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[实用新型]基于双X射线管和样品真空腔的小型TXRF装置-CN202320191485.1有效
发明人：黑大千;蔡平坤;单卿 -专利权人：中南兰信（南京）辐射技术研究院有限公司
申请日： 2023-02-13 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型涉及基于双X射线管和样品真空腔的小型TXRF装置，本装置沿相互垂直的方向放置2个X射线管，2个X射线管发射的X光分别经波导管后从相互垂直的2个方向分别入射样品真空腔，照射放置于X射线反射体上的样品，并在X射线反射体上发生全反射，激发样品中的元素产生特征X射线，使用X荧光探测系统测量样品产生的X荧光，实现对样品中的元素进行定性定量分析。本实用新型利用2个不同阳极靶的X射线管产生的荧光分别激发样品，并利用真空腔减小空气对低原子序数元素特征X荧光的吸收，可实现样品中低原子序数和高原子序数元素的高精度测量。
基于射线样品空腔小型 txrf 装置

[实用新型]用于X射线荧光分析仪的锁紧装置及X射线荧光分析设备-CN202320474008.6有效
发明人：任宏志;吴升海 -专利权人：赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于X射线荧光分析仪的锁紧装置，该锁紧装置包括：锁紧主体，包括正面、背面以及侧面，在侧面上开设有第一凹槽，锁紧主体在其背面上设有朝向电池盒突出的弹性件；导向构件，其布置在锁紧主体内，包括轴杆部，其从锁紧主体的内部经由第一凹槽从侧面伸出；并且能沿着第一凹槽在第一位置和第二位置之间移动，在第一位置，锁紧主体能通过使轴杆部插入第二凹槽内而安装于所设贯通部，而在第二位置，锁紧装置能通过压向电池盒的弹性件的弹性变形来将电池盒和充电底座锁定在一起。由此，可以利用弹性件的弹性变形对电池盒产生锁紧力，并且通过锁紧装置的轴杆部的位置变化来产生自锁。本实用新型还涉及一种X射线荧光分析设备。
用于射线荧光分析装置设备

[发明专利]一种基于同步光源的X射线点击化学标记探针及其制备方法以及应用-CN202310182703.X在审
发明人：蔡小青;诸颖;汤乔伟;殷大鹏;张继超;樊春海 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种基于同步光源的X射线点击化学探针及其制备方法以及应用，包括：1)合成一种聚多巴胺表面修饰有点击反应所需基团的聚多巴胺‑金属；2)在培养有细胞的培养基中加入修饰试剂以修饰可靶向各种亚细胞器的生物分子；3)将步骤1)合成得到的聚多巴胺‑金属加入步骤2)修饰之后的培养基中，至点击反应完成；4)将步骤3)中得到的细胞滴加在适用于同步辐射X射线成像的基底上，在同步辐射X射线下成像观察，细胞内生物分子在X射线下具有特异性的吸收峰，即得。根据本发明，提供了一种基于点击化学和同步X射线的对细胞内多种生物分子进行高特异性识别和高分辨率成像的方法，具有良好的生物医学应用前景。
一种基于同步光源射线点击化学标记探针及其制备方法以及应用

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN202180072774.3在审
发明人：原真也;山田康治郎;儿玉宪治;堂井真 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2021-09-10 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明的荧光X射线分析装置所具有的排除机构(21)：对于基底层中不含测定元素的成分，针对每条相应的测定线，假定该成分单独构成薄膜来计算其附着量，将最大附着量设定为该成分的附着量的初始值；对于基底层中包含测定元素的成分，针对每条相应的测定线，基于基底层中不包含测定元素的每个成分的附着量的初始值来计算其附着量；在所有对应的测定线的计算结果均有误差的情况下，将该成分作为不能定量的成分从分析对象中排除，在除此以外的情况下，将最大的附着量设定为该成分的附着量的初始值。
荧光射线分析装置

[实用新型]用于检测样品的分析系统-CN202320981250.2有效
发明人：吴升海;徐挺;马路明 -专利权人：赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于检测样品的分析系统，包括：激光器；第一检测器，用于检测样品在受到激光光束激发后所发射出的第一发射光；第一光学设备，构造成能将激光光束引向样品；X射线光源，用于发射X射线至样品，以使得样品发射出第二发射光；第二检测器；光学元件，布置在第一光学设备与样品之间的光路中以及在X射线光源与样品之间的光路中；光学元件包括：第一层，用于将来自第一光学设备的激光光束反射至样品；第二层，用于减少由X射线光源发出的X射线所产生的干扰。由此，在实现减少干扰以提高检测准确度的同时有利于对LIBS设备部分以及XRF设备部分的灵活布置，这除了使得整个分析系统的结构更紧凑，还提高了取样点的空间重复性。
用于检测样品分析系统

