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[发明专利]荧光X射线分析装置-CN202180091983.2在审
发明人：斋藤佑多 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-07-29 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：提供荧光X射线分析装置，能够根据分析对象而在更优选的条件下进行分析。荧光X射线分析装置具备：检测器(30)；前置放大器(41A、41B)，其将检测信号以不同的信号放大率(GA、GB)放大来形成阶梯波信号；微分电路(42)，其将阶梯波信号转换为微分波信号；A/D转换器(43)，其将微分波信号转换为数字信号；信号处理部(160)，其根据数字信号检测波高值，对波高值进行辨别并进行计数，从而制作直方图；以及输入部(51)，其设定用于进行分析的荧光X射线的能量范围，X射线分析装置(1)基于直方图来制作能量谱，基于设定的能量范围中的最大能量来自动地选择前置放大器(41A)和(41B)中的某一方。
荧光射线分析装置

[发明专利]一种用于玻璃扩散板拼接屏的防止拼接色差的管控方法-CN202310739145.2在审
发明人：李飞;陈雪莲;刘昌芬;林金锡;林金汉 -专利权人：常州亚玛顿股份有限公司
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明属于玻璃扩散板技术领域，具体涉及一种用于玻璃扩散板拼接屏的防止拼接色差的管控方法，这种用于玻璃扩散板拼接屏的防止拼接色差的管控方法包括如下步骤：步骤一：采用光谱仪测试玻璃原材中各个成分的含量，用照度计测试可见光波段的光谱能量分布，形成测试结果，将各个测试结果与标准件对比；其中，玻璃原材中铁含量的管控标准：标准件的铁含量±50ppm，光谱能量管控标准：标准件的RGB峰值光谱能量值±3％。这种用于玻璃扩散板拼接屏的防止拼接色差的管控方法具有管控背光模组各种原材的光学参数，制定严格的管控标准，收窄其波动范围，同步管控玻璃扩散板成品的光学参数，达到管控终产品拼接屏显示色差的效果。
一种用于玻璃扩散拼接防止色差方法

[实用新型]一种光谱仪光路结构-CN202321004854.8有效
发明人：徐天峰;曹岩 -专利权人：上海奥策计量检测技术有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光谱仪光路结构，包括光路底板，光路底板下方与快门组件连接，光路底板一侧与探测器连接，快门组件下方与转盘组件连接，转盘组件下方与光路底座连接，光路底座内部连接有镜片组件，镜片组件用于反射图像，光路底座下方与准直器滑台连接，准直器滑台内部连接有准直器。该光路结构通过呈45°角的反射镜可将前其正下方的样品图像反射到摄像头中，使得样品图像可以水平的传到摄像头中，使得摄像头采集的图像信息不会有较大的失真，同时通过调整多倍可变焦镜片筒，在这个基础上，使得摄像头的变焦，通过调节检测的距离，根据比例关系，可以选择合适的拍摄点，会使得摄像头拍摄的图像更加准确，精度更高。
一种光谱仪结构

[发明专利]一种X射线与电子束联用测试设备-CN202310747877.6在审
发明人：王旭;李海菁;舒淼;杨纯臻;司锐 -专利权人：深圳综合粒子设施研究院
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本申请公开了一种X射线与电子束联用测试设备，属于测试设备领域。X射线与电子束联用测试设备包括透射电镜装置、X射线强度探测装置、X射线发射装置和X射线荧光接收装置。透射电镜装置包括装置主体和样品支撑组件，样品支撑组件的一部分穿设于第一通孔设置在内腔内；X射线强度探测装置设置于装置主体外，且朝向第二通孔设置；X射线发射装置发射的X射线依次穿过气体电离室和第二通孔射向样品；X射线荧光接收装置的一部分穿设于第三通孔设置在内腔内，且朝向样品的方向设置。本申请提供的X射线与电子束联用测试设备，能够同时对样品进行X射线吸收精细结构谱测试和透射电子成像测试，以获得样品真实可对应的二维形貌像和局域配位结构信息。
一种射线电子束联用测试设备

[发明专利]基于EDXRF法测量农用碳酸氢铵肥料中氮含量的方法-CN202310749509.5在审
发明人：邓玉福;李玉;李继;马跃 -专利权人：沈阳师范大学
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于EDXRF法测量农用碳酸氢铵肥料中氮含量的方法，首先，对待测量农用碳酸氢铵肥料样品进行预处理及待测样品的制备，所述待测样品为含有钡元素的沉淀物，且所述沉淀物中的钡元素与所述农用碳酸氢铵肥料粉末样品中的氮元素存在化学计量关系，之后，利用能量色散X射线荧光分析仪对所述待测样品中的钡元素进行测量，得到钡元素的特征峰净面积，带入定标曲线，得到待测样品中钡元素的百分含量，最后，根据制备待测样品的化学反应中氮与钡的化学计量关系，即可计算得到所述农用碳酸氢铵肥料中氮元素的含量。该方法通过间接的测量实现了对农用碳酸氢铵肥料中氮含量的测量，具有测量快捷、易操作的特点。
基于 edxrf 测量农用碳酸氢铵肥料含量方法

