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[实用新型]硅片倒角机测量台-CN202321495995.4有效
发明人：朱亮;李阳健;翟硕;谢冰凌 -专利权人：浙江晶盛创芯半导体设备有限公司
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种硅片倒角机测量台，该硅片倒角机测量台包括设备机架、测量平台和检测组件，测量平台至少部分设置在设备机架上，用于承载硅片；检测组件至少部分设置在设备机架上。检测组件包括厚度测量装置、外周测量装置、外周轮廓检测装置和凹槽检测装置，厚度测量装置、外周测量装置、外周轮廓检测装置和凹槽检测装置围绕测量平台设置。通过上述设置，硅片倒角机测量台通过设置检测组件集成了检测功能，从而无需转移硅片，即可对硅片的各项数据进行实时检测，进而既可以降低硅片加工的检测成本，也可以提高硅片的检测精度。检测组件围绕测量平台设置还可以提高硅片倒角机测量台的结构紧凑性，降低硅片倒角机测量台的空间占用率。
硅片倒角测量

[实用新型]一种引线框架多维检测装置-CN202321691208.3有效
发明人：郑飞;刘桂宝;张祥明 -专利权人：合肥图迅电子科技有限公司
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种引线框架多维检测装置，属于半导体配件检测技术领域，包括平面检测机构和高度测量机构，所述平面检测机构和所述高度测量机构集成安装在一体化检测支架上；所述平面检测机构包括第一相机，用于检测所述引线框架平面尺寸；所述第一相机垂直固定在所述一体化检测支架的升降机构上，跟随所述升降机构上下移动；所述高度测量机构包括至少一个第二相机，用来检测所述引线框架的高度尺寸；所述第二相机倾斜固定在所述一体化检测支架的旋转机构上，跟随所述旋转机构转动。本实用新型引线框架多维检测装置不仅能够大大缩短检测时间，提高生产效率；而且能够有效降低设备工装使用量，节约成本。
一种引线框架多维检测装置

[发明专利]螺纹参数自动测量装置、参数补偿方法及存储介质-CN202310927675.X在审
发明人：闫东成 -专利权人：达力普石油专用管有限公司
申请日： 2023-07-26 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种螺纹参数自动测量装置、参数补偿方法及存储介质。该测量装置包括：传送设备、光源、图像采集设备及主控设备；传送设备用于将待测螺纹件传送至检测工位；光源用于为待测螺纹件补光；图像采集设备用于采集待测螺纹件的阴影图像，并将采集得到的待测螺纹件的阴影图像发送给主控设备；主控设备用于接收待测螺纹件的阴影图像，并根据待测螺纹件的阴影图像确定待测螺纹件的参数。本发明采用图像分析可实现对螺纹件的自动检测，无需人工检测，大大提高了检测效率及准确度。
螺纹参数自动测量装置补偿方法存储介质

[发明专利]一种汽车零部件用智能测量仪器-CN202311141529.0在审
发明人：张其海;刘吨山;韩雷;王超 -专利权人：大地（山东）汽车零部件有限公司
申请日： 2023-09-06 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种汽车零部件用智能测量仪器，涉及零部件测量领域，包括位移杆，所述位移杆为圆柱形结构，每个内件的内部设有两个推动槽，推动槽的后端为倾斜状结构，每两个内件之间嵌入有一个推动横杆，推动横杆为矩形结构，推动横杆嵌入在长槽内部，推动横杆为金属材质。零部件需要取出的时候，使位移杆通过侧杆带动内件以及推动槽一起移动，由于推动槽的后端为倾斜状结构，使其与导杆滑动接触，使导杆受力导向位移，带动推动横杆一起移动，使推动横杆顶动汽车零部件，使汽车零部件的底部与主体的内部底端出现缝隙，方便取出汽车零部件。解决现有测量仪器在零部件测量完毕之后取出不够便捷，较为费力的问题。
一种汽车零部件智能测量仪器

[发明专利]一种用于石英晶片的搭载基准确定方法-CN202311073538.0在审
发明人：杨红永;袁东秀;付廷喜;魏苗;吴均花 -专利权人：天津伍嘉联创科技发展股份有限公司
申请日： 2023-08-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及石英晶体生产领域，具体涉及一种用于石英晶片的搭载基准确定方法，包括：S1、获取石英晶片的基座基础数值；S2、利用所述石英晶片的基座基础数值建立基准筛选阈值；S3、根据所述基准筛选阈值完成石英晶片的搭载基准确定，规避了因可阀环与PAD的位置波动带来的胶点与晶片相对于PAD的位置波动，使胶点和晶片相对于PAD的位置相对唯一，从而提升最终产品的稳定性。
一种用于石英晶片搭载基准确定方法

