决了大口径炉头普遍存在的燃烧性能差的问题，预混气体低流速流出使燃烧性能更好，燃气热量释放快速、充分，使得尾气中有害气体排放量低，节能环保。
一种商厨用燃烧器炉芯

[发明专利]聚焦离子束分析方法-CN201410192916.1在审
发明人：段淑卿;曹蓉;齐瑞娟;于会生 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2014-05-08 - 公布日： 2015-11-25 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种聚焦离子束分析方法，包括，步骤一：选择待分析样品；步骤二：利用离子束刻蚀所述待分析样品，以获得切割截面；步骤三：利用电子束照射观察是否出现电荷沉积效应，当未出现电荷沉积效应时，获得电子束图像，当出现电荷沉积效应时，在所述切割截面的侧面上形成有机源层之后，重新获得电子束图像；步骤四：判断获得的电子束图像是否显示目标截面，当电子束图像显示非目标截面时，重复步骤二至步骤四，直至获得目标截面；当电子束图像显示为目标截面时，导出获得的电子束图像，并进行失效分析。本发明所述方法可避免电荷沉积效应对失效分析结果的影响。
聚焦离子束分析方法

[发明专利]TEM 样品载网支持膜及其制备方法、TEM 样品分析方法-CN201310705738.3在审
发明人： 于会生;段淑卿;陈柳;赵燕丽;郭志蓉 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2013-12-19 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种TEM样品载网支持膜及其制备方法、TEM样品分析方法。其中，所述TEM样品载网支持膜至少包括：承载组件，所述承载组件中设置有镂空区域，所述镂空区域中包括多个镂空部；碳膜，覆盖于所述镂空区域上；其中，至少一个所述镂空部上覆盖的碳膜中设置有一个样品孔。所述TEM样品载网支持膜的碳膜上设置的样品孔适于在进行TEM分析时，避免TEM样品受到碳膜的影响，同时能很牢固的吸附在碳膜上，并得到碳膜足够的支撑力。
tem 样品支持及其制备方法分析

[实用新型]TEM样品承载装置以及TEM样品放置系统-CN201420147539.5有效
发明人： 于会生;段淑卿;陈柳;苏佳伟 -专利权人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司
申请日： 2014-03-28 - 公布日： 2014-08-27 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本实用新型公开一种TEM样品承载装置以及TEM样品放置系统中，碳膜与金属网格相对应的位置设置有样品孔，待测的样品放置于样品孔中，避免了碳膜对TEM分析造成的影响；另外，所述样品孔周围平行金属网格四边的方向均设置有参考孔，并且在金属网架表面设置一预定方向的水平标记线，如此，可以在光学显微镜下通过推动待测样品的金属网旋转，使样品与金属网架表面的水平标记线平行，对随意放置在金属网上的样品方向调整为水平，从而得到水平的TEM图；并且所述金属网可同时承载多个TEM样品送入TEM进行检测分析，进而提高了TEM分析的准确率及检测的工作效率。
tem 样品承载装置以及放置系统

[发明专利]TEM样品制造方法-CN201010285810.8无效
发明人：段淑卿;芮志贤;李剑;于会生;王玉科 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-09-17 - 公布日： 2012-04-04 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供一种TEM样品制造方法，所述方法包括：通过聚焦离子束切割晶圆得到TEM样品薄片，加热所述TEM样品薄片制成适合观测的TEM样品。本发明通过加热聚焦离子束切割得到的TEM样品薄片，从而将TEM样品薄片两侧的非晶态部分重新结晶为晶态，使得通过透射电镜观测制得的透射电镜样品能够看到有序的、可反映样品材料晶相的图像。
tem 样品制造方法

[发明专利]一种TEM的半导体样品制备方法-CN201010245385.X有效
发明人：芮志贤;李剑;于会生;段淑卿 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-07-26 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01N1/32 文献下载
摘要：本发明提供了一种透射电子显微镜的半导体样品制备方法，该方法包括：在晶片上形成包含目标结构的样品并用FIB将样品切至1微米左右厚度，在样品底部切出一条长度至少完全隔离目标结构和晶片的横向开口；然后在目标结构上方保留保护层FIB去除样品内位于目标结构上方的晶片上层的半导体器件；最后将样品的两面侧壁进行细抛，直到包含目标结构区域的样品厚度满足TEM样品的要求。本发明提出的TEM样品制备方法避免了由于目标结构与样品表面的距离引起的聚焦离子束能量损失和分布不均匀问题，从而造成的TEM样品厚度无法满足TEM要求及TEM样品的扭曲和破坏，并精确计算FIB轰击点，提高了位于wafer底层的半导体器件的TEM样品制备成功率。
一种 tem 半导体样品制备方法

[发明专利]提高透射电子显微镜测试样品研磨效率的方法-CN200910200990.2有效
发明人： 于会生;段淑卿;芮志贤;陆冠兰;王玉科 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-12-23 - 公布日： 2011-06-29 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高透射电子显微镜TEM测试样品研磨效率的方法，用于同时研磨多于两个的样品，所述样品为具有预定厚度的矩形样品，包括样品的正面图案和背面的半导体衬底，该方法包括：对于多于两个的样品，其正面或者背面依次相互粘贴构成整体；对样品整体的两个相对侧面进行研磨，缩短样品两相对侧面间的距离；对样品整体的其中一个侧面进行研磨之后，对另一个侧面进行研磨之前，该方法还包括：在研磨之后的样品整体侧面上的目标位置处粘贴多个铜环，用于体现所研磨的每个样品的图案。采用该方法有效提高了TEM测试样品的研磨效率。
提高透射电子显微镜测试样品研磨效率方法

[发明专利]透射电子显微镜检测样片的制备方法-CN200910045244.0无效
发明人： 于会生;胡建强;赵燕丽;芮志贤;李明 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-01-13 - 公布日： 2010-07-14 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供TEM检测样片的制备方法，以提高TEM检测样片的质量，进而减小TEM检测的误差。该方法包括：提供初始透射电子显微镜检测样片；在该透射电子显微镜检测样片上沉积阻碍层；在阻碍层上沉积电子束辅助层；以及在电子束辅助层上沉积离子束辅助层。
透射电子显微镜检测样片制备方法

[发明专利]预处理TEM样品以及对样品进行TEM测试的方法-CN200710094500.6有效
发明人：张启华;周晶;苏婕;于会生 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-12-13 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种预处理TEM样品的方法，在样品表面形成与样品表面结合紧密、且不与样品表面的物质发生反应的有机物膜层。所述的有机物膜层为聚乙烯醇缩甲醛膜或者M-bond膜。采用本发明所述的方法在样品表面形成有机物膜层，有效解决了现有技术中采用FIB方法对TEM样品进行切割时对样品的损伤，而且，所述有机物膜层的选择范围广，制作方法简单。
预处理 tem 样品以及进行测试方法

1
共 15 条