[发明专利]一种利用荧光对高炉渣中钾钠含量测定的方法-CN202310647864.1在审
发明人：伍绍双;许家宝;柳锐松;覃双环;金垚;赖冠文;刘洋 -专利权人：阳春新钢铁有限责任公司
申请日： 2023-06-01 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明属于冶炼领域，公开了一种利用荧光对高炉渣中钾钠含量测定的方法。该方法包括如下步骤：选取标准样品，采用荧光光谱仪检测，绘制标准曲线；取待测高炉渣样品，粉碎，过筛，压片，得到压片样品；采用荧光光谱仪对所述压片样品进行检测，根据所述标准曲线，得到待测高炉渣样品的元素浓度，完成对高炉渣中钾钠含量的测定。该方法操作简单，分析速度快，通过确认，该发明适用于高炉渣钾钠测定，分析时间短，准确度高，重复性好，污染少，多方面均优于传统的分析方法。
一种利用荧光炉渣中钾钠含量测定方法

[发明专利]荧光X射线分析装置及其中使用的光谱显示方法-CN201580082847.1有效
发明人：古川博朗 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2015-07-03 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：为了不变更装置结构而以软件方式识别荧光X射线与衍射X射线、并在光谱中的波峰处显示荧光X射线信息与衍射X射线信息，本发明的荧光X射线分析装置具备将X射线射出到试样的X射线管(10)以及检测来自试样的X射线的检测器(30)，该荧光X射线分析装置根据由检测器(30)检测到的X射线，制作并显示表示X射线能量与元素的含量的关系的光谱，其中，荧光X射线分析装置具备：识别信息制作部(61c)，其制作对基于衍射X射线的波峰位置进行确定的识别信息，该衍射X射线根据试样的晶体结构而产生；以及显示控制部(61d)，其根据识别信息，在光谱中的波峰处显示衍射X射线信息。
荧光射线分析装置其中使用光谱显示方法

[发明专利]一种基于成矿环境的化探异常快速圈定方法-CN202310444683.9在审
发明人：郑有业;庞北;林毅斌;吴健辉;林德才;蒋光武;沙仙武;陈才贤;李健昌;张亚明;罗俊;曾庆淋 -专利权人：西藏巨龙铜业有限公司;中国地质大学（北京）
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于成矿环境的化探异常快速圈定方法。该方法是基于pXRF及成矿环境的化探异常快速圈定，建立了其参与野外化探工作的相关评价标准和技术流程，结合元素富集粒度、主成分分析、氧化和风化程度、矿集系数异常图等数据综合处理和分析方法，研发出一套快速、绿色、定量、高效的化探异常圈定新方法，测试时间远远小于传统方法，所测元素种类多，可较快指示出研究区内成矿有利地段。本发明在进行矿产勘查中无需或只需少量的样品制备，节约了时间与成本。
一种基于成矿环境异常快速圈定方法

[发明专利]含金属固体物料的自动化XRF检测柜-CN202310595454.7在审
发明人：李会泉;石垚;李志宏;何明星;张晨牧 -专利权人：中国科学院过程工程研究所;河北贯峰智控科技有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本申请涉及一种含金属固体物料的自动化XRF检测柜，属于XRF检测技术领域。本申请的自动化XRF检测柜包括：柜体以及集成于所述柜体内部的控制单元、进料烘干单元、过筛单元、制样压机、物料转移单元以及XRF检测单元。本申请将含金属固体物料的前处理与检测工序高度集成在检测柜中，能够实现在体积紧凑的检测柜中对含金属固体物料进行自动化XRF检测分析，避免了人为操作误差对检测样品状态的影响，有利于提高检测结果的准确性和可靠性。
金属固体物料自动化 xrf 检测

[发明专利]一种含锌冶金尘泥中锌含量的检测方法-CN202210195765.X在审
发明人：周桂海;徐永宏 -专利权人：上海梅山钢铁股份有限公司
申请日： 2022-03-01 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种含锌冶金尘泥中锌含量的检测方法，主要解决现有含金属锌的冶金尘泥中锌含量无法准确、快速检测技术问题。技术方案为，一种含锌冶金尘泥中锌含量的检测方法，包括：1)试样预处理；2)制备熔融试样玻璃片；3)用X射线荧光光谱仪测定试样熔融玻璃片中锌的光谱强度；4)计算含锌冶金尘泥中锌的质量百分含量。本发明方法检测数据准确可靠，自动化程度高，适用于锌的质量为含量为0.1％～50.0％的冶金尘泥中锌的检测，满足钢铁冶金生产过程产生的含金属锌的冶金尘泥中锌含量的准确、快速检测；本发明方法具有准确度高，操作简便，检测流程短，检测效率高，可操作性强，还可满足含锌冶金尘泥中锌含量在线检测要求。
一种含锌冶金尘泥中锌含量检测方法