[发明专利]一种基于移动扫摆式多相机的视觉测量方法-CN202310819790.5在审
发明人：孙岩标;邾继贵;任永杰;林嘉睿;曹首钦 -专利权人：天津大学
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提出一种基于移动扫摆式多相机的视觉测量方法，属于智能制造超大尺寸目标的空间三维坐标精密视觉测量领域。针对现有视觉测量方法对超大目标的空间三维坐标测量中存在的图像数目多、组网结构复杂所引发的计算易发散、效率低、精度下降等问题，本发明基于移动式桁架、电气控制柜和多个视觉测量单元的扫摆式多相机移动视觉测量装置，在工业相机的基础上添加光源与运动装置，使得相机具备扫摆运动功能，再与移动式桁架结合，搭建形成移动式测量系统，针对大尺寸目标，实现自动化的视觉测量流程，并基于子图融合的大量图像全局快速定向方法，研究了基于局部到全局优化策略的估计方法，实现了高效、高精度的全局像片定向。
一种基于移动摆式多相视觉测量方法

[发明专利]一种PCB板智能检测方法及系统-CN202310823937.8在审
发明人：尹联群 -专利权人：深圳市塔联科技有限公司
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及PCB板智能检测技术领域，特别涉及一种PCB板智能检测方法及系统，本发明通过判断孔径差值是否超过预设孔偏阈值，若孔径差值未超过预设孔偏阈值，则将待检测PCB板标定为待确定微弱缺陷产品，然后再判断待确定微弱缺陷产品的相对毛刺数差值是否超过预设毛刺数阈值，若待确定微弱缺陷产品的相对毛刺数差值未超过预设毛刺数阈值，则将所述待确定微弱缺陷产品标定为微弱缺陷产品，这样便于挑选出待检测PCB板中的孔偏以及孔内毛刺方面虽然存在微弱缺陷但是孔径差值以及相对毛刺数差值均未超过预设阈值的合格PCB板投入使用，从而可以避免资源消耗。
一种 pcb 智能检测方法系统

[发明专利]载波光学涡旋干涉仪轴对称表面形变动态测量方法-CN202310787635.X在审
发明人：董敬涛;李洋洋;赵恩曦;谢丽媛 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种载波光学涡旋干涉仪轴对称表面形变动态测量方法，采用具有同心圆环强度分布的高阶涡旋光束作为探测光束，与探测光束共轭的高阶涡旋光束作为参考光束，二者相干叠加产生二维花瓣状涡旋干涉图；利用匀速旋转的斩波器和成像芯片上写有多环图案的面阵相机将二维干涉图转换为多组一维时域信号；当被测表面未发生形变时，对一维时域信号进行傅里叶变换获得载频信号；当被测表面发生轴对称形变时，多组一维时域信号的傅里叶频谱分别产生相对于载频信号的多普勒频移，定位各多普勒频移获得不同半径处的表面形变速度；通过对速度随时间的积分获得任意时刻的表面形变轮廓，实现轴对称表面形变的动态测量。
载波光学涡旋干涉仪轴对称表面形变动态测量方法

[发明专利]相交棱的检测方法、设备、系统、存储介质及程序产品-CN202310907863.6在审
发明人：孙妙妍;宋启原;李灵哲;张建伟;邵天兰;丁有爽 -专利权人：梅卡曼德（北京）机器人科技有限公司
申请日： 2023-07-21 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供的一种相交棱的检测方法、设备、系统、存储介质及程序产品，应用于3D相机，3D相机包括光机和相机；通过获取光机向包括相交棱的待测物投影的多个方向的条纹图像，以及相机拍摄待测物得到的拍摄图像，各条纹图像中条纹的方向不同，对于相机的靶面上的任一目标像素点，根据多个方向中的至少部分方向中的至少部分方向的条纹图像和拍摄图像，确定该条纹图像对应的相位线，根据各个目标像素点对应的相位线，确定待测物的点云数据；根据待测物的点云数据，确定相交棱，由于相交棱的位置不受多重反射影响，通过投射多个方向的条纹图像确定多条相位线，根据多条相位线的位置关系可以确定未受多重反射影响的像素点，从而准确确定相交棱。
相交检测方法设备系统存储介质程序产品

[发明专利]一种机构运动精度视觉检测仪器及检测方法-CN202310911766.4在审
发明人：张玮;吴海富 -专利权人：广东凯福电子科技有限公司
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种机构运动精度视觉检测仪器及检测方法，涉及视觉检测技术领域，包括视觉支架、工业相机、光圈、工业触摸屏、可编程控制系统，其中，视觉支架固定安装在工作台面的顶端，工业相机安装在视觉支架的前部，用于拍摄待测产品的图像，光圈位于工业相机的下方，用于工业相机在拍摄图像时，提高所拍摄图像的亮度和清晰度，工业触摸屏安装在工作台面的顶端，用于显示工业相机所拍摄的图像信息，可编程控制系统用于调控视觉检测仪器。该机构运动精度视觉检测仪器及检测方法，不仅检测效率高，而且精度也很高，从而实用性得到大幅度提升，该仪器兼容对位平台、直线型旋转型微调台、中空旋转平台等产品的测试。
一种机构运动精度视觉检测仪器方法

