|
钻瓜专利网为您找到相关结果 59个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]一种光学二维精密调节机构-CN202310057323.3在审
-
杨增辉;王栋;曾爱军;黄惠杰
-
上海镭望光学科技有限公司
-
2023-01-17
-
2023-05-02
-
G02B7/02
- 一种光学二维精密调节机构,包括:基座、第一方向调节组件和第二方向调节组件;第一方向调节组件沿第一方向可往复移动的设置于基座上;第二方向调节组件套设于第一方向调节组件上,并相对于第一方向调节组件且沿垂直于第一方向的第二方向往复移动;第一方向调节组件的操作面和第二方向调节组件的操作面均位于基座的同一个操作面上,以基于基座的同一个操作面对第一方向调节组件和第二方向调节组件进行操作,使得,基于基座的同一个操作面对第二方向调节组件上设置的待调节光学元件进行第一方向和第二方向的平移调节。在狭小的操作空间内通过一个操作方位对光学元件等设备进行二维平移调节,且在二维调整过程中不存在干涉现象,调节时耦合较小。
- 一种光学二维精密调节机构
- [发明专利]一种光开关及光开关阵列-CN202310055419.6在审
-
胡敬佩;黄惠杰
-
上海镭望光学科技有限公司
-
2023-01-16
-
2023-04-18
-
G02B6/35
- 一种光开关及光开关阵列,包括:绝缘层、支撑部、微镜、第一驱动电极、第二驱动电极和第三驱动电极;微镜通过支撑部支撑于绝缘层上方,用于反射光束;第一驱动电极设置于绝缘层上,并位于微镜一侧;第二驱动电极设置于微镜上,第三驱动电极设置于支撑部上;第一驱动电极、第二驱动电极、第三驱动电极配合驱动微镜处于偏转状态;第一驱动电极断电及第二驱动电极和第三驱动电极通电的状态下,第二驱动电极和第三驱动电极之间形成水平制衡的静电力,以使微镜处于水平状态;基于微镜的偏转状态或水平状态控制光开关的开或关。该光开关需限位结构进行限制,不受微结构磨损等影响依然保证其长期的稳定性,不单独采用限位结构会明显降低制作难度与成本。
- 一种开关阵列
- [发明专利]一种反射式偏振分光棱镜及光刻机-CN202211411411.0在审
-
徐磊;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰
-
上海镭望光学科技有限公司
-
2022-11-11
-
2023-02-28
-
G02B5/30
- 一种反射式偏振分光棱镜及光刻机,反射式偏振分光棱镜包括:错位平行设置的第一面和第二面,错位平行设置的第三面和第四面;第一面和第二面为竖直错位平行设置,分别用于透射光束;第三面和第四面倾斜错位平行设置于第一面和第二面之间,第三面朝向所述第一面倾斜,第四面朝向第二面倾斜;第三面的反射面和第四面的反射面中的至少一个反射面为布儒斯特反射,使第一面和第二面之间的光束至少经过一次布儒斯特反射起偏;第三面的反射面和第四面的反射面分别以相同的布儒斯特角反射第一面和第二面之间的光束,使第一面透射光束的传播方向和第二面透射光束的传播方向相同。通过两次布儒斯特角反射,使入射光束的传播方向与出射光束的传播方向相同。
- 一种反射偏振分光棱镜光刻
- [发明专利]一种透光物体缺陷检测方法-CN202211210152.5在审
-
曾爱军;朱玲琳;黄惠杰
-
上海镭望光学科技有限公司
-
2022-09-30
-
2023-01-31
-
G01N21/23
- 一种透光物体缺陷检测方法,包括步骤:判断待测透光物体的形状是否规则,若否,配置匹配液,并将不规则的待测透光物体完全浸没于匹配液中,将不规则的待测透光物体和匹配液配合后的整体作为待测件;将待测件置入双折射测量装置的检测台中;选取N个测量方向分别对待测件进行双折射分布测量,获取N个测量方向所对应视图的双折射分布图;根据各个双折射分布图识别待测透光物体在对应视图下存在的缺陷,及识别所述缺陷的数量、位置和形状。通过配置匹配液,使检测光路经过不规则透光物体时不会发生偏折,以实现任意形状物体的缺陷检测;通过应力双折射异常区域及不透光区域来识别缺陷的数量、位置和形状,即使普通成像难分辨的特殊缺陷也可以识别。
- 一种透光物体缺陷检测方法
- [发明专利]一种多光斑生成装置及光束整形系统-CN202211242656.5在审
-
胡敬佩;曾爱军;黄惠杰
-
上海镭望光学科技有限公司
-
2022-10-11
-
2023-01-31
-
G02B27/09
- 一种多光斑生成装置及光束整形系统,其中,多光斑生成装置包括:光阑和DOE,光阑设置于DOE的入射光一侧,光阑和DOE配置有一一对应的划分区域;DOE的各划分区域的微结构图形基于随机初始相位生成,光阑的各划分区域可调,通过光阑的可调的划分区域与DOE的各划分区域匹配产生各划分区域所对应的独立可控的光斑图形。DOE各划分区域采用随机初始相位设计,突破了传统几何初始相位的限制,并配合视场光阑进行分区独立设计和控制,可实现单片DOE产生多种光斑图形且每种光斑之间独立可控的功能;此外,DOE的各划分区域的微结构图形基于随机初始相位生成,以使DOE的划分区域在被光阑部分遮挡时,DOE的划分区域所产生的光斑图形形貌保持不变而光斑强度随之变化。
- 一种光斑生成装置光束整形系统
- [发明专利]一种光学元件激光损伤测试系统-CN202211248704.1在审
-
刘城名;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰
-
上海镭望光学科技有限公司
-
2022-10-12
-
2023-01-31
-
G01M11/00
- 一种光学元件激光损伤测试系统,包括:脉冲激光器、光束功率调节元件、分光元件、衍射元件、透镜组、第一功率监测模块和控制模块;光束功率调节元件用于对脉冲激光器发射的光束进行光束功率调节;分光元件用于将光束功率调节元件调节后的光束分成两束光束;衍射元件用于对入射光束进行整形,并以均匀光束射入透镜组;透镜组用于调节入射光束的光斑尺寸;控制模块用于控制透镜组中相应透镜元件移动获得所需的光斑尺寸,并根据第一功率监测模块反馈的监测数据控制光束功率调节元件对脉冲激光器发射的光束进行光束功率调节,使光束在所需的光斑尺寸下以一调节的光束功率射入待测光学元件,以测试待测光学元件的激光损伤。能够大范围的调节光束功率。
- 一种光学元件激光损伤测试系统
|