[发明专利]采用荧光熔片方法测定石灰石、白云石主要成分的方法-CN202310621899.8在审
发明人：孙闯;马明明;陈远姝;汤兰兰;肖师杰;周伟;刘素祥;王长军;余建平 -专利权人：南京钢铁股份有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了采用荧光熔片方法测定石灰石、白云石主要成分的方法，涉及钢铁生产技术领域，采用熔片法，通过高温熔融极大地减少了基体效应及粒度效应，提高分析准确率，通过X射线荧光仪可以同时测定石灰石、白云石中的SiO2、MgO、P、CaO、Al2O3、Fe2O3等成分，数据结果符合允差要求，单个样品的测定约耗时1h左右，大大减少了原有化学融样、滴定和比色的时间，并且显著降低了工人的劳动强度（原单个样品分析时长约5～7h），提高了检测速度，消除了由于人员的操作经验水平不同、检测过程繁琐、指示剂显色之后等因素引入的误差。
采用荧光方法测定石灰石白云石主要成分

[发明专利]X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备-CN201710268956.3有效
发明人：张环月;权北北;刘向辉;邹龙江;季首华 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2017-04-24 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供了一种X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备，属于制样工具技术领域，用于X射线荧光光谱检测过程中微量粉末样品的制备。针对无法制备标准样品的微量粉末，传统的解决办法是将微量粉末与粘结剂混合以制备标准样品。但这种方法会引入新的杂质，增大分析误差，影响轻元素和痕量元素的检测下限。为此，本发明通过在粘结剂中压出盛放微量粉末的圆形槽，使待测微量粉末集中在粘结剂的中上部，避免待测微量粉末被稀释，从而提高了检测精度。
射线荧光光谱微量粉末样品设备

[发明专利]一种金合金制品中金含量及其他元素含量的测定方法-CN202310415835.2在审
发明人：王金砖;李倍;谢祎倍;张锦雯;方亭;周骏贵;金绪广;蔡薇;王鑫磊;陈栋;张帆;王亮 -专利权人：南京市产品质量监督检验院(南京市质量发展与先进技术应用研究院)
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明涉及元素含量检测技术领域，尤其是一种金合金制品中金含量及其他元素含量的测定方法，包括如下步骤：1)溶解样品，加入盐酸、乙二胺四乙酸二钠、酒石酸、草酸、高氯酸，并制备稳定的试样溶液；2)制备主要元素含量组成的校准溶液；3)测定已知不同浓度的金、银、铜、锌、镍、铁、锰、铬校准试样，确定上述元素的测试条件；4)测试校准溶液样品，构建校准工作曲线中X射线荧光光谱强度和金、银、铜、锌、镍、铁、锰、铬元素含量关系，采用校准曲线测试待测样品，得到待测金合金制品中金、银、铜、锌、镍、铁、锰、铬含量。本方法可对金含量为0.15％～99.9％金合金制品中金、银、铜、锌、镍、铁、锰、铬含量进行快速准确测定。
一种合金制品含量其他元素测定方法

[发明专利]一种机制砂石用隧道洞渣性能快速综合评价方法-CN202310249114.9在审
发明人：刘飞;高超;郭杰;李福海;冷彪;严丁辉;黄绍宁;章慧健;丁溢骏;范少轩 -专利权人：中铁五局集团电务工程有限责任公司;西南交通大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种机制砂石用隧道洞渣性能快速综合评价方法，具体涉及隧道洞渣性能综合评价技术领域，包括如下步骤：步骤一、选样，利用摄像头并且戴在使用者的头上后，并且摄像头可以连接网络后后台人员可以通过后台显示屏查看选样人员的移动位置处，后台人员2人次，不得低于一人，随时与使用者沟通洞渣位置辅助拿取合适的洞渣，还可以看到使用者选取的洞渣是否为自然风干洞渣。本发明避免人员试验检测时出现操作失误，与检测标准不相符合，影响检测评价的精确性，一旦存在步骤错误，可以及时进行更改处理，实现高速判定处理，避免人员误操作导致数据不精确，能够自行识别实现高效精确评价。
一种机制砂石隧道性能快速综合评价方法

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN202180076252.0在审
发明人：冈本康之 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：荧光X射线分析装置具备：试样台，其形成有开口部，该试样台以使试样从开口部露出的方式载置试样；X射线源，其使初级X射线从试样台的下方穿过开口部照射于试样；检测器，其检测从试样产生的荧光X射线。荧光X射线分析装置还具备：分析部，其基于荧光X射线对构成元素进行分析；测量装置，其测量试样中的从开口部露出的表面的高度；判定部，其判定由测量装置测量出的高度与试样台的上表面的高度的高度差是否处于允许范围内；以及通知部，其通知判定部的判定结果。由此，能够识别分析结果的可靠性。
荧光射线分析装置

