[其他]瞬态流场高速、多幅干涉测试仪无效
| 申请号: | 86103975 | 申请日: | 1986-05-30 |
| 公开(公告)号: | CN1004104B | 公开(公告)日: | 1989-05-03 |
| 发明(设计)人: | 贺安之;阎大鹏;倪晓武 | 申请(专利权)人: | 华东工学院 |
| 主分类号: | 分类号: | ||
| 代理公司: | 南京理工大学专利中心 | 代理人: | 刘素梅;吴树山 |
| 地址: | 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 瞬态 高速 干涉 测试仪 | ||
1、一种利用光的干涉现象进行精密测试的仪器,特别是一种瞬态流场的高速、多幅干涉测试仪,它包括连续输出激光器、等厚型F-P干涉仪、高速记录装置,其特征是:
(1)在连续输出激光器与等厚型F-P干涉仪之间设有脉冲调制器;
(2)连续输出激光器、脉冲调制器、等厚型F-P干涉仪和高速记录装置依次串联;
(3)在进行三维测量时,采用三路相同光路的同步光学系统。
2、根据权利要求1所述的干涉测试仪,其特征是脉冲调制器的控制电源3是由程序控制信号发生电路、脉冲信号发生电路及脉冲高压放大电路串联而成。
3、根据权利要求1所述的干涉测试仪,其特征是高速记录装置,当采用声光调制点阵记录装置时,其为同步控制。
4、根据权利要求1所述的干涉测试仪,其特征是高速记录装置,当采用鼓轮转动式记录装置35、36、37时,其电机为变速电机。
5、根据权利要求1或3所述的干涉测试仪,其特征是等厚型F-P干涉仪的光路是分别在F-P后镜9、20、28与声光晶体12、23、31之间,各串接一个缩束系统10和11、21和22、29和30。
6、根据权利要求1或4所述的干涉测试仪,其特征是等厚型F-P干涉仪的光路是分别在F-P后镜9、20、28与鼓轮转动式记录装置35、36、37之间各加一个聚焦透镜10、21、29。
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