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- [发明专利]在辐射粒子探测器中的闪烁事件位置确定-CN201680001631.2有效
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Y·贝尔克;V·舒尔茨
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皇家飞利浦有限公司
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2016-03-03
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2019-02-05
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G01T1/164
- 一种用于确定辐射粒子探测器中的闪烁事件的位置的方法，所述辐射粒子探测器具有多个闪烁体元件位置并且具有多个光传感器(5.1、5.2、5.3、5.4)，所述多个闪烁体元件位置被配置为响应于辐射粒子在所述闪烁体元件位置处被吸收而发射光子的爆发，所述多个光传感器被光学地耦合到所述闪烁体元件位置，所述方法包括以下步骤：针对所述光传感器(5.1、5.2、5.3、5.4)中的每个，确定触发概率，所述触发概率指示所述光传感器(5.1、5.2、5.3、5.4)测量到超过预定触发阈值的光子的数量的概率；利用所述光传感器(5.1、5.2、5.3、5.4)测量光子分布，所述光子分布指示入射在个体光传感器(5.1、5.2、5.3、5.4)上的光子的数量；针对闪烁体元件位置中的每个，基于所测量的光子分布和所述光传感器(5.1、5.2、5.3、5.4)中的每个的所述触发概率来计算具有预定能量值的闪烁事件发生在所述闪烁体元件位置中的可能性；并且识别具有最大可能性的所述闪烁体元件位置。
- 辐射粒子探测器中的闪烁事件位置确定
- [发明专利]X射线图像摄取装置-CN201611024811.0有效
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杨华;金利波;方志强
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奕瑞影像科技（太仓）有限公司
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2016-11-16
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2019-02-01
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G01T1/164
- 本发明提供一种X射线图像摄取装置，主要是将作为第一闪烁体的闪烁光纤面板与由碘化铯构成的柱状薄膜的第二闪烁体相结合应用于X射线图像摄取装置中，X射线经第二闪烁体入射后，大部分X射线被转化为可见光一，而未被第二闪烁体吸收的X射线进一步进入第一闪烁体，而与第一闪烁体作用转化为可见光二，最后，可见光一和可见光二都经过第一闪烁体的导光通道的全反射作用而进入到传感器阵列表面，如此，即可减少到达传感器阵列表面的X射线，提高了传感器的辐射寿命，并降低X射线产生的随机噪声；并且将比作为第一闪烁体的闪烁光纤面板光产量高的第二闪烁体作为X射线的初始入射面，而且未经该第二闪烁体吸收的部分X射线在该第一闪烁体会被吸收并转化为可见光，进而提高了探测器的光输出和灵敏度。
- 射线图像摄取装置
- [发明专利]用于探测伽玛辐射的系统如伽玛摄像机和方法-CN201380058262.7有效
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A·伊尔蒂斯
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A·伊尔蒂斯
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2013-11-08
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2019-01-01
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G01T1/164
- 本发明涉及用于探测伽玛辐射的系统，如伽玛摄像机，所述系统包括伽玛射线源；至少一块快速闪烁体板P1，所述闪烁体上升到光峰的时间小于1纳秒，所述板包括扩散进入表面和抛光退出表面、具有的厚度不小于10毫米、被提供有光电探测器和专用读取微电子设备，其特征在于微电子设备是ASIC类型，在于探测器被分段，并在于，在所述板P1上，所述探测器的每个分段能够测量第一触发T1，从而时间分辨率小于100皮秒；所述探测器能够在大于100皮秒但不大于到闪烁体的光峰的上升时间的时间上测量所述探测器上的事件发射的第一相邻光子的空间和时间分布。本发明进一步涉及在所述系统中实现的图像重构方法以及所述系统的实现和用途。本发明附加地涉及图像重构方法和用于提高安装在系统中的探测器的能量分辨率的方法以及所述系统的实现。
- 用于探测辐射系统如伽玛摄像机方法
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