[发明专利]一种大气环境中氯离子含量检测装置及检测方法-CN202011079434.7有效
发明人：贺琼瑶;张伦武;刘聪;郭赞洪;李旭;杨小奎;周堃;项运良 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2020-10-10 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供了一种大气环境中氯离子含量检测装置及检测方法，装置包括X射线发射器和探测器，X射线发射器与探测器的对称线垂直于样品的照射点，X射线发射器发射的X射线用于激发样品表面的氯离子发出特征荧光X射线，探测器用于接收样品表面反射的氯离子特征荧光X射线；检测方法步骤包括：调节旋转机构，使圆管状样品位于预设位置；调节位移机构，使探测器达到最佳信号接收效果，使X射线发射器发出的X射线对准圆管状样品起始点；启动X射线发射器进行扫描，根据扫描结果计算氯离子含量。本发明具有结构简单、易于操作，检测结果稳定可靠，使用环境友好等优点，可自动、快速、高效的检测大气环境下产品表面氯离子含量。
一种大气环境氯离子含量检测装置方法

[发明专利]X射线荧光光谱仪用熔片的平整度检测方法-CN202310493033.3有效
发明人：徐志彬;左玉昊;张晓燕 -专利权人：中国检验认证集团河北有限公司黄骅港分公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线荧光光谱仪用熔片的平整度检测方法，涉及平整度检测技术领域。本方法不需要对样品杯进行加工改造，节省了大量的成本。通过将第二熔片旋转至不同位置后，分别在该位置下对第二熔片进行检测，对第二熔片的检测面进行了全面监控，相较于测定直径五分点的方法，监控的面积更广。本方法同样适用于样品台无法移动或者没有微区功能的XRF光谱仪，适用范围更广。
射线荧光光谱仪用熔片平整检测方法

[实用新型]一种便携手持式X荧光光谱仪-CN202320598085.2有效
发明人：喻奉波;陈强;蔡帆 -专利权人：深圳市科誉仪器有限公司
申请日： 2023-03-22 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型涉及光谱检测技术领域，公开了一种便携手持式X荧光光谱仪，包括防尘机构和荧光光谱主机，所述荧光光谱主机前端位置固定设置有连接套座，所述防尘机构包括外壳机构和吹风机构，所述外壳机构包括套筒，所述套筒后端面固定设置有连接段，所述连接段螺纹套设于连接套座前端位置，所述吹风机构包括微型驱动马达。本实用新型中，该手持式X荧光光谱仪相较于一般的手持光谱仪，在前端的射线发射位置设置了防尘机构，通过带动气流从射线发出开口内部吹出，可避免手持式X荧光光谱仪在使用的过程中使外界的灰尘杂物从射线发出开口进入光谱仪内部堆积，使开口位置保持洁净，避免灰尘沾染堆积对射线的正常发射造成不良影响。
一种便携手持荧光光谱仪

[实用新型]一种手持式X荧光光谱仪-CN202320204556.7有效
发明人：董亚凯;张旭;王鹏;游国峰 -专利权人：河北联泰检测技术有限公司
申请日： 2023-02-14 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型涉及光谱仪技术领域，尤其是一种手持式X荧光光谱仪，包括光谱仪主体和支撑装置，光谱仪主体的一端嵌合连接有检测头，所述光谱仪主体远离所述检测头的一端固定连接有显示屏，所述光谱仪主体的一侧嵌合连接有把手，所述支撑装置包括底板，所述底板活动连接在所述显示屏与所述把手相靠近的一侧，所述把手的一侧固定连接有滑柱，所述底板的上端开设有调节槽，由安全罩扣合在光谱仪主体的一端，对检测头完成包裹，防止检测时发生散光，避免了光谱仪主体对样品检测时因挤压过紧造成检测头的损坏，增加了样品检测数据的精准性，便于光谱仪主体长时间保持垂直状态，降低使用者操作难度。
一种手持荧光光谱仪

[发明专利]波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质-CN202211564777.1在审
发明人：胡学强;刘明博;袁良经;刘鑫宇;倪子月 -专利权人：钢铁研究总院有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本申请涉及一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质，方法基于波长色散X荧光光谱仪，获取实验样品的晶体支架理论转动角度和探测器支架理论转动角度；对实验样品进行双扫描，使第一探测器接收分光后的X射线，得到实验样品的晶体支架实际转动角度和探测器支架第一实际转动角度；根据晶体支架理论转动角度和晶体支架实际转动角度即可得到晶体支架实际初始角，结合晶体支架理论初始角，可得到晶体支架偏移角；根据探测器支架理论转动角度和探测器支架第一实际转动角度即可得到探测器支架实际初始角，结合探测器支架理论初始角，可得到探测器支架偏移角。本申请具有对晶体和探测器的角度进行校正，提高光谱仪的精密度的效果。
波长色散荧光光谱仪调试方法系统电子设备介质