[发明专利]单开道岔几何形位测量方法、装置、电子设备及存储介质-CN202311182858.X在审
发明人：李俊波;沈鹍;王东妍;吴霞;李娟;樊涛;刘俊;郝贵才;李林;任京楠;杨一玎;郭心全;李亚峰;姜帅;杨超凡;余亮;裴亚林;张金星 -专利权人：中国铁道科学研究院集团有限公司电子计算技术研究所;中国铁道科学研究院集团有限公司;北京经纬信息技术有限公司
申请日： 2023-09-14 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种单开道岔几何形位测量方法、装置、电子设备及存储介质，涉及铁路交通管理技术领域，单开道岔几何形位测量方法包括获取单开道岔点云数据；从单开道岔点云数据中提取单开道岔钢轨结构；根据待测量的几何形位指标对所述单开道岔钢轨结构进行关键部位标定；对标定的关键部位点云数据进行特征提取得到待测量的几何形位指标值，实现单开道岔几何形位参数无接触式测量，可以使道岔结构的几何形位信息全面、整体地呈现，并且，可以提升单开道岔关键几何形位参数提取效率和识别精确性。
开道几何测量方法装置电子设备存储介质

[发明专利]核查装置和分析核查装置测量结果不确定度的方法-CN202311163620.2在审
发明人：黄志阳;冯飞;贾琦;祝静;王培源;邰中奎;邹飞;吴家伟 -专利权人：中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
申请日： 2023-09-11 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明是空气动力学试验领域，公开了核查装置和分析核查装置测量结果不确定度的方法，所述核查装置包括基座，在基座上通过移动工作台安装有激光器，从激光器的发射端起依次设置有安装于基座的线性干涉镜组件、线性反射镜、调节转台和头座，所述线性反射镜通过三维调整附件安装于尾座，该尾座固定安装于基座；被测件安装于所述调节转台；所述头座安装有测头，优选的，所述测头为阿贝测头；该装置符合阿贝原则的同时,根据被测长度的大小,调整激光器和测量组件的安装位置,减小环境参数对核查标准装置光程的影响,提高测量准确度。
核查装置分析测量结果不确定方法

[发明专利]影像系统成像中心与机械中心一致性验证装置及方法-CN202310994596.0在审
发明人：徐洋洋;周恒;马骏;王捷;吴小兵;沈杰 -专利权人：上海艾普强粒子设备有限公司
申请日： 2023-08-08 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种影像系统成像中心与机械中心一致性验证装置及方法，涉及影像系统辅助设备技术领域，包括操作平台，操作平台上设置有机械中心指示组件、机械中心标记组件以及成像中心指示组件，成像中心指示组件连接设置有成像中心调节机构，利用机械中心指示组件找到空间内的机械中心，利用机械中心标记组件标记出该机械中心，调节成像中心指示组件的位置使成像中心指示组件与机械中心标记组件标记出的位置相重合，此时使用影像系统对成像物体进行成像，成像中心与机械中心之间的误差即为影像系统的误差，在后续利用影像系统进行图像引导放疗中，可以利用该验证得到的误差对影像系统的成像进行修正，有效减小了影像系统成像的误差。
影像系统成像中心机械一致性验证装置方法

[发明专利]一种基于图像处理的通用开关状态识别方法-CN202311167482.5在审
发明人：贺亮;岑亮;易炜;吴雷;刘云川 -专利权人：北京宝隆泓瑞科技有限公司;重庆泓宝科技股份有限公司
申请日： 2023-09-12 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明揭示了一种基于图像处理的通用开关状态识别方法，所述方法主要包括如下步骤：S100：对待识别的开关进行初始配置；S200：使用改进的SSIM算法完成待预测的开关的状态的识别。本发明无需采集数据、标注、训练，且适用于各种不同样式的开关状态识别，同时几乎不消耗额外算力，能在各种嵌入式设备进行部署。
一种基于图像处理通用开关状态识别方法

[发明专利]测量传感器及测量装置-CN202311185739.X在审
发明人：阮迪超;杨灏;金少峰 -专利权人：深圳市深视智能科技有限公司
申请日： 2023-09-14 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本申请提供了测量传感器及测量装置。测量传感器包括：发射传感头，包括间隔设置的第一透镜组及第二透镜组，第一透镜组用于将第一线偏振光转换为第一圆偏振光并透射至第二透镜组，第二透镜组用于将第一圆偏振光转换为第二圆偏振光并将第二圆偏振光反射至第一透镜组，第一透镜组还用于将第二圆偏振光反射至第二透镜组，第二透镜组还用于将第二圆偏振光转换为第二线偏振光并透射至待测物；及接收传感头，用于接收第二线偏振光并转换为测量信号，用于获取待测物的测量信息。本申请提供的测量传感器能够利用自身较小的尺寸获取大范围内的高精度对准测量。
测量传感器装置