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- [发明专利]监测大分子构象转变和靶与探针分子生化反应方法和装置-CN200810022379.0无效
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张青川;黄渊;刘红;李凯;陈大鹏;伍小平
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张青川
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2008-06-28
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2009-02-25
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G01N13/10
- 本发明公开了一种监测大分子构象转变和靶分子与探针分子生化反应的方法及装置，将大分子、不同或相同的探针分子中的任一种或多种修饰在微悬臂梁阵列中不同微悬臂梁的单侧表面，光源发出的平行光入射到微悬臂梁上，反射光被光学接收装置接收形成反射光斑阵列并与微悬臂梁一一对应，当大分子发生构象转变或探针分子与待测溶液中的靶分子发生结合时，该微悬臂梁发生弯曲变形，反射光会随之发生偏转，相应的反射光斑的位置也会随之发生位移，根据各微悬臂梁所对应的反射光斑的位置变化与位移大小，来判断大分子的构象转变情况或待测溶液中与探针分子对应的靶分子的有无或者浓度的大小。该发明能实现多根微悬臂梁位移信号的同时监测，同时消除了折射率改变和光源光强变化产生的噪声信号；通过对测量光束偏振态的控制大大降低了杂散光的影响，提高了测量精度。
- 监测大分子构象转变探针分子生化反应方法装置
- [发明专利]一种钼合金丝中第二相粒子的检测方法-CN200810146529.9无效
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刘仁智
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金堆城钼业股份有限公司
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2008-09-02
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2009-01-28
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G01N13/10
- 本发明的涉及一种钼合金丝中第二相粒子的检测方法。其特征在于其检测过程的步骤依次包括：1)掺杂钼合金丝材进行纵向镶样、打磨、抛光制成试样；2)将试样进行腐蚀至丝材放在倍数≥200的显微镜下观察到清晰的丝材纤维组织；3)再将试样放入带场发射的分辨率达到纳米级的扫描电镜下进行观测，找出丝材纤维之间或丝材纤维中出现的黑色小球；将黑色小球打能谱分析以确认其为第二相粒子；4)对确认出现第二相粒子的试样进行进一步腐蚀后，采用扫描电镜检测钼合金丝中第二相粒子。本发明的方法，费用少，操作简单易行，可对掺硅、铝、钾钼合金丝(D≤1.0mm)中第二相粒子进行有效检测。
- 一种合金丝第二粒子检测方法
- [发明专利]曲面复合超分辨载流管-CN200810023714.9无效
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曹勇;王沛;鲁拥华;明海
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中国科学技术大学
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2008-04-18
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2008-12-24
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G01N13/10
- 曲面复合超分辨载流管，其特征是采用中空的曲面载流体，曲面载流体是由至少一层金属层和一层电介质层相间设置构成复合结构，被测样品置于其中空腔内。本发明通过构造金属和电介质的曲面复合结构，使之法线和切线方向介电常数符号相反，使得在普通透镜中无法传播的携带有精细结构信息的高频量在曲面复合超分辨载流管壁内可以传播，且不会发生相互干涉，从载流管外壁曲面出射时点距大于瑞利分辨极限，实现在远场观察到超衍射分辨率极限的纳米级的样品结构，其分辨率高，可避免近场探测的误差，远场成像更便于操作和应用。
- 曲面复合分辨流管
- [实用新型]双探针同点测量扫描探针显微镜-CN200720130840.5无效
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陆轻铀
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中国科学技术大学
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2007-12-10
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2008-12-10
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G01N13/10
- 双探针同点测量扫描探针显微镜利用XY或XYZ压电扫描器、X定位范围增强了的或者增设了XY惯性步进的XY或XYZ压电扫描器，将样品测量点从第一探针送至第二探针附近并通过寻找记号实现第二探针对第一探针测量点的再次测量。两个探针由两个独立的Z定位器来调节它们与样品的间距，使得各探针不干扰另一探针的测量。该设计比现有的移动探针的同点测量技术少一个长程自由度，且双针允许相隔较远，也允许为不同类型探针，所以控制与制作都大为简化、且给出的数据更全面、可靠，意义更广、更深，特别适用于相变、反应动力学和交叉学科的研究。
- 探针测量扫描显微镜
- [发明专利]用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法-CN200810062982.1无效
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居冰峰;伏明明;金伟锋
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浙江大学
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2008-07-17
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2008-11-19
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G01N13/10
- 本发明公开了一种用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法。旋转空气轴承高速旋转，从旋转编码器获得旋转的角度，气浮导轨沿着待测工件的径向运动，从线性编码器获得气浮导轨的位移，旋转空气轴承和气浮导轨从而构成扫描模块，利用DSP综合控制系统模块驱动SPM测量头获得待测工件表面的高度信息，再利用高速数据采集与处理模块将SPM测量头和扫描模块关联在同一个坐标系中，实现扫描频率和形貌测量速度匹配、极坐标和直角坐标之间的数据快速实时转换，从而实现微纳结构三维形貌的高速、大面积超精密测量。本发明可以实现对微纳结构三维形貌的快速、大面积扫描，进而快速构建微纳结构三维形貌，彻底解决传统SPM测量速度慢、测量范围小等瓶颈问题。
- 用于扫描探针显微镜螺旋式方法
- [实用新型]一种扫描电子显微镜原位电学测量装置-CN200820078605.2无效
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张泽;王珂;刘攀;韩晓东
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北京工业大学
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2008-01-18
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2008-11-12
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G01N13/10
- 本实用新型涉及一种在扫描电子显微镜中对待测微型元件进行电学测量的装置，具体为一种扫描电子显微镜原位电学测量装置，属于纳米材料性能原位测量领域。包括有支撑部分和电路部分，所述的支撑部分为绝缘衬底(1)，所述的电路部分包括两个固定在绝缘衬底(1)上的电极(2)、待测元件(4)和相变材料非晶薄膜(5)；所述的相变材料非晶薄膜均匀分布在两金属电极之间，待测元件位于相变材料非晶薄膜中或者集成在金属电极上。本实用新型中的连线具有可擦写的特点，通过电极两端加较高电压，或者直接对载网进行一定的激光脉冲辐照，使相变材料薄膜完全非晶化，使已经形成的电流通路消失实现了测量电路的可选择性，可反复擦写性。
- 一种扫描电子显微镜原位电学测量装置
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