[发明专利]一种用于测定再生氟化铝中钠含量的方法-CN202310517093.4在审
发明人：陈煦;胡宗喜;彭朝霞;王令丰;郭跃萍 -专利权人：中铝山西新材料有限公司
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种用于测定再生氟化铝中钠含量的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)通过电感耦合等离子体发射光谱法对一段时期内的多个再生氟化铝样品进行反复测定，从中筛选出成分稳定且含量分布具有一定梯度的多个样品作为筛选氟化铝标准样品；(2)将所述筛选氟化铝标准样品以及现有氟化铝标准样品，进行研磨、压片处理，制成标准片；(3)在X射线荧光光谱仪上，使用所述标准片建立工作曲线；(4)将待测的再生氟化铝样品进行研磨、压片处理，制成待测片；(5)在X射线荧光光谱仪上，使用所述工作曲线对所述待测片进行测定，得到所述待测再生氟化铝中钠含量。本发明能够实现快速准确测定再生氟化铝中钠含量。
一种用于测定再生氟化铝中钠含量方法

[发明专利]轻元素检测装置及检测方法-CN202310531477.1在审
发明人：刘海东;刘德华;张杨帆;徐秉峰 -专利权人：力合科技（湖南）股份有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种轻元素检测装置及检测方法，用于对薄膜样品的轻元素进行检测，包括分析室、X射线发生机构、探测机构、第一气源和第二气源；分析室包括第一腔体和第二腔体，之间设置开口；开口处设置检测位，用于放置待探测的样品；X射线发生机构用于提供X射线照射至样品的表面以激发样品产生X射线荧光；探测机构用于探测X射线荧光；第一气源用于向第一腔体提供氦气；第二气源用于向第二腔体提供预设气体，预设气体用于吸收穿透样品的X射线，或用于吸收穿透样品的X射线以及激发第二腔体材料产生的X射线荧光进而降低对样品检测的干扰。
轻元素检测装置方法

[发明专利]一种测量含硅或锆元素的物质中磷元素荧光吸收谱的方法及系统-CN201710110167.7有效
发明人：郑雷;赵屹东;唐坤;马陈燕;刘树虎;李华鹏;赵晓亮;赵亚帅;李凡 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2017-02-27 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量含硅或锆元素的物质中磷元素荧光吸收谱的方法及系统。该系统包括一含硅或锆元素的样品，衍射单元以及探测器；其中，根据布拉格定律、磷元素的Kα发射线的波长λ和选取的衍射单元确定出该样品与衍射单元、探测器之间的位置；该样品、衍射单元以及探测器探头处于真空环境；该衍射单元用于将该样品被激发出的满足布拉格定律的荧光衍射到该探测器。本发明能够将土壤样品中硅元素的荧光消除，让探测器只探测到有用的荧光(磷的荧光)，解决因为硅的荧光太强使探测器不能很好工作测量磷的吸收谱的问题。
一种测量元素物质荧光吸收方法系统

[发明专利]一种用于湿法冶金的氧化矿石酸溶铜钴分析方法-CN202310523451.2在审
发明人：李文凯;高帮飞;张建军;廖凤林 -专利权人：中铁资源集团有限公司
申请日： 2023-05-10 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于湿法冶金的氧化矿石酸溶铜钴分析方法，本发明公开的方法可以准确测定矿石的酸可溶铜钴含量以确定矿石的品位，测算矿石的氧化率。本方法在对未知样品检测前引入了XRF测量，以此对每个样品的品位有个初步了解，对于接下的测定方法选择以及原子吸收仪合理稀释范围的确定有一个准确的引导作用，避免了因样品的未知性而导致的反复测量，提高了效率。此外，本方法直接采用短时间内快速加热的方式加快酸溶钴的浸取，在保证检测结果与实际生产相符的情况下，又避免了时间过长导致不断补加亚硫酸钠调节电位以保证钴的浸取率，所以从检测效率上来讲有极大的提高。
一种用于湿法冶金氧化矿石酸溶铜钴分析方法

[发明专利]分析系统、分析装置、服务器以及信息处理方法-CN201911201786.2有效
发明人：寺下卫作;铃木桂次郎 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-11-29 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种分析系统、分析装置、服务器以及信息处理方法。在分析系统(100)中多个分析装置(EDX)与服务器(4)被进行了通信连接，多个分析装置(EDX)的各个分析装置(EDX)包括进行试样的测定的装置主体(1)和对由装置主体(1)得到的测定数据进行分析的信息处理装置(2)。信息处理装置(2)具有用于存储测定数据和测定数据的分析结果的第一存储部，基于第一存储部中存储的分析结果来生成表示分析结果的概要的分析结果摘要，并将该分析结果摘要发送到服务器(4)。服务器(4)具有第二存储部，该服务器(4)构建储存有从信息处理装置(2)接收到的分析结果摘要的数据库，并将该数据库保存到第二存储部。
分析系统装置服务器以及信息处理方法